Асимметрично отражающий монохроматор Советский патент 1989 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU1469403A1

1

Изобретение относится к рентгеновским монохроматорам и может быть применено в оптических устройствах, используюпшх рентгеновские лучи.

Цель изобретения - получение пучка с различной -асимметричностью отражения вдоль его сечения.

На чертеже изображен асимметрично отражающий монохроматор.

На чертеже обозначены отражающая атомная плоскость 1 монохромато- ра, отражающая поверхность 2 моно- хроматора, падающий лентообразньй пучок 3, линейная образующая. 4 одно- полостного гиперболоида, отраженный пучок 5, основания 6 монохроматора, линия 7 пересечения плоскости, перпендикулярной к отражающей плоскости 1 и проходящей через мнимую ось гиперболоида, с отражающей поверхностью 2, О - точка пересечения линий 4 и 7 на отражающей поверхности.

Монохроматор работает следующим образом.

Асимметрично отражающий монохроматор своим нижним основанием 6 закрепляется на горизонтальном столике гониометрической головки. Поворотом монохроматора вокруг вертикальной оси, проходящей через точку О, монохроматор приводится в положение брэгговского отражения таким образом, чтобы точки отражения лежали на линии 7. Затем вращением монохроматора вокруг горизонтальной оси, проходящей через точку .0 и перпендикулярной плоскости 1, достигается совпадение точек отражения с образующей 4.

В точке О отражение симметричное: 5 1. где у- параметр асимметричности отражения. Для верхних точек отражение асимметричное (71) и по мере удаления от точки О -у возраста(Л

с

05 С 4

СО

ет. Для нижних точек , но по мере удаления от точки О уменьшается. Отраженный пучок 5 остается вертикальным, представляя собой набор пучков с разными степенями коллимации и сечениями. Причем снизу вверх угловая расходимость увеличивается, а сечение уменьшается.

Конкретным примером асимметрично отражающего монохроматора может служить германиевьй монохроматор с отражающими атомными плоскостями (110) в котором угол между линейной образующей и мнимой осью в отражающей плоскости равен 45 , а действительные полуоси одинаковы и равны 2,5 мм.

Опыт проводился с излучением СоК( при отражении (440). Угол Брэгга при симметричном отражении равен ,43.

Сечение падающего лентообразного пучка 3 SB 0,50 мм, расстояние между точкой О асимметрично отражающего монохроматора и рентгеновской пленкой, поставленной перпендикулярно к отраженному пучку 5, равно 20 мм.

В таблице приведены значения сечений SL. измеренные на рентгено- зависимости от смещения

Ь грамме, в

Z р от центральной ( г 1, точки.

Ч

Sc)

Формула изобретения

Асимметрично отражающий монохроматор, содержащий монокристалл, в котором отражающие плоскости расположены под углом к входной поверхности, отличающийся тем, что, с целью одновременного получения не- прерьшного набора пучков с различной асимметричностью отражения каждого пучка, входная поверхность монокристалла выполнена в форме однопо- лостного гиперболоида.

Похожие патенты SU1469403A1

название год авторы номер документа
Коллимирующий монохроматор рентгеновского излучения 1980
  • Чуховский Феликс Николаевич
  • Суходольский Владимир Васильевич
  • Гильварг Александр Борисович
  • Габриелян Карен Терханович
  • Петрашень Павел Васильевич
SU873281A1
СПОСОБ ФАЗОВОЙ РЕНТГЕНОГРАФИИ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Ингал Виктор Натанович
  • Беляевская Елена Анатольевна
  • Бушуев Владимир Алексеевич
RU2115943C1
Монохроматор рентгеновского излучения 1977
  • Ростомян Арманд Гайкович
  • Безирганян Петрос Акопович
SU714506A1
Фокусирующий монохроматор рентгеновского излучения 1977
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Дрмеян Генрик Рубенович
SU737992A1
Рентгеновский спектрометр 1980
  • Петряев Владимир Васильевич
  • Скупов Владимир Дмитриевич
SU920480A1
Способ определения структурных характеристик тонких приповерхностных слоев монокристаллов 1983
  • Александров Петр Анатольевич
  • Афанасьев Александр Михайлович
  • Головин Андрей Леонидович
  • Имамов Рафик Мамед Оглы
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Степанов Сергей Александрович
  • Шилин Юрий Николаевич
SU1103126A1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ ОБЪЕКТА 1991
  • Ингал Виктор Натанович
  • Беляевская Елена Анатольевна
  • Ефанов Валерий Павлович
RU2012872C1
Способ определения локальных и средних рентгенооптических характеристик монокристаллов 1981
  • Коган Михаил Тевелевич
  • Шехтман Виктор Михайлович
SU1057823A1
РЕНТГЕНОДИФРАКЦИОННАЯ УСТАНОВКА И СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ 2008
  • Торая Хидео
RU2449262C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СТЕНОК ДЕТАЛЕЙ 1998
  • Парнасов В.С.
  • Маклашевский В.Я.
RU2158900C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 469 403 A1

Реферат патента 1989 года Асимметрично отражающий монохроматор

Изобретение относится к рентгеновским монохроматорам и может применяться в оптике рентгеновских лучей. Целью изобретения является од- новр.еменное получение набора пучков с различной угловой расходимостью каждого пучка. Асимметрично отражающий монохроматор содержит монокристалл, в котором отражающие плоскости расположены под углом к входной поверхности. Входная поверхность монокристалла выполнена в форме однопо- лостного гиперболоида, 1 шт. 1 табл.

Формула изобретения SU 1 469 403 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1989 года SU1469403A1

Пинскер З.Г
Рентгеновская кристаллооптика
Устройство для видения на расстоянии 1915
  • Горин Е.Е.
SU1982A1
Стеклографический печатный станок с ножной педалью 1922
  • Левенц М.А.
SU236A1
Монохроматор рентгеновского излучения 1977
  • Ростомян Арманд Гайкович
  • Безирганян Петрос Акопович
SU714506A1
Выбрасывающий ячеистый аппарат для рядовых сеялок 1922
  • Лапинский(-Ая Б.
  • Лапинский(-Ая Ю.
SU21A1

SU 1 469 403 A1

Авторы

Ростомян Арманд Гайкович

Нариманян Самвед Меружанович

Месропян Месроп Айроевич

Григорян Аветик Мартунович

Даты

1989-03-30Публикация

1987-07-17Подача