Способ определения оптической ориентации поликристаллических веществ Советский патент 1990 года по МПК G01N21/35 

Описание патента на изобретение SU1608505A1

I

орие го -в

ции

элe ентов

1,ель

На

зобретение относится к области, определения структурно-текстур ных

горных пород, изобретения - определение преимущественной пространственной

нтации оптической оси исследуемо- ещества.

фиг. 1 показан спектр отраже- кальцита: направление падения параллельно оптической оси - кривая 1, направление падения луча перп|ендикулярно оптической оси крис- кривая 2; на фиг. 2 - зави- нормированной интенсивности отра|жения кальцита при ,24 мкм от урла между оптической осью и осью

пучка.

определения суммарной ориента- эсей зерен кальцита из пространниялуча

талла - симость

светэвого

Д1Я

ственно ориентированного образца известняка или мрамора вырезаются и полируются три взаимно перпендикулярно ориентированных пластины с маркировкой их ориентации. На ИК- спектрометре для всей площади среза каждого образца получают ИК-спектр отражения. Известно, что у несдвойг никованных зерен кальцита, например, в известняках и мраморах ориентировка оптических осей совпадает с направлением оси сжатия. Б ИК-спектрах отражения кальцита в диапазоне 5- 15 мкм вьщеляют два максимума на 11,24 и 6,66 мкм, величина первого зависит от ориентации кристалла (фиг. 1). Определяется интенсивность I отражения на длинах волн 11,24 .и

О5

эо

ел

О СП

31608505

6,66 мкм По отношению ------, котоJ- 1 ее

6,66

рая в зависимости от угла между направлением оптической оси и направлением оси падающего светового пучка варьирует в пределах 0-1,45, определяют по графику (фиг. 2) преимущественную ориентировку зерен кальцита.

I .г1- - п , ,

- u,j имеют

Так, для значения

о

6,66

I 1,24

О-«,66

58 . Уточняют общую ориентацию.

угол o(g 32 , а для

od,

например, путем нанесения результатов замеров в каждой пластине на стереографическую проекцию Вульфа.

Формула изобретения

Способ определения оптической ориентации поликристаллических веществ, заключающийся в том, что на

образец воз действуют ИК-излучением с двумя длинами волн, характеристики отражения на одной из которых не зависят от оптической ориентации текстуры образца, а для другой такая зависимость имеет место, определяют характеристики отражения на этих длинах волн, по которым судят об опти 0 ческой ориентации вещества, о т л и- чающийся тем, что, с целью определения преимзщественной прос.т- ранственной ориентации оптической оси исследуемого вещества, определя15 ют интегральную по площади интенсивность отраженного излучения для всех зерен одной кристаллической фазы в трех .взаимоперпендикулярных срезах, затем по отношению интегральных ин20 тенсивностей отраженного излучения определяют ориентацию для каждого среза и восстанавливают пространственную ориентацию по ориентациям, полученньм для срезов.

Похожие патенты SU1608505A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА 1998
  • Славов В.И.
  • Наумова О.М.
  • Яковлева Т.П.
RU2142623C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТРУКТУРЫ МОЛЕКУЛЯРНЫХ КРИСТАЛЛОВ 2014
  • Костицын Олег Владимирович
  • Станкевич Александр Васильевич
  • Тайбинов Николай Петрович
RU2566399C1
СПОСОБ СОЧЕТАННОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ РАЗНОЧАСТОТНЫМИ ЛАЗЕРНЫМИ ИЗЛУЧЕНИЯМИ 2011
  • Ковалев Анатолий Александрович
  • Якунин Владимир Викторович
RU2564903C2
Устройство для определения степени доломитизации карбонатных пород 1984
  • Моисеенко Анатолий Сергеевич
  • Мельников Игорь Георгиевич
  • Махов Анатолий Александрович
SU1223091A1
Способ рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий 1983
  • Макаревич Леонид Антонович
  • Румак Николай Владимирович
  • Сакун Анатолий Федорович
  • Сапожников Владимир Владимирович
  • Скворцов Вадим Витальевич
  • Тишкевич Геннадий Иванович
  • Ярошевич Гилярий Болеславович
SU1087854A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА СЛОЕВ МНОГОСЛОЙНОГО ЛЕНТОЧНОГО СВЕРХПРОВОДНИКА 2014
  • Бортнянский Арнольд Леонидович
  • Подтыкан Федор Петрович
  • Юдин Александр Михайлович
RU2584340C1
МОНИТОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ЗЕРНА 1998
  • Мэйес Дэвид М.
RU2195644C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ГЕТЕРОСТРУКТУР 2012
  • Дёмин Андрей Васильевич
  • Заботнов Станислав Васильевич
  • Золотаревский Юрий Михайлович
  • Иванов Вячеслав Семенович
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Федянин Андрей Анатольевич
RU2491679C1
СПОСОБ ИДЕНТИФИКАЦИИ ОБЪЕКТА 2001
  • Краснов А.Е.
  • Красуля О.Н.
  • Красников С.А.
  • Большаков О.В.
RU2178562C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАГНИТНЫХ И СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК НАНОМЕРНЫХ ПРОСТРАНСТВЕННО УПОРЯДОЧЕННЫХ СИСТЕМ 2006
  • Григорьева Наталья Анатольевна
  • Григорьев Сергей Валентинович
  • Елисеев Андрей Анатольевич
RU2356035C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 608 505 A1

Реферат патента 1990 года Способ определения оптической ориентации поликристаллических веществ

Изобретение относится к определению текстуры горных пород. Целью изобретения является определение преимущественной пространственной ориентации оптической оси исследуемого вещества. Измеряют интегральную нормированную интенсивность отраженного ИК-излучения в трех взаимно перпендикулярных срезах поликристаллических веществ на двух длинах волн, отражение на одной из которых не зависит от ориентации оптической оси кристаллов относительно направления падающего луча, а другая имеет такую зависимость. Ориентацию в каждой плоскости определяют по отношению интенсивности отраженного излучения на этих длинах волн. Пространственную ориентацию восстанавливают по ориентации во всех трех плоскостях. 2 ил.

Формула изобретения SU 1 608 505 A1

в/О

Фиг.1

12 A,ffKM

0,51.Q

WutZ

r,5 3mt 8.66

SU 1 608 505 A1

Авторы

Кукуй Анатолий Львович

Вохменцев Анатолий Яковлевич

Третьякова Людмила Иосифовна

Даты

1990-11-23Публикация

1988-04-22Подача