Устройство для контроля толщины пленок в процессе нанесения Советский патент 1989 года по МПК G01B11/06 

Описание патента на изобретение SU1467387A1

г

.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в микроэлектронике для контроля толщины пленок, преимущественно сублимируемых вакуумных резистов в процессе их нанесения в непрерывном вакуумном цикле.

Цель изобретения - повышение про изводительности и точности контроля пленок сублимируемых вакуумных резистов за счет исключения неконтролруемых периодов времени, необходимы для перемещения свидетеля, а также исключения систематических ошибок, возникающих за счет неконтролируемого роста пленки резиста под диафрагмой.

На чертеже изображена принципиалная схема устройства для контроля , толщины пленок в процессе нанесения

Устройство содержит источник 1 света, например гелий-неоновый лазе свидетель 2, фотоприемник 3 регистрции отраженного от свидетеля 2 излу чения, регистрирующий блок 4 интерференционных экстремумов, блок 5 импульсного нагрева, нагревательный элемент 6, На свидетель 2 одновременно с подложками напыляется пленка вакуумного резиста 7,

Устройство работает следующим образом.

Излучение от источника света направляется на свидетель 2. Отражен- ное от свидетеля 2 излучение направляется на фотоприемник 3 и преобразуется в электрический сигнал , который поступает на блок 4 регистрации интерференционных экстремумов. При достижении пленкой толщины, равной заданному значению, блоком 4 регистрации вьщаются одновременно сигнал разрешения нагрева на управляющий вход блока 5 импульсного нагрева и сигнал на смену подложки. С блока 5 импульсного нагрева выдается импульс тока, разогревающий нагревательный элемент 6. Свидетель 2, находящийся в контакте с нагревательным элементом б нагревается до температуры сублимации нанесенной пленки резиста 7 и охлаждается вследствие нагрева пленки резиста со свидетеля 2,

10

25

, ™их15 ь20.

, 35

30

испаряется и полностью удаляется, возвращая тем самым свидетель 2 к исходному состоянию. Нагрев импульсами тока 5-10 А обеспечивает удаление резиста 7 со свидетеля 2 в течение 20-30 с, так как температура их сублимации не превьтает 100-1 , После нагрева свидетель 2 охлаждается к началу нового цикла напьшения.

С целью снижения инерционности теплоемкости -нагревательного элемента 6 он может быть выполнен в виде тонкой металлической пленки с удельным поверхностным сопротивлением 10- 1000 м/а, нанесенной на свидетель 2 из диэлектрической подложки. В качестве такой пленки могут быть использованы проводниковые структуры VA1, V-Cu-Ni, нихром, а также про з- рачно-проводящие пленки окислов индия-олова.

В случае, когда направление излучения непосредственно от источника 1 на свидетель 2 связано с техническими трудностями, устройство может быть дополнено волоконно-оптическим световодом (не показан), связьшающим источник 1 излучения со свидетелем 2 Кроме того, в качестве свидетеля 2 в таком варианте устройств а может быть использован выходной торец световода и там же сформирован нагреватель- .ный элемент в виде прозрачной проводящей пленки окислов индия-олова.

Формула изобретения

Устройство для контроля толщины пленок в процессе нанесения, содержащее свидетель, предназначенный для нанесения на него пленок, источник света для направления излучения на свидетель, фотоприемник и регистрирующий блок, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности и точности контроля пленок сублимируемых вакуумных резистов, оно снабжено нагревательным элементом, контактирующим со свидетелем, и блоком импульсного нагрева, вход которого соединен с выходом регист- рируюр(его блока, а выход - с наг.ре- вательным элементом.

Похожие патенты SU1467387A1

название год авторы номер документа
ЗЕРКАЛО ЗАДНЕГО ВИДА ДЛЯ ТРАНСПОРТНОГО СРЕДСТВА И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ 1993
  • Кабешов В.Т.
  • Рогозин Б.И.
RU2043222C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ЖИДКОГО АНАЛИТА 2019
  • Вонти Анна Олеговна
  • Ильинский Александр Валентинович
  • Шадрин Евгений Борисович
RU2702519C1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ толщины тонких ПЛЕНОК 1970
SU266223A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ЖИДКОГО АНАЛИТА 2016
  • Сидоров Александр Иванович
  • Ильинский Александр Валентинович
  • Шадрин Евгений Борисович
RU2626299C1
Устройство для контроля толщины пленок 1980
  • Орлов Михаил Александрович
  • Беляковский Владимир Александрович
  • Сергеев Валерий Иванович
  • Савчук Александр Прокофьевич
SU1147769A1
Устройство для контроля толщины тонких пленок,наносимых на подложку 1982
  • Фазылзянов Рашид Хакимович
  • Исхаков Ильдар Хайдарович
  • Гайнутдинов Ильдус Саляхович
SU1026004A1
УСТРОЙСТВО ФОТОМЕТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ, НАПЫЛЯЕМЫХ В ВАКУУМЕ 1972
  • А. Н. Гаврилов, В. Н. Волков, В. М. Гудков, В. А. Бессольцев
  • В. С. Борисов
  • Московский Авиационный Институт С. Орджоникидзе
SU340883A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК МНОГОСЛОЙНОГО ОПТИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ В ПРОЦЕССЕ ЕГО НАНЕСЕНИЯ ОСАЖДЕНИЕМ В ВАКУУМНОЙ КАМЕРЕ 1991
  • Александров О.В.
  • Кацнельсон Л.Б.
RU2025657C1
Бесконтактный способ измерения толщины нефтяной пленки на поверхности водоемов 1982
  • Шевелева Тамара Юлиановна
  • Якименко Владимир Иванович
  • Прянишников Владимир Алексеевич
SU1059419A1
УСТРОЙСТВО БЕСКОНТАКТНОГО ШИРОКОПОЛОСНОГО ОПТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК 2014
  • Савчук Екатерина Валерьевна
  • Полушкин Валерий Геннадиевич
  • Тихонравов Александр Владимирович
  • Козлов Иван Викторович
  • Шарапова Светлана Анатольевна
RU2581734C1

Реферат патента 1989 года Устройство для контроля толщины пленок в процессе нанесения

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повьпиение производительности и точности контроля пленок сублимируемых вакуумных резистов за счет исключения неконтролируемых периодов времени, необходимых для перемещения свидетеля, и исключения систематических ошибок, возникающих за счет неконтролируемого роста пленки ре- зиста под диафрагмой. Излучение от/ источника 1 света направляется на 1 свидетель 2. Отраженное от свидетеля 2 излучение направляется на фотоприемник 3 и преобразуется в электрический сигнал, который поступает на блок 4 регистрации интерференционных экстремумов. При достижении пленкой толщины, равной заданному значению, блоком 4 регистрации выдаются одновременно сигнал разрешения нагрева на управляющий вход блока 5 импульсного нагрева и сигнал на смену подложек. С блока 5 импульсного нагрева вьщается импульс тока, разогревающий нагревательный элемент 6. Свидетель 2, находящийся в контакте .с нагревательным элементом 6, нагревается до температуры сублимации нанесенной пленки резиста и охлаждает- л ся. Вследствие нагрева пленка резне- та со свидетеля 2 испаряется и пол- Си ностью удаляется, возвращая тем са- мым свидетель 2 к исходному состоянию . 1 иЛ. с в / 2 4 О) -4 оэ 00

Формула изобретения SU 1 467 387 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1989 года SU1467387A1

Способ контроля толщины диэлектрической пленки в процессе напыления ее на свидетель 1983
  • Готра Зенон Юрьевич
  • Лозинский Юрий Теодорович
  • Хромяк Иосиф Яковлевич
SU1099098A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 467 387 A1

Авторы

Акашкин Александр Сергеевич

Ветошкин Владимир Михайлович

Приходько Василий Анатольевич

Даты

1989-03-23Публикация

1986-07-01Подача