Устройство обнаружения микродефектов на движущейся светоотражающей поверхности Советский патент 1991 года по МПК G01N21/88 

фиг. г

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к обнаружению дефектов на гладкой поверхности, например поверхнони магнитных дисков.

Целью изобретения является повышение надежности контроля пакета миниди- сковых накопителей информации.

На фиг.1 представлено устройство, общий вид; на фиг.2 - расположение торцов световодов относительно исследуемой поверхности; на фиг.З - пьезокерамическая пластинка с элементами системы фокусировки и передачи отраженного излучения; на фиг.4 - блок-схема управления устройства (оптическая связь показана пунктирной линией, электрическая - сплошной, механическая - двойной линией).

Устройство обнаружения микродефектов на движущейся светоотражающей поверхности (фиг,1) содержит биморфную пьезокерамическую пластинку 1, работающую на изгиб, закрепленную одним концом на основании 2, имеющем привод 3. на котором также укреплены источник 4 (инжек- ционный лазер) и приемник 5 оптического излучения. На поверхности пластинки 1 установлена пара световодов 6,7 (фиг.З), причем один торец освещающего световода 6 совмещен с источником А, а торец принимающего световода 7 - с приемником 5. Два других торца световодов 6.7 с микролинзами 8, 9 закреплены на конце пластинки 1 под углом к ней таким образом, что точка пересечения их оптических осей 10,11 расположена в плоскости исследуемой поверхности 12 (фиг.2). На противоположной поверхности пластинки 1, обращенной к исследуемой поверхности, нанесено металлическое покрытие 13 напротив торцов с микролинзами, образующее обкладку емкостного датчика. Устройство содержит также блок 14 управления (фиг.4), привод 15 исследуемого диска, усилитель 16 сигнала емкостного датчика, блок 17 обработки измерительной информации и регистратор 18.

Устройство работает следующим образом.

По управляющему каналу Улр на блок 14 управления поступает команда начала измерений, по которой блок управления включает привод испытуемого диска 15, источник 4 когерентного излучения, фотоприемник 5. усилитель 16 сигнала емкостного датчика, блок 17 обработки измерительной информации. При достижении рабочей скорости привода магнитного диска 15 блок управления включает привод 3, который

вводит устройство между дисками в пакет минидискового накопителя информации. При этом излучение от источника 4, пройдя через освещающий световод 6, отражается

от исследуемой поверхности 12 и через принимающий световод 7 направляется на приемник 5. За счет перемещения пакета дисков в вертикальном направлении при помощи следящего привода устанавливается

максимальное значение сигнала на приемнике 5. Расстояние между поверхностью пластинки 1 и исследуемой поверхностью поддерживается постоянным благодаря изгибанию пластинки 1 вследствие обратного

пьезоэффекта под действием усиленного усилителем 16 электрического сигнала емкостного датчика, который образован металлическим покрытием 13 и исследуемым диском. При этом обеспечивается постоянство анализируемой площади измеряемой поверхности. Дефектная поверхность диска изменяет интенсивность излучения, отраженного в зеркальном направлении, что с помощью приемника, 5 после обработки в

блоке 17 информации фиксируется регистратором 18.

После завершения зондирования поверхности диска блок 14 управления выключает привод 15, источник 4, приемник 5,

усилитель 16, блок 17 информации и реверсирует привод 3, который возвращает устройство в исходную позицию.

Использование изобретения позволяет выявить микродефекты поверхности магнитных дисков, собранных в пакет минидискового накопителя информации, что повышает надежность контроля.

Формула изобретения

Устройство обнаружения микродефектов на движущейся светоотражающей поверхности, содержащее систему фокусировки излучателя, автоподстройки фокуса и передачи зеркально отраженного

луча приемнику, отличающееся тем. что, с целью повышения надежности контроля пакета минидисковых накопителей информации, система фокусировки излучения выполнена в виде световода со сферической

микролинзой, система передачи зеркально отраженного луча приемнику излучения выполнена в виде второго световода с микролинзой на приемном конце, система автоподстройки снабжена пьезокерамической пластиной, на одной поверхности которой закреплены световоды, а на другой нанесено металлическое покрытие напротив торцов световодов.

Ј ъпф

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к обнаружению дефектов на гладкой поверхности, например на поверхности магнитных дисков. Цель изобретения - повышение надежности контроля пакета минидисковых накопителей информации. Достижение цели осуществляется за счет того, что системы фокусировки излучения и передачи зеркально отраженного луча выполнены в виде пары световодов 6, 7 со сферическими микролинзами 8, 9, а автоподстройка реализуется с помощью пьезокерамической пластинки, на которой укреплены световоды 6, 7, и емкостного датчика, образованного металлическим покрытием на поверхности пьезокерамической пластинки и исследуемым магнитным диском. 4 ил.

1 ЗПф

II I I

в

Ч 9

tX

С/

и я

и

jmi у

9086S9I

Г

1

фи$4