Способ определения параметров феррит-гранатовых пленок Советский патент 1989 года по МПК G01R33/04 

физ.2

3I50

Изобретение относится к магнитометрии, в частности к магнитооптическим измерениям, и может быть использовано для разработки магнитооптичес- ких устройств, элементной базой которых являются магнитные феррит-гранатовые пленки с произвольной ориентацией оси легкого намагничивания (ОЛН).

Цель изобретения - измерение углов отклонения ОЛН от плоскости пленки в диапазоне 0-35.

На фиг.1 изображена форма петли гистерезиса, получаемой в случае от- клонения ОЛН от плоскости образца; на фиг.2 - функциональная схема устройства для реализации способа.

Угол об отклонения ОЛН от плоскости пленки вычисляют по соотношению уча-

стков кривой перемагничивания по формуле

. , 0 ,

оС arcsinC-),

Ч макс

где Ц) - угол фарадеевского вращения в точке излома кривой перемагничивания в полях, близ- ких к нулю;

угол фарадеевского вращения

при насыщении пленки в пер- пендикулярном поле. Устройство .представляет собой автоматический магнитополяриметр и состоит из лазера 1, поляризатора 2, ячейки 3 Фарадея, магнитооптического компенсатора 4 поворота плоскости поляризации (ячейки Фарадея), образца 5, магнитной системы 6, анализатора 7, фотоприемника 8, через усилитель 9 и синхронный детектор 10 соединен- ного с усилителем 11 постоянного тока, блока 12 питания, генератора 13 звуковой частоты, образцовых резисторов 14, 15 и графопостроителя 16,

Устройство работает следующим об- разом.

Луч лазера I, проходя через поляризатор 2, попадает на магнитооптический модулятор света (ячейку Фарадея) 3, который питается от генерато ра 13 звуковой частоты . Азимут плоскости поляризации выходящего из модулятора света изменяется по синусоидальному закону. Далее |Свет проходит через магнитооптический ком- пенсатор , поворота плоскости поляризации, (ячейку Фарадея), образец 5, находящийсяв магнитной системе 6, анализатор 7 и фотоприемник 8. Оси

пропускания анализатора и поляризатора сориентированы под углом 90° одна к другой, поэтому при отсутствии вращения плоскости поляризации образцом на фотоприемнике отсутствует сигнал частоты f. С помощью блока 12 питания магнитной системы к образцу прикладывается линейно-изменяющееся магнитное поле в заданном диапазоне. При перемагничивании образца происходит вращение плоскости поляризации света, которое приводит к появлению на фотоприемнике сигнала частоты f, амплитуда и фаза которого пропорциональны величине и знаку соответственно фарадеевского вращения. Сигнал частоты f проходит далее через селективньй усилитель 9, синхронный детектор 10. Вькод синхронного детектора соединен с входом усилителя 11 постоянного тока, нагрузкой которого является соленоид компенсатора 4. Компенсатор 4 создает в системе вращение плоскости поляризации, обратное по знаку и равное по величине фара- деевскому вращению образца. Таким рб- разом, измеряя ток компенсатора мы можем определить угол фарадеевского вращения с высокой точностью (до 1%) Образцовые резисторы 14 и J5 включены последовательно соответственно с компенсатором 4 и магнитной системой 6. Подавая на ось Y графопостроителя 16 напряжение с резистора J.4, а на ось X - с резистора 15, получаем зависимость угла фарадеевского вращения СР от величины нормального к поверхности образца поля - магнитооптическую петлю гистерезиса.

Формула изобретения

Способ определения параметров феррит-гранатовых пленок, включающий пропускание перпендикулярно поверхности пленки линейно-поляризованно- го света, воздействие на нее линейно изменяющимся магнитным полем.перпендикулярно поверхности пленки, регистрацию зависимости величинЬ угла фарадеевского вращения от величины магнитного поля, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа путем измерения угла наклона оси легкого намагничивания к плоскости пленки в диапазоне от 0-35°,

лчакс

И ОПизмеряют величину угла фарадеевскогого фарадеевского вращенияCf

вращения на границе двух участковределяют угол а наклона оси лёгкого

различного наклона кривой намагничи-намагничивания по формуле

вания сро , измеряют угол максимально-,., о

oi arcsin

Ч макс

лчакс

И ОП., о

oi arcsin

Ч макс

Изобретение относится к магнитометрии , в частности, к магнитооптическим измерениям. Цель - измерение углов отклонения оси легкого намагничивания (ОЛН) от плоскости пленки в диапазоне 0-35°. Устройство, реализующее способ, содержит лазер 1, поляризатор 2, ячейку 3 Фарадея, магнитооптический компенсатор 4 поворота плоскости поляризации, образец 5, магнитную систему 6, анализатор 7, фотоприемник 8, усилитель 9, синхронный детектор 10, усилитель 11 постоянного тока, блок 12 питания, генератор 13 звуковой частоты, образцовые резисторы 14, 15, графопостроитель 16. Способ заключается в том, что путем измерения угла наклона ОЛН к плоскости пленки в диапазоне от 0 до 35° измеряют величину угла фарадеевского вращения на границе двух участков различного наклона кривой намагничивания φ₀ , измеряют угол максимального фарадеевского вращения φ_макс и определяют угол α наклона ОЛН по формуле Α = ARCSINφ₀/φ_MAKC. 2 ил.

Редактор М.Келемеш

Составитель А.Романов

Техред М.Ходанич .Корректор М.Самборская

Заказ 5538/49

Тираж 714

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат Патент, г.Ужгород, ул. Гагарина,101

Г 00 Н,.А

м

Подписное