Способ измерения электрических и неэлектрических параметров Советский патент 1991 года по МПК G01R19/00 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах контроля параметров технологических процессов.

Цель изобретения - повышение точности измерения в условиях воздействия неконтролируемого параметра, неоднородного с исследуемым.

Способ осуществляется следующим образом.

В первом такте с помощью первого и второго измерительных преобразователей измеряют исследуемый параметр в условиях влияния на результат неоднородного с ним неконтролируемого параметра. Статические характеристики измерительных преобразователей можно с требуемой точностью представить в виде линейных функций. Учитывая это, а также, что статические характеристики преобразователей представи- мы линейно-независимыми функциями, результаты измерения NI и Zi посредством первого и второго преобразователей можно представить в виде

Ni-ao + aiX+a2Y(1)

Zt-bo + biX+b2Y.(2)

где Y - неизвестная величина неконтролируемого параметра;

ао. at. 82 и bo, bi. 02 - неизвестные коэффициенты, представляющие статическую характеристику соответственно первого и второго преобразователей.

О

ю о о

Второй, третий и четвертый измерительные такты являются градуировочными и служат для определения неизвестных коэффициентов ао, ai, 32 и bo, bi, b2.

Во втором такте с помощью первого и второго преобразователей измеряют значения первой образцовой меры Mi, однородной с исследуемым параметром. Соответствующие результаты N2 и Zz второго такта можно представить в виде

+ aiMi,(3)

Z2 bo+biMi. (4)

В третьем такте с помощью первого и второго преобразователей измеряют значение второй образцовой меры М2, также однородной с исследуемым параметром, но не равной по значению Mi. Результаты Ыз и 2з третьего такта можно представить в виде Мз°ао+ aiM2,(5)

biMa.(6)

В четвертом такте с помощью первого и второго преобразователей измеряют значение третьей и четвертой образцовых мер, однородных соответственно с исследуемым параметром и с неконтролируемым параметром. Результаты и 2д четвертого такта можно представить в виде

N4° ао + aiMa+ ааМ4.(7)

+ biMa+ b2M4.(8)

Решая совместно уравнения (3), (5) и (7) можно найти значения коэффициентов ао, 81. 32, а решая совместно уравнения (4), (6) и (В), можно найти значения коэффициентов bo, bi, ba.Далее, зная значения коэффициентов ao.ai, аа и bo, bi, b2, можно совместно решить уравнения (1) и (2) относительно X и получить соотношение, определяющее искомую величину исследуемого параметрэ a2(Zi-b0)-fb2(a0-Ni)

aib2-32bi Таким образом результат измерения исследуемого параметра определяется результатами четырех измерительных тактов, полученными на двух измерительных преX

0

5

0

5

0

5

0

образователях, и значениями образцовых мер, и не зависит от значений коэффициентов, определяющих статическую характеристику неконтролируемого параметра. Формула изобретения Способ измерения электрических и неэлектрических параметров, заключающийся в Проведении парэллельных измерений посредством двух измерительных преобразователей, статические характеристики которых представляются линейно-независимыми функциями, в первом такте измеряют исследуемый параметр с неконтролируемым параметром, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения в условиях воздействия неконтролируемого параметра, неоднородного с исследуемым, во втором и третьем тактах измеряют значения соответст- венно первой и второй образцовых мер Mi и М2. однородных с исследуемым параметром, в четвертом такте измеряют сумму третьей и четвертой образцовых мер Мз и Ми, однородных соответственно с исследуемым и с неконтролируемым параметрами, значение исследуемого параметра определяют по формуле

у 32 (Zl - Ьо) + Ь2 (Зр - Mi) 3lb2 - 32bl

где Ni,Zi - результаты измерения исследуемого параметра с неконтролируемым параметром соответственно посредством первого и второго измерительного преобразователя,

30. 91, 32

и bo, bi, b2 коэффициенты статической характеристики первого и второго измерительного преобразовэтеля, определяемые по результатам N2, Мз, N4 и Z2, Za, ТА измерений во втором, третьем и четвертом тактэх первом и втором измерительных преобразователях из решения систем уравнений вида

N2 ao + aiMi N3 ao+aiM2 N4 - ао+31Мз+а2М4

Zi bo+biMi Za bo+biM2

Z3 bo+blM3+02M4

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах контроля параметров технологических процессов. Цель изобретения - повышение точности измерения в условиях влияния на результат измерения неконтролируемого параметра, неоднородного с исследуемым. Способ основан на проведении измерений посредством двух измерительных преобразователей, статические характеристики которых представляются в виде линейно-независимых функций. На каждом преобразователе проводят измерение исследуемого параметра с неконтролируемым параметром. Проведение градуировки коэффициентов статической характеристики преобразователей путем измерения значений трех образцовых мер, однородных с ис- следуемым параметром, и значения образцовой меры, однородной с неконтролируемым параметром, и последующее вычисление значения исследуемого параметра обеспечивает независимость результатуиз- мёрения от значений неконтролируемого параметра и упомянутых коэффициентов.