Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа монокристаллов, а именно к микрофокусным аппаратам для исследований псев- докосселевским методом.
Цель изобретения - повышение точности и упрощение расшифровки рент- генограмм.
На чертеже показана .часть микро- фокусного аппарата, в которой формируется псевдокосселевская дифракционная картина от исследуемого монокристалла „
Микрофокусный аппарат для рентге- ноструктурных исследований монокристаллов псевдокосселевским методом содержит кристаллодержатель 1, позволяющий устанавливать исследуемый кристалл 2 его рабочей поверхностью пер- пендикулярно к оси вынесенного анода 3 рентгеновской трубки Магнитная линза 4 расположена между кристалло- держателем 1 и фотокассетой 5 с рентгеновской пленкой 6 о Конструкция фо- токассеты 5 обеспечивает плотный прижим рентгеновской пленки 6 к задней торцовой поверхности 7 магнитопровода 8 магнитной линзы .4. Конфигурация и размеры внутреннего канала 9 магнито- провода 8 обеспечивают свободное прохождение дифрагированных назад кристаллом 2 лучей на рентгеновскую пленку 6 о Ось внутреннего канала 9 магнитопровода 8 является осью магнитной линзы 4 о Окружность пересечения поверхности внутреннего канала 9 магнитопровода 8 с его задней торцовой поверхностью 7 одновременно является входным окном, ограничивающим поле засветки рентгеновской пленки 6.
Микрофокусный аппарат работает следующим образом.
В процессе экспонирования рентгеновской пленки 6 на ней формируется четкое теневое изобргикение окружности на выходе внутреннего канала 9 магнитопровода 8 о Это изображение формируется в диффузно рассеянном исследуемым кристаллом 2 излучении„Центр
полученного на рентгеновской пленке 6 изображения окружности является точкой пересечения оси магнитной линзы 4 с плоскостью рентгеновской пленки 6. Отъюстированная аксиально-симметричная магнитная линза 4 фокусирует электронный пучок на своей оси. Поскольку ось магнитной линзы 4 перпендикулярна торцовой поверхности 7 магнитопровода 8, к которой прижата рентгеновская пленка 6, то центр указанной окружности является проекцией фокуса на плоскость рентгеновской пленки 6„ Таким образом, для нахождения на рентгеновской пленке 6 центра рентгенограммы достаточно по трем точкам на изображении окружности, например по обрывам дифракционных линий, геометрическим построением найти центр указанной окружности Дпя этой же цели можно использовать и соответствующий шаблон.
Формула изобретения
Микрофокусньй аппарат для рентге- ноструктурных исследований монокристаллов псевдокосселевским методом, содержащий рентгеновскую трубку с протяженным вьшесенным анодом про- стрельного типа, охватьтающую вынесенный анод магнитную линзу с имеющим внутренний канал магнитопрово- дом для фокусировки электронного пучка на аноде, кристаллодержатель и фотокассету с рентгеновской пленкой, расположенную в геометрии обратной съемки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и управления расшифровки рентгенограмм магнитная линза расположена между кристаллодержателем н фотокассетой, выполненной с возможностью прижатия рентгеновской пленки к задней торцовой поверхности магнитопровода магнитной линзы, расположенной перпендикулярно к оси магнитной линзы, причем внутренний канал магнитопровода выполнен конически расширяющимся в направлении к фотокассете.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
РЕНТГЕНОВСКАЯ КАМЕРА | 1972 |
|
SU325730A1 |
Способ рентгеноструктурного анализа поверхности изделий | 1989 |
|
SU1793343A1 |
Рентгеновская приставка к электронному микроскопу | 1972 |
|
SU442399A1 |
Способ контроля распределения структурных неоднородностей в объеме монокристалла и установка для его осуществления | 1986 |
|
SU1389435A1 |
Устройство для получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов | 1981 |
|
SU998928A2 |
Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов на отражение | 1983 |
|
SU1138717A1 |
Способ рентгеноструктурного анализа | 1980 |
|
SU881591A1 |
Способ контроля распределения структурных неоднородностей по площади монокристалла и устройство для его осуществления | 1984 |
|
SU1225358A1 |
Держатель для рентгенографирования крупнозернистых образцов | 1991 |
|
SU1798670A1 |
Способ рентгенографического определения размеров кристаллитов | 1986 |
|
SU1318873A1 |
Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу монокристаллов, а более конкретно - к микрофокусным аппаратам для исследований псевдокосселевским методом. Цель изобретения - повышение точности и упрощение расшифровки рентгенограмм. Для этого магнитная линза 4 расположена между кристаллодержателем 1 и фотокассетой 5, выполненной с возможностью прижатия рентгеновской пленки 6 и задней торцовой поверхности магнитопровода 8. Внутренний канал 9 магнитопровода 8 обеспечивает свободное прохождение дифрагированного исследуемым кристаллом 2 излучения к рентгеновской пленке 6. 1 ил.
Уманский Я.С | |||
и др | |||
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия, - М.: Машиностроение, 1982, с.235-239, 377-379, Микрофокусньш рентгеновский аппарат JMX-8H | |||
Проспект фирмы JEOL | |||
Япо- | |||
ния. |
Авторы
Даты
1989-10-23—Публикация
1988-04-26—Подача