Устройство для температурных испытаний изделий электронной техники Советский патент 1989 года по МПК H05K13/00 G01M19/00 

(Л

II

Изобретение относится к производству изделий электронной техники и может быть использовано для проведег НИН температурных испытаний полупроводниковых приборов, а также других изделий на термоциклирование, термо- удар или другое периодическое воздействие тепла и холода,

Цель изобретения - расширение эксплуатационных возможностей и повышение производительности испытаний.

На фиг, 1 изображена схема устройства; на фиг, 2 и 3 - примеры исполь- зования. устройства; на фиг. iA-разрез А-А на фиг, 2,

Устройство содержит термоизолированный корпус 1 с рабочей камерой 2, в которой размещен каркас 3 для испытуемых изделий 4, и с двумя дополнительными рабочими камерами 5 и 6, в которых установлены диаметральные вентиляторы 7 и 8, источники 9 и 10 тепла (нагреватели), источники 11 и 12 холода (азотопроводы), Датчики 13-18 температуры установлены в камерах 2, 5 и 6, В рабочих камерах 5 и 6 установлены перегородки J7 и 18, которые образуют нагнетательные 19 и 20 и всасывающие 21 я 22 каналы вентиляторов 7 и 8, В камерах 5 и 6 могут быть установлены съемные элементы 23 и 24 в виде бруса из термостойког пенопласта или коробчатой листовой конструкция. Камерь; 5 и 6 соединены с камерой 2 }(аналами, в которых установлены поворотные заслонки 25-28, Между каркасом 3 и стенками камеры 2 имеются каналы 29 и 30, В каналах J9 и 20 камер 5 и 6 установлены жалюзи 31 и 32,

Камеры 3 и 6 имеют крышки 33 и 34 и держатели 35 изделий 4.

Устройство используется следующим образом.

,

0

При проведении испытаний в камере 2 изделия 4 размещают в каркасе 3, открывают заслонки 25 и 26 и закрывают заслонки 27 и 28, а в камеру 5 помещают элемент 23, При работе вентилятора 7 создается циркулирующий воздушный поток, воздействующий на испытуемые изделия, При этом в камере 6 могут быть размещены изделия 4 для проведения другого вида испытаний (фиг, 2), Возможно также использование одновременно двух камер 5 и 6 для проведения различных видов испытаний. При этом заслонки 25-28 закрыты и камера 2 не используется (фиг, 3),

Возможность использования рабочих камер в различных сочетаниях позволяет повысить производительность испытаний и расширяет эксплуатационные возможности устройства.

Формула изобретения

Устройство для температурных испытаний изделий электронной техники, содержащее термоизолированный корпус с рабочей камерой, в котором размещены два вентилятора, соединенные каналами с рабочей камерой, источник тепла, холода и поворотные заслонки, установленные в каналах корпуса, отличающееся тем, что, с целью расширения эксплуатационных возможностей и повышения производительности испытаний, оно снабжено, двумя дополнительными рабочими камерами с перегородками и дополнительными источником холода и. источником тепла, причем вентилятор, источник холода, источник тепла установлены в каждой из дополнительных рабочих камер, а перегородки дополнительных рабочих камер установлены с образованием нагнетательного i; всасывающего каналов вентиляторов.

17

Изобретение относится к производству изделий электронной техники и может быть использовано для проведения температурных испытаний на термоциклирование, термоудар или другое периодическое воздействие тепла и холода. Цель изобретения - расширение эксплуатационных возможностей и повышение производительности испытаний. Устройство содержит рабочие камеры (РК) 2, 5 и 6, соединенные каналами, в которых установлены заслонки 25-28. В РК 5 и 6 установлены вентиляторы 7 и 8, источники 9 и 10 тепла, источники 11 и 12 холода и перегородки 17 и 18, которые образуют нагнетательные каналы 19 и 20 и всасывающие каналы 21 и 22. В зависимости от положения заслонок испытания могут проводиться в РК 2 и одной из РК 5 или 6, или одновременно в РК 5 и 6.4 ил.

Фиг.З

Ф14г.