Способ рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий Советский патент 1984 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU1087854A1

Изобретение относится к рентгеновскому контролю текстуры и может быть использовано в заводских условиях для разбраковки готовых изделий по текстуре, а также для корректировки технологических процессов, влияющих на текстурообразование. Прямой анализ текстуры осуществляется рентгенографическим методом, позволяющим определить непосредственно ориентировку граней кристаллов, участвующих в отражении. С его помощью можно определить текстуру разнообразных материалов, в том числе мелкозернистых деформированных, и получать представление об ориентировке зерен, расположенных не только на поверхности, но и в слое образца толщиной порядка 0,1-0,15 мм. Известен способ изучения и контроля тек стуры поликристаллических изделий, позволяющий изучать текстуру тонких образцов, при котором регистрируют дифрагированный пучок рентгеновских лучей, прошедших через образец 1J. Однако осуществления этого способа требуется изготовление специальных образцов, что снижает экспрессность анализа. Известен также способ изучения текст ры внутренних поверхностей цилиндрических изделий, заключающийся в том, что внутрь изделия вводят источник ренгеновского излучения с щирокой расходимостью пучка и детектор, формируют конусообразный пучок с требуемым углом раствора конуса с помощью, например, экрана, регистрируют детектором отражения от кольцевого участка изделия при одновременном перемещении источника, экрана и детектора вдоль трубы и по размытию дифракционной картины судят о параметрах текстуРы 2. Однако, хотя этот способ экспрессен, он трудноприменим для изделий больщой длины, а использование источника рентгеновских лучей с щирокой расходимостью пучка резко снижает интенсивность излучения, приходящегося на е:диницу площади исследуемой поверхности, и соответственно понижает чувствительность способа. Наиболее близким к изобретению является способ рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий, включающий облучение изделия пучком рентгеновских лучей и регистрацию интенсивности отраженного излучения 3. Недостаток способа состоит в том, что для его осуществления необходимо разрущение готовых изделий для вырезки из нихспециальных образцов, которые затем исследуются с помощью текстурных приставок на дифрактометрах общего назначения или на cneiuiajibHbix текстурдифрактометрах с построением полюсных фигур, что в итоге делает его неприемлимым при экспресс-контроле. Целью изобретения является повышение экспрессности контроля за счет исключения разрущения готовых изделий. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий, включающему облучение изделия пучком рентгеновских лучей и регистрацию интенсивности отраженного излучения, предварительно определяют угловые координаты и угловую щирину максимума полюсной плотности текстуры эталонного образца, размещают излучатель и детектор относительно изделия под углами, соответствующими полученным углом координатам максимума, проверяют наличие максимума интенсивности в искомой области совместным поворотом излучателя и детектора регистрируют интенсивность дифрагированного излучения в максимуме полюсной плотности текстуры исследуемого изделия, затем осуществляют поворот излучателя и детектора относительно изделия на угол, равный половине угловой щирины максимума полюсной плотности текстуры эталонного образца, регистрируют интенсивность дифрагированного излучения в минимуме полюсной плотности текстуры исследуемого изделия и по отнощению измеренных интенсивностей в максимуме и минимуме полюсной плотности устанавливают параметры текстуры изделия. Способ реализуют на макетной установке, включающей рентгеновскую трубку БСВ-11, высоковольтный источник питания ВИП-50-60 и детектор СРС-1-0. Исследуют текстуру эталонного образца, изготовленного из медного листа, прокатанного на 75%, и получают полюсную фигуру /П1/«. Анализ полюсной фигуры показал, что характерный максимум полюсной плотности расположен под углами р 0° и « 25° к направлению прокатки. После определения угловых координат и угловой щирины характерного максимума полюсной плотности текстуры эталонного образца источник рентгеновских лучей - рентгеновскую трубку - и детектор размещают под углами, соответствующими полученным угловым координатам максимума. При этом рентгеновскую трубку и детектор закрепляют относительно друг друга в плоскости, проходящей через их щелевые устройства и точку падения рентгеновского луча на контролируемую поверхность, а затем в этой плоскости производят их совместный поворот вокруг центра, совпадающего с точкой падения рентгеновского луча. Угол между рентгеновской трубкой и детектором устанавливают равным 180°-2е 136°36, где е - угол Вульфа-Брэгга (для исследуемого материала - меди на

К Си излучении - угол 9 для плоскости /III/а составляет 21°42).

Для эталонного образцаЛтакс

2000 имп/с, имп/с, при этом угловая ширина характерного максимума полюсной плотности 30° (от 10 до 40° с центром на 25° по углу сх). Отношение JmaKt/JmHK 10 И характеризует текстуру, обеспечивающую необходимые эксплуатационные свойства.

Затем контролируют 10 медных образцов, вырезанных из различных листов, прокатанных до степени деформации 75%.

Излучатель и детектор размещают относительно образца под углами р 0° и к направлению прокатки, после чего регистрируют интенсивность Лтакс отраженного излучения в максимуме полюсной плотности, а затем осуществляют поворот излучателя и детектора относительно образца на угол 15° (половину угловой ширины характерного .максимума полюсной плотности эталонной текстуры) и регистрируют интенсивность Лтин в минимуме.

Полученные результаты приведены в таблице.

Похожие патенты SU1087854A1

название год авторы номер документа
Установка для рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий 1983
  • Макаревич Леонид Антонович
  • Румак Николай Владимирович
  • Сакун Анатолий Федорович
  • Сапожников Владимир Владимирович
  • Скворцов Вадим Витальевич
  • Тишкевич Геннадий Иванович
  • Ярошевич Гилярий Болеславович
SU1312458A1
Способ контроля структуры материалов 1989
  • Свердлова Белла Михайловна
  • Ром Михаил Аронович
  • Котляр Анатолий Михайлович
  • Ткаченко Валентин Федорович
SU1728744A1
Способ рентгеновского дифрактометрического анализа поликристаллических объектов с аксиальной текстурой 1982
  • Кринари Георгий Александрович
  • Халитов Зуфар Яхьич
  • Евграфов Александр Андреевич
  • Григорьев Юрий Сергеевич
SU1062579A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАЛИЧИЯ УПРУГИХ ДЕФОРМАЦИЙ В МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛАСТИНАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2003
  • Кумахов М.А.
  • Ибраимов Н.С.
  • Лютцау А.В.
  • Никитина С.В.
  • Котелкин А.В.
  • Звонков А.Д.
RU2239178C1
Способ определения параметров решетки поликристаллических материалов 1987
  • Абовян Эдуард Самвелович
  • Григорян Аршак Грайрович
  • Акопян Геворк Седракович
  • Безирганян Петрос Акопович
SU1436036A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВНУТРЕННИХ НАПРЯЖЕНИЙ МНОГОСЛОЙНЫХ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ПОКРЫТИЙ, ОСНОВАННЫЙ НА ИСПОЛЬЗОВАНИИ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2021
  • Филиппов Андрей Владимирович
  • Воронцов Андрей Владимирович
  • Шамарин Николай Николаевич
  • Денисова Юлия Александровна,
  • Москвичев Евгений Николаевич
  • Княжев Евгений Олегович
RU2772247C1
Способ рентгеновского дифрактометрического анализа текстуры 1987
  • Днепренко Владимир Николаевич
  • Кац Аркадий Маркусович
  • Лариков Леонид Никандрович
  • Петьков Валерий Васильевич
SU1511653A1
Способ контроля структурного совершенства монокристаллов 1984
  • Даценко Леонид Иванович
  • Гуреев Анатолий Николаевич
  • Хрупа Валерий Иванович
  • Кисловский Евгений Николаевич
  • Кладько Василий Петрович
  • Низкова Анна Ивановна
  • Прокопенко Игорь Васильевич
  • Скороход Михаил Яковлевич
SU1255906A1
Способ контроля плотности поверхностного слоя твердых тел 1976
  • Киселева Кира Вячеславовна
  • Милютин Юрий Викторович
  • Турьянский Александр Георгиевич
SU609079A1
Рентгеновский спектрометр 1979
  • Скупов Владимир Дмитриевич
SU857816A1

Реферат патента 1984 года Способ рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий

СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОГО КОНТРОЛЯ ТЕКСТУРЫ ДЛИННОМЕРНЫХ ИЗДЕЛИЙ, включающий облучение изделия пучком рентгеновских лучей и регистрацию интенсивности отраженного излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности контроля за счет исключения разрушения готовых изделий, предварительно определяют угловые координаты и угловую ширину максимума полюсной плотности текстуры эталонного образца, размещают излучатель и детектор относительно изделия под углами, соответствующими полученным угловым координатам максимума, проверяют наличие максимума интенсивности в искомой области совместным поворотом излучателя и детектора, регистрируют интенсивность дифрагированного излучения в максимуме полюсной плотности текстуры исследуемого изделия, затем осуществляют поворот излучателя и S детектора относительно изделия на угол, равный половине угловой ширины макси(Л мума полюсной плотности текстуры эталонного образца, регистрируют интенсивность дифрагированного излучения в минимуме полюсной плотности текстуры исследуемого изделия и по отношению измеренных интенсивностей в максимуме и минимуме полюсной плотности устанавливают параметры текстуры изделия. 00 -vj оо 01

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1984 года SU1087854A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Decher В
et ав
Prefferred orientation determination Using a Geiger Counter x-ray Diffraction Goniometer
- J
Appl
Станок для изготовления деревянных ниточных катушек 1925
  • Соковнин И.Г.
SU1948A1
Уровень с пузырьком 1922
  • Суржик М.Ф.
SU388A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Переносная печь для варки пищи и отопления в окопах, походных помещениях и т.п. 1921
  • Богач Б.И.
SU3A1
A direct Method of determining prefered Orientation of a flat refle tion sample Using a being Counter x-ray Spectrometer.-J
Appl
Phys., 1949, 20, N II, plOaO-1036 (прототип).

SU 1 087 854 A1

Авторы

Макаревич Леонид Антонович

Румак Николай Владимирович

Сакун Анатолий Федорович

Сапожников Владимир Владимирович

Скворцов Вадим Витальевич

Тишкевич Геннадий Иванович

Ярошевич Гилярий Болеславович

Даты

1984-04-23Публикация

1983-02-14Подача