Способ определения дефектов на поверхности изделия Советский патент 1991 года по МПК G01N21/88 G01B11/30 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения дефектов на деталях в машиностроении в гибких автоматизированных производствах.

Целью изобретения является повышение достоверности определения дефектов за счет снижения влияния чистоты обработки и оптических свойств контролируемой поверхности в конкретных условиях контроля.

На чертеже изображена принципиальная схема устройства для реализации способа определения дефектов на поверхности изделия.

Устройство содержит излучатель 1, фотоприемник 2 зеркальной составляющей от- раженного света и фотоприемник 3 диффузной составляющей отраженного света, соединенные с входом преобразователя- компаратора 4, который выходом подключен к вычислительному блоку 5, связанному с блоком 6 постоянной памяти и

о ю

Ј ел

блоком 7 регистрации результатов контроля.

Способ осуществляется следующим образом.

На поверхность вращаемого (переме- щаемого) контролируемого изделия 8 направляют световой поток от излучателя 1. Фотоприемники 2 и 3 регистрируют соответственно зеркально и диффузно отражен- ные световые потоки в точках, равноудаленных (для исключения влияния На отношение их амплитуд потерь в среде распространения и точной аппроксимации формы индикатриссы рассеяния) от точки падения светового потока на изделие 8 и между собой. Амплитуды отраженных световых потоков в каждой точке, преобразованные в электрические сигналы фотоприемниками 2 и 3, усредняют во времени и сравнивают с амплитудами световых потоков остальных точек в преобразователе-компараторе 4. По результатам сравнения амплитуд вычислительный блок 5 выбирает из блока 6 постоянной памяти программу, по которой определяют дефек- ты на поверхности изделия 8.

Программа реализует алгоритм преобразования зеркальной и диффузной составляющих отраженного света, который обеспечивает наибольшую помехозащи- щенность контроля в конкретных условиях. Мерой оценки конкретных условий контроля, определяемых чистотой обработки поверхности контролируемого изделия 8 и оптическими свойствами его поверхностя- ми, служит соотношение амплитуд отраженных световых потоков. Результаты контроля поверхности отображаются в блоке 7 регистрации.

Алгоритм определения дефектов на по- верхности изделия 8 находится из условия

1при 13

2при U

...: 1Я «...

knpn ... ldi 1ам;

m при 13 101 ... 1д ldN ;

где номер алгоритма преобразования;

3 - интенсивность зеркальной компоненты отраженного потока;

laii l9i. -интенсивность диффузных компонент отраженного потока в точках регистрации.

Сравнение амплитуд отраженных световых потоков в каждой точке регистрации с амплитудами световых потоков остальных точек позволяет определять дефекты на поверхности по оптимальному для конкретного изделия алгоритму, снижающему влияние на результаты контроля чистоты обработки и оптических свойств поверхности изделия 8, что повышает достоверность определения дефектов.

Формула изобретения

Способ определения дефектов на поверхности изделия, заключающийся в том, что направляют на контролируемую поверхность световой поток, регистрируют зеркально и диффузно отраженные световые потоки и определяют дефекты на поверхности изделия, отличающийся тем, что. с целью повышения достоверности определения дефектов, регистрацию зеркально и диффузно отраженных световых потоков производят в нескольких точках, равноудаленных от точки падения светового потока на изделие, сравнивают амплитуды отраженных световых потоков в каждой точке с амплитудами световых потоков остальных точек, а дефекты на поверхности определяют по результатам сравнения амплитуд.

со

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения дефектов на деталях в машиностроении в гибких автоматизированных производствах. Целью изобретения является повышение достоверности определения дефектов за счет снижения влияния чистоты обработки и оптических свойств контролируемой поверхности в конкретных условиях контроля. На контролируемую поверхность направляют световой пучок, регистрируют зеркально отраженный световой поток и диффузно отраженный световой поток в нескольких характерных точках индикатриссы рассеяния, преобразуют их в электрические сигналы, усредняют во времени и ранжируют по амплитуде в последовательность 3, э, 1)1,...1Э1... w. одновременно эти электрические сигналы запоминают на время ранжирования t и преобразуют по алгоритму, определяемому из условия 1при 13 1э1 № «...«HdN 2при 13 «lai - ет Э1 I9N ; N k при I3 «Hat ... lai эм ; m при 3 Igi ... lai dN : где N -номер алгоритма; Ь-интенсивность зеркальной компоненты отраженного светового потока; Igi, Igi, laN - интенсивность диффузных компонент отраженного светового потока, по характерному для данного алгоритма сигналу регистрируют дефекты на контролируемой поверхности. 1 ил. ч W ё