СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ Советский патент 1995 года по МПК H01L21/66 

Описание патента на изобретение SU1634060A1

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для контроля диффузионной длины, подвижности, времени жизни и скорости поверхностной рекомбинации неосновных носителей заряда (ННЗ) в полупроводниках.

Цель изобретения увеличение числа определяемых параметров за счет обеспечения возможности определения подвижности, времени жизни и скорости поверхностной рекомбинации ННЗ.

На фиг. 1 представлена схема расположения измерительной установки; на фиг.2 представлены графики зависимости величины потока излучения G с волнами различной длины от коэффициента поглощения α при отсутствии воздействия магнитного поля на образец и при воздействии его на последний.

На фиг. 1 изображены полупроводниковый образец 1, источник 2 монохроматического света, зеркало 3, измеритель 4 светового потока, измеритель 5 поверхностной фотоЭДС и полюса электромагнита 6.

Кривая 7 на фиг.2 зависимость G от α-1 без воздействия магнитного поля на образец, кривая 8 зависимость G от α-1 при воздействии магнитного поля на образец.

П р и м е р. Определяют значения параметров кремниевой пластины проводимостью р-типа. Для измерения поверхностной фотоЭДС применяют структуру металл-окисел-полупроводник с полупрозрачным металлическим слоем. Образец помещают в зазор между полюсами электромагнита и освещают монохроматическим светом. Изменяя длину волны света λ в диапазоне от 0,8 до 1,05 мкм, измеряют интенсивность светового потока G, поддерживая постоянным значение поверхностей фотоЭДС. Определяют значения коэффициента поглощения света по формуле
α0,526367 1,14425 ˙λ-1 +0,585368х
x 1˙λ-2 + 0,039958 ˙λ-3 и строят зависимость G f(α-1).

Из полученной зависимости определяют диффузионную длину ННЗ L 87,4 мкм как координату точки пересечения зависимости G f(α-1) с отрицательной полуосью α-1 и отрезок а 0,624 (отн.ед.) как координату точки пересечения зависимости G f(α-1) с положительной полуосью G. Повторяя эти измерения при включенном магнитном поле с индукцией В 1,2 Тл, получают LВ=86,1 мкм и аb 0,618 (отн.ед.). Подвижность ННЗ определяют по формуле (r 1,18)
μ -1= -1= 0,1231, где r холл-фактор, зависящий от механизма рассеяния носителей заряда;
В индукция магнитного поля;
L, Lb диффузионные длины ННЗ при отсутствии и наличии воздействия на образец магнитным полем соответственно;
μ подвижность ННЗ;
а, ab координаты пересечений зависимостей интенсивности света от обратной величины коэффициента поглощения света с положительной полуосью интенсивности света при отсутствии и наличии воздействия на образец магнитным полем соответственно.

При комнатной температуре ( ≈ 0,026 В) для времени жизни ННЗ получают
τ ≈ 2,4мкс где К постоянная Больцмана;
Т абсолютная температура образца;
q заряд электрона.

Скорость поверхностной рекомбинации определяют по формуле
S 1- = 0,026B·0,1231 ×
× · ×
× 1- = 19,8
Предлагаемый способ, по сравнению с известным, позволяет, одновременно с известным, позволяет, одновременно с измерением диффузионной длины ННЗ, определить подвижность, время жизни и скорость поверхностной рекомбинации ННЗ, т.е. почти все электрофизические параметры полупроводника. Способ может применяться для определения параметров полупроводников как при наличии структуры метал-окисел-полупроводник, так и без нее. В последнем случае применяется электролит для измерения сигнала поверхностной фотоЭДС. Применение способа в технологии производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем позволяет произвести неразрушающий контроль параметров полупроводников, что обеспечивает большой экономический эффект.

Похожие патенты SU1634060A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ 1989
  • Варданян Р.Р.
SU1660532A1
Способ определения подвижности неосновных носителей заряда 1982
  • Болгов Сергей Семенович
  • Малютенко Владимир Константинович
  • Пипа Виктор Иосифович
  • Яблоновский Евгений Иванович
SU1056316A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИФФУЗИОННОЙ ДЛИНЫ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ И ТЕСТОВАЯ СТРУКТУРА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2012
  • Предеин Александр Владиленович
  • Васильев Владимир Васильевич
RU2501116C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ 2005
  • Подшивалов Владимир Николаевич
  • Макеев Виктор Владимирович
RU2330300C2
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН 1994
  • Файфер В.Н.
  • Дюков В.Г.
  • Правдивцев А.Е.
RU2077754C1
Способ определения подвижности неосновных носителей заряда (его варианты) 1983
  • Болгов Сергей Семенович
  • Ботте Виктор Александрович
  • Липтуга Анатолий Иванович
  • Малютенко Владимир Константинович
  • Пипа Виктор Иосифович
  • Яблоновский Евгений Иванович
SU1160484A1
Метод оценки скорости поверхностной рекомбинации носителей заряда в кристаллах типа CdS по тонкой (экситонной) структуре спектров фотопроводимости 2018
  • Барлыкова Валентина Васильевна
  • Батырев Александр Сергеевич
  • Бисенгалиев Рустем Александрович
  • Шивидов Николай Климович
RU2683145C1
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ФОТОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ 2008
  • Мурашев Виктор Николаевич
  • Симакин Виктор Васильевич
  • Тюхов Игорь Иванович
  • Лагов Петр Борисович
  • Стребков Дмитрий Семенович
  • Котов Андрей Викторович
RU2377695C1
Способ определения коэффициента биполярной диффузии неравновесных носителей заряда в полупроводниках 1981
  • Алмазов Л.А.
  • Малютенко В.К.
  • Федоренко Л.Л.
SU1028204A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТНОСТИ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СЛОЕВ КРЕМНИЯ НА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОДЛОЖКАХ 2012
  • Алексеев Алексей Валентинович
  • Белоусов Виктор Сергеевич
  • Яремчук Александр Федотович
  • Звероловлев Владимир Михайлович
  • Заикин Андрей Валерьевич
  • Старков Алексей Викторович
  • Эйдельман Борис Львович
  • Короткевич Аркадий Владимирович
RU2515415C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 634 060 A1

Реферат патента 1995 года СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ

Изобретение относится к полупроводниковой технике. Цель изобретения увеличение числа измеряемых параметров за счет обеспечения возможности определения подвижности, времени жизни и скорости поверхностей рекомбинации неосновных носителей заряда. Способ основан на измерении диффузионной длины неосновных носителей заряда путем построения зависимости интенсивности света от обратной величины коэффициента поглощения света при постоянном значении поверхностной фото-электродвижущей силы. Измеряют диффузионные длины при отсутствии и наличии воздействия на образец магнитным полем, вектор индукции которого параллелен поверхности образца, определяют координаты пересечений зависимостей интенсивности света с положительной полуосью интенсивности света при отсутствии и наличии воздействия на образец магнитного поля, вычисляют подвижность неосновных носителей заряда по соответствующей формуле. 2 ил.

Формула изобретения SU 1 634 060 A1

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ, включающий облучение поверхности исследуемого образца полупроводника излучением с различными длинами волн из области фоточувствительности этого полупроводника, измерение зависимости интенсивности падающего излучения G с волнами различной длины от коэффициента поглощения α при поддержании постоянной величины поверхностной фотоЭДС образца полупроводника путем изменения интенсивности падающего излучения, определение диффузионной длины L неосновных носителей заряда по измеренной зависимости, отличающийся тем, что, с целью увеличения числа определяемых параметров, на образец дополнительно воздействуют постоянным магнитным полем параллельно поверхности полупроводника и при этом повторно измеряют зависимость G от a по которой определяют диффузионную длину Lb носителей заряда при воздействии магнитного поля на полупроводник, вычисляют подвижность неосновных носителей заряда по формуле

время жизни неосновных носителей заряда по формуле

скорость поверхностной рекомбинации по формуле


где r Холл-фактор, зависящий от механизма рассеяния носителей заряда;
B индукция магнитного поля;
L, Lb диффузионные длины неосновных носителей заряда при отсутствии и наличии воздействия на образец магнитным полем соответственно;
K постоянная Больцмана;
T абсолютная температура образца;
q заряд электрона;
μ подвижность неосновных носителей заряда;
a, ab координаты пересечений зависимостей интенсивности света от обратной величины коэффициента поглощения света с положительной полуосью интенсивности света при отсутствии и наличии воздействия на образец магнитным полем соответственно.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1995 года SU1634060A1

Hlavka I
Nem principle of confactless lifetime determination in semiconductor wafer
Rev, Sci
Instr, 1981, v 52, N 1, p
p
Способ получения молочной кислоты 1922
  • Шапошников В.Н.
SU60A1

SU 1 634 060 A1

Авторы

Варданян Р.Р.

Даты

1995-10-27Публикация

1989-01-24Подача