Способ контроля точности обработки несферических поверхностей Советский патент 1961 года по МПК G01B11/24 G01B9/04 

Известны способы контроля точности обработки несферических поверхностей с применением автоколлимационной установки. Однако такие способы не обеспечивают возможность контроля качества несферических поверхностей.

В описываемом способе для определения характера и величины отклонения формы контролируемой поверхности измеряют разности сагиттальных и меридиональных фокусных расстояний отдельных элементов поверхности для сравнения их с расчетными данными.

На чертеже изображена схема установки для осуществления предлагаемого способа.

Способ контроля точности обработки несферических поверхностей состоит в том, что пучок лучей от источника 7 света направляют через конденсатор 2 и отверстие 3 в зеркале 4, служащее диафрагмой, в объектив 5, задний фокус которого совпадает с отверстием 3. Параллельный пучок лучей направляют с помощью зеркала 6 на контролируемый элемент 7 несферической поверхности 8, а отраженные пучки собираются в главных меридиональном и сагиттальном фокусах элемента 7. Затем перемещают микроскоп 9 вдоль оси 10 рращен«я поверхности 8 до тех пор, пока передний фокус // объектива 5 последовательно не совместится с сагиттальным и меридиональным фокусами элемента 7. Тогда отраженный от элемента 7 пучок срета проходит через объектив 5, отражается от зеркал 4 ц 12 и собирается в фокусе 13 объектива М, где его наблюдают с помощью окуляра 15.

Разность сагиттального и меридионального фокусных расстояний определяют при помощи щкалы, на которой отмечают положение микроскопа 9 при совпадении фокуса 11 объектива 5 с фокусами элемента 7. Перемещением зеркала 6 вдоль оси 10 и поворотом его относительна оси 16, перпендикулярной оси 10, направляют пучки света на другие участки поверхности 8, производят определения фокусных расстояний для этих участков, после чего строят графики, сопоставляют iqiH