Устройство фотометрического контроля движущихся материалов Советский патент 1991 года по МПК G01N21/86 

Изобретение относится к контролю совйств материалов фотометрическими методами и может быть использовано в химико-фотографической, бум ажио-целлюлозной, элемронной промышленности для контроля дефектов движущихся материалов.

Цель изобретения - увеличение надежности работы устройства и упрощение его оптической системы.

На фиг. 1 приведена принципиальная схема реализации устройства; на фиг. 2 - зависимости изменения тока питания диода от прикладываемого напряжения при разных коэффициентах пропускания оптической системы.

Сущность изобретения заключается в том, что светодиод одновременно служит и источником излучения, и фотоприемником Исключение из устройства специального элемента для приема излучения позволяет упростить оптическую схему и увеличить надежность работы устройства.

Устройство содержит свегодиод 1. например типа АЛ-102, систему 2 питания светодиода, к выходам которой подключен светодиод электронную систему 3 для измерения тока питание светодиода, подключенную к дополнительному сопротивлению 4, оптическую систему для сбора излучения, состоящую например из линзы 5, диафрагмы 6 v зеркала 7. Зеркало расположено перпендикулярно оптической оси, соединяющей светодиод и центр линзы 5, в точке, оптически сопряженной с точкой, в которой расположен светодиод.

Устройство работает следующим обра - эом.

К сьетодиоду 1 прикладывается напряжение от системы 2. Излучение от свеюди- ода проходит через линзу 5, диафрагму 6. движущийся материал, отражается от зер- K3J d 7, снова проходит через движущийся материал, диафрагму 6 и линзой 5 фокусируется на светодиоде 1. Под действием лучистого потока, попадающего на светодиод,

Ё

о

V4 hO CJ

oS

изменяется сопротивление и, следовательно, ток питания светодиода. Ток питания измеряется с помощью системы 3.

В устройстве отсутствует специальный элемент для приема излучения, который мо- жет выходить из строя. Тем самым вдвое увеличивается надежность работы фотометрической части устройства, упрощается его оптическая система и достигается цель изобретения.

На фиг. 2 показаны зависимости изменения тока питания Д1 от напряжения питания U при разных значениях диаметра D диафрагмы 6. Приведенные экспериментальные кривые иллюстрируют работоспо- собность устройства.

Кроме того, предлагаемое устройство может работать и без поворотного зеркала 7, например, при контроле дефектов зеркально покрытых плоских прозрачных мате- риалов, в частности стеклянных. В таком устройстве дефекты, проходя мимо точки (зоны) контроля контролируемого материала, модулируют отраженное излучение, которое попадает на светодиод и изменяет его ток питания. Поэтому при достижении изменения тока питания определенного уровня можно судить о наличии дефекта на контролируемом материале, чем также достигается положительный эффект.

Формула изобретения Устройство фотометрического контроля движущихся материалов, содержащее в качестве источника излучения светодиод, соединенный с системой питания, и оптически сопряженный через оптическую систему сбора излучения с плоскостью движения контролируемого материала, отличающееся тем, что. с целью увеличения надежности, устройство дополнительно содержит сопротивление, соединенное последовательно с системой питания светодиода, и электронную систему измерения тока, соединенную с указанным сопротивлением, при этом оптическая система сбора излучения выполнена так, что фокальная плоскость расположения источника излучения и фокальная плоскость сбора рассеянного излучения совпадают, а светодиод установлен в точке пересечения этих фокальных плоскостей с оптической осью оптической системы сбора излучения.

Изобретение относится к контролю свойств материалов фотометрическими методами. Цель изобретения - увеличение надежности устройства. Система сбора излучения от светодиода выполнена так, что точка, в которой собирается излучение, совпадает со светодиодом, а в электронную схему устройства введена система измерения тока питания светодиода. Это позволяет исключить специальный элемент для приема излучения, что приводит к увеличению надежности устройства и упрощению его оптической системы. 2 ил.

Фие.1

9 8

1 6 5 4 5 2 1

. АЭ(отн. ед)

10 15 70 25 t/fff) Фыг2