Способ контроля формы поверхности вращения Советский патент 1991 года по МПК G01B11/24 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы шлифованных и полированных сферических и асферических поверхностей, в ч;ом числе пах аболических, гиперболических и эллиптических.

Целью изобретения является упрощение процесса контроля за счет перемещения измерительного наконечника по поверхности контролируемой детали путем смещения базировочного столика.

На чертеже представлена функциональная схема устройства для осуще- с П ления предлагаемого способа.

Устройство содержит базироиочный столик (пв показано), установленный с возможностью поворота и смещения вдоль осп, параплсчьной оси попорота, отгчетнос устройство (не показано), скрепленное с базировочным столиком, автоколлимацпонный микроскоп 1, визирная ось которого совмещена с осью попорота базировочного столика, шгок Л, установленный под острым углом Ои к оси поворота базировочного столика с возможностью смещения вдоль оси его симметрии, измерительный наконечник 3, выполненный сферическим и скрепленный со штоком 2, измерителе А перемещения, скрепленный со штоком 2.

Способ осуществляют следующим образом.

Контролируемую деталь 5 устанавливают на базировочный столик так, чтобы центр кривизны сферической контролируемой детали 5 или оптическая ось, если контролируемая деталь 5 асферическая, совпадали с осью поворота базировочного столика, при г т ом контроль центрирования проводят с помощью автоколлимапион- ного микроскопа 1. Затем вворяг в контакт с поверхностью контропируе- мой детали 5 измерительный наконечник 3 и снимают отсчет по измерителю А перемещения. После чего бази- ровочный столик начинают перемещать вдоль оси его поворота, при этом измерительный наконечник 3 перемешается по поверхности контролируемой детали 5. Постоянный контакт измерительного наконечника 3 с поверхностью контролируемой детали 5 обеспечивается под действием силы тяжести при вертикальном расположении оси

0

5

0

5

0

5

0

S

0

5

поворота базировочного столика, или же специального устройства, задающего измерительное усилие.

При перемещении базировочного столика снимают показания отсчетного устройства и измерителя 4 перемещения.

По известному углу сЈ , радиусу сферы измерительного наконечника 3, показаниям отсчетного устройства и измерителя 4 перемещения легко вычислить форму контролируемой детали, при этом в качестве нуля при определении координат точек контролируемой поверхности целесообразно выбирать точку, когда измерительный наконечник окажется в контакте с вер- шиной поверхности контролируемой детали 5 (положение,показанное пунктирной линией на чертеже).

При контроле формы детали 5 в разных сечениях базировочный столик поворачивают на заданный угол и повторяют измерения. Возможен также одновременный поворот базпровочного столика и его смещение вдоль оси поворота о

Таким образом предлагаемый способ упрощает процесс контроля, так как перемещение измерительного наконечника по поверхности контролируемой детали осуществляют только смещением базиповочного столика. Формула изобретения

Способ контроля формы поверхности вращения, заключаюпийся в том, что совмещают ось симметрии контролируемой поверхности с осью ее поворота, вводят в контакт с поверхностью вращения измерительный наконечник, осуществляю перемещение измерительного наконечника по поверхности вращения и измеряют его положение, после чего поворачивают поверхность вращения и повторяют измерения, а затем рассчитывают отклонение формы поверхности вращения от номинальной, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса контроля, перемещение измерительного наконечника по поверхности вращения производят перемещением поверхности вращения вдоль оси ее поворота, измерительный наконечник выполняют сферическим, а измерение его положения осуществляют в направлении, оЪразу- ющем острый угол с осью симметрии поверхности вращения.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы шлифованных и полированных сферических и ас-- ферическпх поверхностей. Пелыо изобретения является упрощение процесса контроля яп счет перемещения измерительного наконечника по поверхности контролируемой детали путем смещения базировочного столика. Контролируемую деталь 5 устанавливают на баяиропочный столик так, чтобы ее оптическая ось (или центр кривизны для сферической формы контролируемой детали) совпал via г осью поворота базировочного столика. Вво- дят н контакт с. поверхностью контролируемой детлли 5 измерительный in- конечник 3 и начинают перемена п. баэировочный столик ндоль оси его поворота, при ттом измериiедьнпй пл- конечник 3 перемещается nrt поверхности контролируемой детали 5. По известному углу об между осью поворота базировочного столика и птоком 2, радиусу сферы измерительного наконечника 3 и показаниям оiсчет nor о устройства, скрепленного с ippopn-i- ным столиком, н измерителя Ь перемещения, скрепленного со ппоком 2, рассчитывают форму контролируемой летали. Предложенный способ упрощает процесс контроля, так как перемещение измерительного наконечника 3 по поверхности контролируемой детали 5 осуществляется только смешением базировочного столика. 1 ил. 8 Оэ ГчЗ vl 00 tc эо