АВТОМАТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕДЕНИЯ МАТРИЧНЫХ ИСПЫТАНИЙИзвестны автоматические устройства для автоматического перебора параметров испытуемого устройства, содержащие счетчик импульсов, дешифратор, реле представителей определяющих параметров испытуемой схемы, блок контроля и счетчик отказовых ситуаций.Предлагаемое устройство отличается от известных тем, ЧТО в нем генератор тактовых импульсов подключен к счетчику импульсов, выходы которого подсоединены к дещифрато- ру сигналов счетчика импульсов, выходы которого подключены к счетчикам отказовых ситуаций и к реле представителей определяющих параметров испытуемой схемы, подсоединенной к блоку контроля, подключенному к счетчикам отказовых ситуаций. Предлагаемое устройство позволяет производить перебор произвольных значений определяющих параметров.Блок-схема предлагаемого устройства приведена на чертеже.Генератор 1 тактовых импульсов подсоеди- пен к электронному ключу 2 прекращ^ения перебора ситуаций, соединенного со счетчиком импульсов 3. Счетчик подсоединен к дещиф- ратору 4 сигналов счетчика импульсов и реле 5 представителей определяющих парм.ет- ров испытуемой схемы 6, подсоединенной кблоку контроля 7, в функции которого ВХОДИТиндикация отказа испытуемой схемы и включение счетчиков 8 регистрации отказовых ситуаций.Для проведения испытаний устанавливают 5 значения участков определяющих параметров при помощи потенциометров (для сопротивлений) и магазинов емкостей (для конденсаторов). Генератор 1 тактовых импульсов, определяющий скорость перебора параметров,10 через электронный ключ 2 прекращения перебора ситуаций, последовательно переводит счетчик импульсов 3 из одного состояния в другое. Счетчик импульсов 3 служит для статической записи номера ситуации в двоичном15 коде. Дешифратор 4 сигналов служит для перевода номера ситуации в соответствующие сигналы, подключающие реле 5. Реле 5 подключают соответствующие участки определяющих параметров, значения которых уста-20 новлены заранее, и счетчики блока регистрации отказовых ситуаций.. Сигнал испытуемой схемы поступает на блок контроля 7, который проверяет его в соответствии с критерием отказа и в случае реализации отказовой25 ситуации выдает сигнал на счетчики 8 регистрации отказовых ситуаций.Для проведения матричных испытаний диапазон изменения определяющих параметров разбивают на участки (кванты). Количество30 квантов определяется требуемой точностью Советский патент 1964 года по МПК G01R31/28 G01R31/3177

Описание патента на изобретение SU163822A1

проведения экеперимента. Для моделирования возможных состояний исследуемого устройства составляется матрица ситуаций, где под ситуацией понимается такое состояние устройства, когда каждый из выбранных параметров принимает значение, соответствующее представителю определенного кванта причем в каждой ситуации любой параметр может встретиться только один раз.

При проведении матричных испытаний учитывается дискретное изменение всех определяющих параметров одновременно, поэтому среди них имеется некоторое количество отказовых ситуаций (с точки зрения заданного критерия отказа рассматриваемого устройства). Проводя матричные испытания и опре;Jeлив последовательность отказовых ситуаций, определяют оператор системы в виде булевых функций. Зная оператор системы, задаваемый „булевой функцией, можно решать различные задачи по определению и необхо рц-, ,.j-.днмо.му изменению характеристик исследуемого объекта.

Предмет изобретения

Автоматическое устройство для проведения матричных испытаний, содержащее счетчик нмнульсов, дешифратор, реле представителей определяющих параметров испытуемой схемы, блок контроля и счетчики отказовых ситуаций, отличающееся тем, что, с целью осуществления последовательного перебора произвольных значений определяющих параfvicTpOB, в нем генератор тактовых импульсов подключен к счетчику импульсов, выходы которого подсоединены к дешифратору сигналов счетчика импульсов, выходы которого подключены к счетчикам отказовых ситуаций и к реле представителей определяющих параметров испытуемой схемы, подсоединенной к блоку контроля, подключенному к счетчикам отказовых ситуаций. 31 АшзО шап-t-ri -i

Похожие патенты SU163822A1

название	год	авторы	номер документа
УСТРОЙСТВО для ПРОВЕДЕНИЯ МАТРИЧНЫХ ИСПЫТАНИЙ СТАТИСТИЧЕСКИМ СПОСОБОМ	1966		SU183830A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФИЗИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ СХЕМ	1969		SU255665A1
Устройство для проведения матричныхиСпыТАНий МиКРОэлЕКТРОННыХ CXEM	1979	Колпаков Федор Федорович Шевелев Владимир Алексеевич Сычев Алексей Егорович Клоков Владимир Иванович Милькевич Евгений Алексеевич	SU851414A1
Устройство для проведения матричных испытаний микроэлектронных схем	1979	Колпаков Федор Федорович Шевелев Владимир Алексеевич Сычев Алексей Егорович Семенов Вадим Павлович	SU868778A2
Устройство для проведения матричных испытаний радиоэлектронных схем	1975	Лопухин Владимир Алексеевич Меркурьев Владимир Витальевич Монахов Юрий Евгеньевич Шульгин Евгений Александрович	SU516048A1
Устройство для проведения матричных испытаний статистическим способом	1976	Меркурьев Владимир Витальевич Монахов Юрий Евгеньевич Шульгин Евгений Александрович	SU607166A1
Устройство для определения оптимальных номиналов и допусков параметров элементов радиоэлектронных схем	1977	Шульгин Евгений Александрович Базов Дмитрий Сергеевич Монахов Юрий Евгеньевич Синельников Михаил Петрович Соколов Юрий Паисиевич Веселов Валерий Владимирович	SU717783A1
Устройство для проведения матричных испытаний радиоэлектронных схем	1978	Колпаков Федор Федорович Шевелев Владимир Алексеевич Милькевич Евгений Алексеевич Сычев Алексей Егорович Семенов Вадим Павлович	SU765813A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СБОРА, РЕГИСТРАЦИИ И СТАТИСТИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ ПОЛЕТНОЙ ИНФОРМАЦИИ	1996	Краснопирка А.М. Горшков В.А. Киташин Ю.А. Пинаев С.А. Мазничка Ю.И. Егоршев Е.Ю. Спельников В.И. Алембаторов А.П.	RU2115163C1
Устройство для определения оптимальных допусков и номиналов параметров электрорадиоэлементов	1979	Меркурьев Владимир Витальевич	SU773631A1

Иллюстрации к изобретению SU 163 822 A1

Реферат патента 1964 года АВТОМАТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕДЕНИЯ МАТРИЧНЫХ ИСПЫТАНИЙИзвестны автоматические устройства для автоматического перебора параметров испытуемого устройства, содержащие счетчик импульсов, дешифратор, реле представителей определяющих параметров испытуемой схемы, блок контроля и счетчик отказовых ситуаций.Предлагаемое устройство отличается от известных тем, ЧТО в нем генератор тактовых импульсов подключен к счетчику импульсов, выходы которого подсоединены к дещифрато- ру сигналов счетчика импульсов, выходы которого подключены к счетчикам отказовых ситуаций и к реле представителей определяющих параметров испытуемой схемы, подсоединенной к блоку контроля, подключенному к счетчикам отказовых ситуаций. Предлагаемое устройство позволяет производить перебор произвольных значений определяющих параметров.Блок-схема предлагаемого устройства приведена на чертеже.Генератор 1 тактовых импульсов подсоеди- пен к электронному ключу 2 прекращ^ения перебора ситуаций, соединенного со счетчиком импульсов 3. Счетчик подсоединен к дещиф- ратору 4 сигналов счетчика импульсов и реле 5 представителей определяющих парм.ет- ров испытуемой схемы 6, подсоединенной кблоку контроля 7, в функции которого ВХОДИТиндикация отказа испытуемой схемы и включение счетчиков 8 регистрации отказовых ситуаций.Для проведения испытаний устанавливают 5 значения участков определяющих параметров при помощи потенциометров (для сопротивлений) и магазинов емкостей (для конденсаторов). Генератор 1 тактовых импульсов, определяющий скорость перебора параметров,10 через электронный ключ 2 прекращения перебора ситуаций, последовательно переводит счетчик импульсов 3 из одного состояния в другое. Счетчик импульсов 3 служит для статической записи номера ситуации в двоичном15 коде. Дешифратор 4 сигналов служит для перевода номера ситуации в соответствующие сигналы, подключающие реле 5. Реле 5 подключают соответствующие участки определяющих параметров, значения которых уста-20 новлены заранее, и счетчики блока регистрации отказовых ситуаций.. Сигнал испытуемой схемы поступает на блок контроля 7, который проверяет его в соответствии с критерием отказа и в случае реализации отказовой25 ситуации выдает сигнал на счетчики 8 регистрации отказовых ситуаций.Для проведения матричных испытаний диапазон изменения определяющих параметров разбивают на участки (кванты). Количество30 квантов определяется требуемой точностью

Формула изобретения SU 163 822 A1

SU 163 822 A1

Даты

1964-01-01—Публикация