Способ градуировки шкалы длин волн спектрофотометров Советский патент 1990 года по МПК G01J3/12 

СП

с

О)

t

Из: )Йретение относнт.ся к области oriTifKH и может быть использовано-для градуировки шкалы длин воли оптических приборов, в частиости спектрофотометров .

Целью иэобретеиия является повышение точности градуировки шкалы для спектрофотометроя и обеспечение воз- можногти использования одного этало- Н1 для градуировки всех типов спектрофотометров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных областях спектра.

Возможность использования моНокриС таллических пластин неодимгаллиевого граната в качестве градуировочимх эталонов обусловлена особенностями спектрор поглоще .ня ионов неодима Nd в гранатовой матрице, в первую очередь наличием узких интенсивных линий поглощения в широком диапазоне длин волн от 0,25 до 8 мкм (4000С- 250 см-)

ГТ р им ер. Тонкую пла стину монокристалла Nd J , крепят в держателе, который устанавливают в отсеке для испытания образцов спектрофото- метров. Проводят регистрацию спектра пропускания градуиррвочного эталона Nd . В случае несоответствия между показаниями шкалы длин волн прибора и известным спектральным положением максимумов характеристических полос погпощения (минимумов пропускания) эталона NdjGayO,i добиваются путем поворота регулирово-iHoro

867 .2

винта на рычаге призмы (или решетки) совпадения индекса на шкяле длин волн прибора со- значением длин волн максимумов полос поглощения (миииму- йов пропускания) Nd,Ga,0,, . Проверку шкалы длин волн проводят по всему рабочему спектральному диапазону спектрофотометра.

0 Поскольку линии поглощения иона неодима имеют очень малую ширину и большую интенсивность, точность определения положения максимума характеристической линии поглощения воз5 растает в 4-10 раз,что соответственно увеличивает точность градуировки.

Формула изобретения

Способ градуировки шкалы длин волн спектрофотометров, заключающийся в том, что регистрируют спектр градуировочного эталона и устанавливают соответствие между спектральным положением характеристических линий поглощения эталона и показаниями шкалы длин волн спектрофототметра, о т- личающийся тем, что, с целью повьштения точности градуировки и обеспечения использования одного эталона для градуировки всех типов спектрофотометров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных областях, регистрируют спектр градуировочного эталона, выполненного в виде пластины монокристалла неодим-галлиевого граната Nd, GajO,,.

0

5

0

5

Изобретение относится к области оптики и может быть использовано для градуировки шкалы длин волн оптических приборов, в частности спектрофотометров. Целью изобретения является повышение точности градуировки и обеспечение использования одного эталона для градуировки всех типов спектрофотометров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных-областях. При градуировке шкалы длин волн в качестве эталона используется монокристалл Nd,Gaj-0,t Спектры поглощения ионов Nd в гранатовой матрице имеют узкие интеисивньте линии поглощения в широком диапазоне длин волн от 0,25 до 8 мкм. § (Л с