Микрофокусный аппарат для рентгеноструктурных исследований Советский патент 1989 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU1516919A1

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа монокристаллов, а именно к микрофокусным аппаратам для исследований псев- докосселевским методом.

Цель изобретения - повышение точности и упрощение расшифровки рент- генограмм.

На чертеже показана .часть микро- фокусного аппарата, в которой формируется псевдокосселевская дифракционная картина от исследуемого монокристалла „

Микрофокусный аппарат для рентге- ноструктурных исследований монокристаллов псевдокосселевским методом содержит кристаллодержатель 1, позволяющий устанавливать исследуемый кристалл 2 его рабочей поверхностью пер- пендикулярно к оси вынесенного анода 3 рентгеновской трубки Магнитная линза 4 расположена между кристалло- держателем 1 и фотокассетой 5 с рентгеновской пленкой 6 о Конструкция фо- токассеты 5 обеспечивает плотный прижим рентгеновской пленки 6 к задней торцовой поверхности 7 магнитопровода 8 магнитной линзы .4. Конфигурация и размеры внутреннего канала 9 магнито- провода 8 обеспечивают свободное прохождение дифрагированных назад кристаллом 2 лучей на рентгеновскую пленку 6 о Ось внутреннего канала 9 магнитопровода 8 является осью магнитной линзы 4 о Окружность пересечения поверхности внутреннего канала 9 магнитопровода 8 с его задней торцовой поверхностью 7 одновременно является входным окном, ограничивающим поле засветки рентгеновской пленки 6.

Микрофокусный аппарат работает следующим образом.

В процессе экспонирования рентгеновской пленки 6 на ней формируется четкое теневое изобргикение окружности на выходе внутреннего канала 9 магнитопровода 8 о Это изображение формируется в диффузно рассеянном исследуемым кристаллом 2 излучении„Центр

полученного на рентгеновской пленке 6 изображения окружности является точкой пересечения оси магнитной линзы 4 с плоскостью рентгеновской пленки 6. Отъюстированная аксиально-симметричная магнитная линза 4 фокусирует электронный пучок на своей оси. Поскольку ось магнитной линзы 4 перпендикулярна торцовой поверхности 7 магнитопровода 8, к которой прижата рентгеновская пленка 6, то центр указанной окружности является проекцией фокуса на плоскость рентгеновской пленки 6„ Таким образом, для нахождения на рентгеновской пленке 6 центра рентгенограммы достаточно по трем точкам на изображении окружности, например по обрывам дифракционных линий, геометрическим построением найти центр указанной окружности Дпя этой же цели можно использовать и соответствующий шаблон.

Формула изобретения

Микрофокусньй аппарат для рентге- ноструктурных исследований монокристаллов псевдокосселевским методом, содержащий рентгеновскую трубку с протяженным вьшесенным анодом про- стрельного типа, охватьтающую вынесенный анод магнитную линзу с имеющим внутренний канал магнитопрово- дом для фокусировки электронного пучка на аноде, кристаллодержатель и фотокассету с рентгеновской пленкой, расположенную в геометрии обратной съемки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и управления расшифровки рентгенограмм магнитная линза расположена между кристаллодержателем н фотокассетой, выполненной с возможностью прижатия рентгеновской пленки к задней торцовой поверхности магнитопровода магнитной линзы, расположенной перпендикулярно к оси магнитной линзы, причем внутренний канал магнитопровода выполнен конически расширяющимся в направлении к фотокассете.

Похожие патенты SU1516919A1

название год авторы номер документа
РЕНТГЕНОВСКАЯ КАМЕРА 1972
SU325730A1
Способ рентгеноструктурного анализа поверхности изделий 1989
  • Кошелев Вячеслав Евгеньевич
  • Посысаева Людмила Владимировна
SU1793343A1
Рентгеновская приставка к электронному микроскопу 1972
  • Рожанский Владимир Николаевич
  • Барзилович Петр Павлович
  • Баталин Виктор Павлович
  • Капличный Вилен Николаевич
  • Климовицкий Анатолий Миронович
  • Лидер Валентин Викторович
  • Мартыненко Анна Николаевна
SU442399A1
Способ контроля распределения структурных неоднородностей в объеме монокристалла и установка для его осуществления 1986
  • Мингазин Т.А.
  • Бондарец Н.В.
  • Зеленов В.И.
  • Лейкин В.Н.
SU1389435A1
Устройство для получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов 1981
  • Ведерников Юрий Николаевич
  • Гаврилова Людмила Леонидовна
  • Мотора Нина Семеновна
  • Смирнова Зинаида Федоровна
  • Соловьева Елена Васильевна
  • Мясников Юрий Гелларьевич
  • Есин Владимир Олегович
  • Гундырев Вячеслав Михайлович
SU998928A2
Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов на отражение 1983
  • Чернов Михаил Александрович
  • Петрашень Павел Васильевич
  • Левчук Богдан Иосифович
  • Комяк Николай Иванович
  • Дорожкин Сергей Иванович
  • Гусев Константин Александрович
SU1138717A1
Способ рентгеноструктурного анализа 1980
  • Большаков Петр Петрович
  • Иванов Сергей Александрович
  • Кокко Аркадий Петрович
  • Минина Людмила Викторовна
  • Мясников Юрий Гиларьевич
  • Горбачева Нина Алексеевна
SU881591A1
Способ контроля распределения структурных неоднородностей по площади монокристалла и устройство для его осуществления 1984
  • Мингазин Т.А.
  • Бондарец Н.В.
  • Зеленов В.И.
  • Лейкин В.Н.
SU1225358A1
Держатель для рентгенографирования крупнозернистых образцов 1991
  • Бурдина Валентина Сергеевна
SU1798670A1
Способ рентгенографического определения размеров кристаллитов 1986
  • Беликов Алексей Митрофанович
  • Алейникова Ксения Борисовна
  • Кудашов Олег Георгиевич
  • Шеменева Алина Леонидовна
  • Работкина Надежда Сергеевна
SU1318873A1

Реферат патента 1989 года Микрофокусный аппарат для рентгеноструктурных исследований

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу монокристаллов, а более конкретно - к микрофокусным аппаратам для исследований псевдокосселевским методом. Цель изобретения - повышение точности и упрощение расшифровки рентгенограмм. Для этого магнитная линза 4 расположена между кристаллодержателем 1 и фотокассетой 5, выполненной с возможностью прижатия рентгеновской пленки 6 и задней торцовой поверхности магнитопровода 8. Внутренний канал 9 магнитопровода 8 обеспечивает свободное прохождение дифрагированного исследуемым кристаллом 2 излучения к рентгеновской пленке 6. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 516 919 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1989 года SU1516919A1

Уманский Я.С
и др
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия, - М.: Машиностроение, 1982, с.235-239, 377-379, Микрофокусньш рентгеновский аппарат JMX-8H
Проспект фирмы JEOL
Япо-
ния.

SU 1 516 919 A1

Авторы

Коган Михаил Рувимович

Гущин Валерий Александрович

Шехтман Вениамин Шоломович

Солодкина Татьяна Михайловна

Аристов Виталий Васильевич

Шулаков Евгений Владимирович

Даты

1989-10-23Публикация

1988-04-26Подача