Способ сортировки образцов руды по содержанию в них определяемого элемента Советский патент 1988 года по МПК G01N23/223 

4

00 О

to

Изобретение относится к способу учета фоновой радиации при определении интенсивности вторичного излучения образцов, подвергающихся сортировке. Цель - поньшение точности и, надежности измерения содержания ценных минералов в поверхностном слое образца. Интенсивность фона и вторичного излучения (характеристического рентгеновского излучения элемента, входящего в определяемый минерал, или обратнорассёянного образцом первичного излучения) определяют из суммарных интенсивностей пика вторичного излучения и фона, измеренных в одной и той же области спектра вторичного излучения двумя каналами разной ширины. Отношение этих величин служит параметром, по которому определяют содержание ценного минерала в поверхностном слое образца. 2 3.п. ф-лы. 2 ил.

см

Изобретение относится к способам анализа состава вещества с помощью рентгеновского или гамма-излучения, особенно к способам сортировки руды рентгенор адиометрическим или гам- ма гамма-методом.

Цель изобретения - повьшение точности и надежности измерения содержания определяемого элемента в поверхностном слое образца.

На фиг. 1 изображена схема устройства, на котором может быть осуществлено изобретение; на фиг. 2 - схема выбора положений и ширин каналов регистрир ующего устройства.

Источник 1 гамма-излучения облучает образец 2 руды, свободно падающий мимо детектора 3, регистрирующего вторичные излучения от образца Детектором 3, помещенным в защитный экран 4, может быть, в частности, сцинтилляционный счетчик в спектрометрическом режиме, соединенный с двухканальной регистрирующей схемой (не показана). Спектр вторичного излучения при рентгенорадиометричес- кой сортировке содержит пик характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента,, входящего в. ценньш минерал, и непрерывно распределенное в этюй же области спектра фоновое излучение, образованное в основном комптоновским рассеянием первичного излучения. При сортировке образцов гамма-гамма-методом спектр вторичного излучения содержит пики обратно рассеянных образцов в первичных излучений и фоновое излучение.

На изображенной на фиг. 2 части спектра вторичного излучения показан выбор, положений и ширин каналов двухканальной регистрирующей схемы. Центры каналов совпадают между собою и с центром пика вторичного излучения, лежащего на подкладке фона Согласно изобретению первый (I) канал региструющей cxe№i вьщеляет суммарную интенсивность (Ьц) пика вто- ричйого излучения (пик вьщеляют целиком), например, характеристического рентгеновского излучения опреде- хшемого элемента и фон под ним. Второй канал (II) значительно большей ширины вьщеляют тот же пик вторич- ного излучения целиком и фоновое излучение большей интенсивности (ij)

Обозначим интенсивность характеристического рентгеновского излучени

14178022

как F, фонового излучения, регистрируемого первым каналом, как Т и регистрируемого вторым.каналом как КТ, где К 1 .

Тогда I г

I;

Т

КТ

(1)

(2)

Вычитая вьфажение (2) из выраже10

ния (1), получаем 1д-1 Т(К-1)

Интенсивность фоновой радиации Т описывается выражением

II-IT. (4)

15

Из выражений (1) и (2) получаем следующее выражение для интенсивности рентгеновской флуоресценции F

Р - Kicli К-1

(5)

20

Отношение интенсивностей F и Т

.

IS-IT

(6)

5

0

5

5

0

5

0

служит параметром, по которому определяют содержание определяемого элемента на поверхности анализируемого образп,а 2., По значению параметра F/T анализируемый образец сортируется как руда или как пустая порода в зависимости от того, превысил ли он заданный критерий сортировки или нет..Формула изобретения

f4je.f

tpue.2