Настроечный образец с имитатором подповерхностного дефекта для магнитной дефектоскопии Советский патент 1989 года по МПК G01N27/82 

Описание патента на изобретение SU1467488A1

Фие.2

Фие, 3

Фи.Ц

Похожие патенты SU1467488A1

название год авторы номер документа
КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2003
  • Толмачев И.И.
  • Прошутина Р.В.
RU2245541C1
Устройство для имитации магнитных потоков рассеяния при электромагнитной дефектоскопии 1985
  • Шкатов Петр Николаевич
SU1298624A1
ИЗМЕРИТЕЛЬ МАГНИТНОГО ДЕФЕКТОСКОПА ПРОТЯЖЕННОГО ИЗДЕЛИЯ СЛОЖНОЙ ФОРМЫ 2016
  • Марков Анатолий Аркадиевич
  • Антипов Андрей Геннадиевич
RU2645830C1
Имитатор воздействия подповерхностных дефектов для вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями 1988
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шишкарев Александр Анатольевич
  • Касимов Геннадий Анатольевич
  • Палеес Евгений Эммануилович
SU1619151A1
Образец с имитатором подповерхностного дефекта для вихретокового дефектоскопа с накладным преобразователем 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Шишкарев Александр Анатольевич
SU1439480A1
УНИВЕРСАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2004
  • Толмачев Игорь Иванович
  • Прошутина Ростислава Вячеславовна
RU2273848C1
СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2014
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Николаев Юрий Львович
  • Чернова Александра Валентиновна
  • Юрченко Павел Владимирович
RU2566418C1
ВИХРЕТОКОВО-МАГНИТНЫЙ СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ОБЪЕКТОВ 2012
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Мякушев Константин Викторович
RU2493561C1
Способ магнитной дефектоскопии для выявления разноориентированных дефектов в движущихся цилиндрических изделиях 1990
  • Шабанов Виталий Алексеевич
  • Аязян Тигран Гоерунович
  • Степанов Сергей Владимирович
  • Мухаметшин Анвар Мустафинович
SU1742708A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВИХРЕТОКО-МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ОБЪЕКТОВ 2014
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Мякушев Константин Викторович
RU2566416C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 467 488 A1

Реферат патента 1989 года Настроечный образец с имитатором подповерхностного дефекта для магнитной дефектоскопии

Изобретение относится к нераз™ рушающему контролю и может быть использовано для настройки, градуировки и поверки средств магнитной дефек тоско пии, например, феррозондовых дефектоскопов. Цель изобретения - расширение области использования сб. разца. Имитация подповерхностных дефектов достигается благодаря тому, что заготовка Настроечного образца для магнитной дефектоскопии состоит из двух частей 1 и 2, в каждой из которых полость выполнена на половину длины имитируемого .дефекта под углом О d 90° к поверхности сопряжения частей. При намагничивании образца поток разветвляется на два русла, расположенных по разные стороны от поверхности сопряжения. При этом искажений магнитного поля из-за налиг чия зазора между половинами 1 и 2 образца не происходит. Искажения, возникающие при намагничивании переменным магнитным потоком, сниз; аются за счет электропроводящего немагнитного слоя 5, выполненного из пластичного материала с большей электропроводностью, чем материал образца. Образец позволяет имитировать подпо- .верхностные дефекты различных размеров и обеспечить тем самым возможность количественной оценки параметров выявляемых подповерхностных дефектов. 5 з.п. ф-лы, 6 ил. to

Формула изобретения SU 1 467 488 A1

у

/

-4--J

ц.г

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1989 года SU1467488A1

Зубчатое колесо со сменным зубчатым ободом 1922
  • Красин Г.Б.
SU43A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 467 488 A1

Авторы

Шкатов Петр Николаевич

Домашевский Борис Наумович

Колыхалов Владимир Константинович

Даты

1989-03-23Публикация

1987-07-27Подача