Контрольный образец для имитации воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов Советский патент 1990 года по МПК G01N27/82 

Описание патента на изобретение SU1578625A1

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для настройки и градуировки вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями.

Цель изобретения - повышение точности имитации при настройке аихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями за счет использования конструкции, позволяющей устранить искажения распределения вихревых токов, обтекающих искусственный дефект,

На фиг.1 показана конструкция контрольного образца с внутренним дефектом; на фиг.2 - электропроводящая прокладка образца с внутренним дефектом; на фиг.З - конструкция образца с дефектом, выходящим на внутреннюю поверхность образца; на фиг.4 - электропроводящая прокладка образца с дефектом, выходящим на внутреннюю поверхность образца.

Контрольный образец для вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями состоит из частей 1 и 2 с выполненными в них равными по размеру полостями 3 и 4.

Между частями 1 и 2 образца размещена электропроводящая прокладка 5, выполненная из материала с большей электропроводностью, чем материал образца. Прокладка 5 выполнена многослойной с возможностью регулировки ее толщины за счет изменения числа слоев, а торцы прокладки 5 электрически изолированы с помощью диэлектрических прокладок 6. Прокладка 5 выполнена с отверстием 7, размеры которого равны поперечным размерам полостей 3,4.

Контрольный образец имитирует воздействие дефектов следующим образом.

Вихревые токи, возбужденные проходным преобразователем, обтекают дефект, разветвляясь относительно некоторой плоскости, проходящей через поперечное сечение изделия. При использовании наиболее широко применяемых проходных преобразователей с соленоидальной возбуж- дающей обмоткой вихревые токи будут разветвляться относительно плоскости, проходящей через середину дефекта, поэтому сечение образца в этой плоскости приведет к минимальным искажениям поля вихревых токов и позволит выполнить искусственный дефект. Создать без сечения образца искусственный дефект, выходящий на внутреннюю поверхность, затруднительно, а размещенный в толще образца внутренний дефект (полости 3 и 4) невозможно. Вместе с тем наличие стыка между частями

1 и 2 образца вносит искажения во внешнее магнитное поле реакции вихревых токов. Компенсировать получаемое изменение магнитного поля удается с помощью электропроводящей прокладки 5, выполненной из материала с большей удельной электропроводностью, чем материал частей 1 и 2 образца. Это объясняется тем, что прокладка 5 создает магнитное поле большей интенсивности, чем прилегающие к ней слои изделия той же толщины. За счет этого при усреднении суммарного поля и происходит компенсация. Практически необходимо подобрать толщину прокладки 5, которая регулируется путем изменения числа слоев многослойной прокладки. Слои рекомендуется выполнять из тонкой медной фольги. Подбор осуществляется до выполнения полостей 3 и 4. Образец пропускают через

проходной преобразователь и регистрируют изменение сигнала на стыке. Толщина прокладки 5 варьируется до получения минимального изменения сигнала на стыке частей 1 и 2. После этого изготавливают

искусственные дефекты в виде полостей 3,4 в частях 1 и 2 образца, а также отверстие 7 в прокладке 5.

При неточной сборке образца его торцы с полостями 3 и 4 могут не совпасть, что

приведет к перераспределению вихревых токов из-за наличия электропроводящей перемычки между торцами дефектов. Для ис- ключения этого побочного эффекта электропроводящую прокладку 5 изолируют

с помощью диэлектрических прокладок 6.

Предложенный контрольный образец обладает повышенной точностью имитации по сравнению с известными, поскольку выполненное сечение образца вносит

минимальные искажения в распределение вихревых токов,

Формула изобретения

1. Контрольный образец для имитации

воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов, выполненный в виде двух сопряженных между собой частей с равными по размеру полостями в каждой из них, расположенными друг против

друга, и поверхностью сопряжения, перпендикулярной рабочей поверхности образца, и электропроводящей прокладки с электропроводностью, большей электропроводности иастей образца, отличающ л и с я тем, что, с целью повышения точности имитации при настройке вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразозс гелями, он снабжен двумя диэлектрическими прокладками, размещенными между электропроводящей прокладкой

и частями образца, а электропроводящая прокладка выполнена с отверстием, размеры которого равны поперечным размерам полостей, расположенным напротив последних на их уровне.

2. Образец по п. 1,отличающийся тем, что электропроводящая прокладка выполнена многослойной с возможностью регулировки ее толщины за счет изменения числа слоев.

Похожие патенты SU1578625A1

название год авторы номер документа
Имитатор воздействия подповерхностных дефектов для вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями 1988
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шишкарев Александр Анатольевич
  • Касимов Геннадий Анатольевич
  • Палеес Евгений Эммануилович
SU1619151A1
Образец с имитатором подповерхностного дефекта для вихретокового дефектоскопа с накладным преобразователем 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Шишкарев Александр Анатольевич
SU1439480A1
Способ создания дефектов в образцах из многослойных углепластиковых материалов 2020
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Дидин Геннадий Анатольевич
  • Хвостов Андрей Александрович
  • Ермолаев Алексей Александрович
RU2743621C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ПРОХОДНОГО КОНТРОЛЯ 2007
  • Анисимов Владимир Васильевич
RU2344413C2
Дефектоскоп для сварных швов 2015
  • Дмитриев Сергей Федорович
  • Ишков Алексей Владимирович
  • Маликов Владимир Николаевич
  • Катасонов Александр Олегович
RU2639592C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТРЕЩИН В НЕМАГНИТНЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ОБЪЕКТАХ 2014
  • Роберов Илья Георгиевич
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Фигуровский Дмитрий Константинович
  • Котелкин Александр Викторович
  • Леонтьев Сергей Константинович
  • Матвеев Дмитрий Борисович
  • Леднев Игорь Сергеевич
  • Кузнецова Галина Владимировна
RU2584726C1
СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ ГАЗОНАСЫЩЕННЫХ СЛОЕВ НА ТИТАНОВЫХ СПЛАВАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1993
  • Митюрин Владимир Сергеевич
RU2115115C1
Способ поверки и калибровки приборов вихретокового контроля и устройство для его осуществления 1988
  • Учанин Валентин Николаевич
  • Владычин Владимир Ярославович
  • Агапов Юрий Николаевич
SU1619152A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1978
  • Косовский Давид Израильевич
  • Шкарлет Юрий Михайлович
  • Хватов Леонид Анатольевич
  • Конжуков Феликс Измайлович
  • Скоробогатько Евгений Сергеевич
  • Исаков Анатолий Николаевич
SU739391A1
СПОСОБ ИМПУЛЬСНОГО ВИХРЕТОКОВОГО КОНТРОЛЯ 2008
  • Сагалов Сергей Сергеевич
  • Сухих Алексей Васильевич
RU2377554C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 578 625 A1

Реферат патента 1990 года Контрольный образец для имитации воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для настройки и градуировки вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями. Повышение точности имитации воздействия дефектов достигается благодаря исключению дополнительных искажений поля вихревых токов под действием переходного сопротивления стыкуемых частей 1,2 контрольного образца. Вихревые токи обтекают дефект, выполненный в частях 1 и 2 образца в виде полостей 3,4, разветвляясь относительно поверхности стыка. Это происходит благодаря тому, что полости 3,4 выполнены на одинаковую длину в обе части 1 и 2 образца. Влияние стыка дополнительно уменьшается за счет электропроводящей прокладки 5, выполненной многослойной с регулируемой толщиной из материала с большей удельной электропроводностью, чем материал образца. Торцы электропроводящей прокладки 5 электрически изолированы диэлектрическими прокладками 6 для исключения нежелательного перераспределения вихревых токов при неточной сборке. 1 з.п.ф-лы, 4 ил.

Формула изобретения SU 1 578 625 A1

///

Фиг. 2

Фиг.З

/Т)

Фиг. k

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1990 года SU1578625A1

Имитатор дефектов 1984
  • Демидов Михаил Владимирович
SU1191813A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Настроечный образец с имитатором подповерхностного дефекта для магнитной дефектоскопии 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Домашевский Борис Наумович
  • Колыхалов Владимир Константинович
SU1467488A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 578 625 A1

Авторы

Шкатов Петр Николаевич

Шишкарев Александр Александрович

Касимов Геннадий Анатольевич

Палеес Евгений Эммануилович

Даты

1990-07-15Публикация

1987-12-17Подача