СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКОГО КОЭФФИЦИЕНТА ПОГЛОЩЕНИЯ МАТЕРИАЛА Советский патент 2000 года по МПК G01N21/39 

Способ измерения оптического коэффициента поглощения материала, включающий последовательное облучение исследуемого участка материала пучками оптического излучения с рабочей λ_p и калибровочной λ_к длинами волн, промодулированными по амплитуде с одинаковой частотой, и измерение на этих длинах волн величин мощности P₁ и P₂ падающего излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения класса исследуемых материалов и диапазона длин волн рабочего излучения и повышения точности, при облучении последовательно регистрируют сигналы U₁ и U₂, пропорциональные амплитудам тепловых волн, возбуждаемых в материале пучками оптического излучения с длинами волн λ_p и λ_к, при этом значение λ_к выбирают из условия полного поглощения в материале вошедшей в него части излучения с длиной волны λ_к и при облучении исследуемого участка материала пучком оптического излучения с длиной волны λ_к дополнительно регистрируют мощность P₂₀ части этого излучения, отраженной от поверхности материала, а величину оптического коэффициента поглощения K рассчитывают по формуле