Мера отклонения формы Советский патент 1993 года по МПК G01B5/28 

Описание патента на изобретение SU1715018A1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при разработке и изготовлении меры отклонения формы для аттестации и поверки приборов, предназначенных дЛя измерения параметров отклонения формы профилей и поверхностей, в частности кругломер.ов.

Целью изобретения является упрощение аттестации и поверок и уменьшение материалоемкости.

На чертеже показана схема меры отклонения формы.

Мере содержит основание 1 с отверстием 2 на конце и с образцовой

поверхностью 3, имеющей рельеф с калиброванным отклонением формы, закрепленный на основании 1 кронштейн ч с базовой плоской поверхностью 5, установленную на этой поверхности концевую меру 6 длины, скрепленныйс основанием 1 с возможностью поворота идентичный ему элемент 7 с образцовой поверхностью 8 и с отверстием на конце с осью, параллельной оси симметрии концевой меры 6, закрепленную на элементе 7 пластину 9с базовой цилиндрической поверхностью 10, зажимную скобу It и вал 12, предназначенный для Соединения элемента 7 с основанием Т,

Меру собирают, следующим образом Соединяют с помощью вала 12 основание t и элемент 7 так, чтобы в плоскости вала 12 образцовая поверхность 3 плавно без уступа переходила в образцовую поверхность 8, -. Устанавливают на плоскую поверхность 5 кронштейна концевую меру 6, поворачивают элемент 7 на валу 12 до контакта цилиндрической поверхности 10 пластины 9с концевой мерой 6 и с помощью зажимной скобы 11 скрепляют между собой кронштейн , кон-, цевую меру 6 и пластину 9. При этом между поверхностями Зи 8 образуется уступ, высота.которого определяется из выражения:

г„

п

промежуточное значение усгдетупа; . .

АН - отклонение размера концевой меры длины, входящей в комплект концевых мер, от размера основной концевой меры, обеспечивающей наименьшее отклонение формы; L - расстояние между осью вала и линией контакта цилиндрической поверхности пластины с концевой мерой длины; If, - расстояние между геометрической ocbio вала и выбранным сечением.

Выбранные сечения маркируют, например, двумя параллельными рисками на образцовой поверхности.

Аттестация меры сводится к .определению параметровUН, 1„ и L,

Поверку масштабов увеличения исследуемого прибора осуществляют одной мерой за счет использования различных сечений образцовой поверхности с требуемой высотой уступов, создающих профили с теоретически бесконечным спектром. В прибора), измеряющих отклонения формы прс)фияёй и поверхностей, полоса пропускания ограничивается стандартизованными фильтрами, устанавливаемыми с целью обеспечения единства измерений. Сужение спектра выходного сигнала прибора приводит к формированию переходной характеристики с пологим фронтоМ| МО при этом выходной сигнал достигает уровня, пропорционального высоте уступа.

Погрешность от смешения границы Полосы пропускания фильтра определяется по переходной характеристике Длительность фронта L переходной характеристики находится с помощью выражения

K3)

L

n.V

014

де К О,3676 - коэффициент пропорциональности, полученный расчетным путем для идеального двухзвенного RC-фильтра;.

1 длина измеряемого профиля, базовая длина; предельное наибольшее или

n наименьшее число равномерно расположенных на базовой длине неровностей синусоидальной формы, .пропускаемое станлартизованным фильтром на уровне 0,75

V линейная скорость ощупыоцвания профиля; Vj г скорость записи выходного

сигнала

Относительное изменение длительости фронта переходной характерисики определяется выражением

г

. J

2: ,

Ч , § |

де

измеренные значения дли- , тельности фронта переход ной характеристики;

Чдействительное, расчетное или аттестованное значение длительности фронта. В соответствии с методикой приеденной в ГОСТе 8, 8l-82 рассчиывается значение коэффициента К о формуле

1

К,

к

Дальнейшие расчеты проводится в полном соответствии со стандартной методикой. Таким образом, описанная мера отклонения формы позволяет определить наибольшую суммарную систематическую погрешность поверяемого прибора. Ф о р мула изобретени

Мера отклонения формы, содержащая основание с образцовой поверхностью, Имеющей рельеф с калибро5 17 ванным отклонением формы, закрепленный на одном из концов основания кронштейна с базовой плоской поверхностью обращенной в сторону обраэцовой поверхности, и установленную на базовой поверхности концевую меру длину, о т л и.ч а ю щ а яс я тем, что, с целью упрощения ат тестации и поверок и уменьшения материёлоемкости, она снабжена скрепленным с основанием с возможностью .поворота идентичным ему элементом с образцовой поверхностью, расположенной последовательно с образцовой

поверхностью основания, и с отверсти8 ем на одном из концов с осью, параллельной продольной оси симметрии концевой меры, закрепленной на дру- , гом конце элемента напротив кронштейна параллельно ему пластиной с базовой цилиндрической поверхностью, зажимной скобой, контактирующей с поверхностями кронштейна и пластины| расположенными напротив их базовых поверхностей, и установленным в отверстии элемента валом, а основание выполнено с отверстием на другом конце, соосным с отверстием элемента, в котором установлен ёал.

Похожие патенты SU1715018A1

название год авторы номер документа
Образцовая мера для аттестации и поверки приборов для измерения параметров неровностей профилей и поверхностей 1984
  • Коловский Юрий Васильевич
  • Чихалов Валерий Сергеевич
  • Птичкина Наталья Дмитриевна
  • Сачков Виктор Михайлович
  • Скоробогатов Игорь Яковлевич
SU1562672A1
Мера для поверки приборов контроля биений поверхностей деталей типа подшипникового щита 1989
  • Пинус Евсей Ааронович
  • Эфрос Исаак Еремеевич
  • Розенберг Эммануил Израйлевич
SU1732139A1
Компаратор для поверки плоскопараллельных концевых мер длины 2021
  • Степанов Сергей Сергеевич
  • Петров Антон Владимирович
  • Степанов Сергей Николаевич
RU2767709C1
ОПТИЧЕСКИЙ СТЕНД 2021
  • Калинин Александр Витальевич
  • Хиленко Владимир Павлович
RU2767804C1
Образцовая мера для аттестации и поверки приборов, измеряющих параметры неровностей профилей и поверхностей 1984
  • Чихалов Валерий Сергеевич
  • Птичкина Наталья Дмитриевна
  • Кучин Альфред Александрович
SU1562673A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕРЫ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ 1991
  • Бабаджанов Л.С.
RU2025652C1
Мера толщины покрытий 1988
  • Цейтлин Яков Михайлович
SU1603185A1
Способ изготовления образцовой меры толщины полупроводниковых слоев 1980
  • Бабаджанов Л.С.
  • Оксанич А.П.
  • Спектр С.А.
  • Тузовский А.М.
  • Шаповал В.Я.
SU921385A1
Стенд для поверки приборов активного контроля 1973
  • Этингоф Михаил Иосифович
SU448943A1
Способ определения погрешности прибора 1989
  • Антонов Владимир Станиславович
  • Круглов Владимир Петрович
  • Прищепа Михаил Иванович
  • Стеклова Ирина Владимировна
  • Шибанов Александр Николаевич
SU1741073A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 715 018 A1

Реферат патента 1993 года Мера отклонения формы

Изобретение относится к измери-ч тельной технике и может быть использовано при' разработке и изготовлении меры отклонения формы.для аттестации и поверки приборов. Цель изобретения - упрощение аттестации и поверок и уменьшение материалоемкос- . ти, Соединяют основание и элемент так, чтобы в-ПЛОСКОСТИ вала образцовая поверхность плавно без уступа переходила в идентичную образцовую•поверхность. Устанавливают на плост-кую поверхность кронштейна кольцевую меру, поворачивают идентичный элемент на валу до контакта базовой цилиндрической поверхности плас.ти- ны с кольцевой мерой и с помощью скобы скрепляют между собой кронштейн, кольцевую меру и пластину. Между образцовой поверхностью и идентичной поверхностью образуется уступ. Аттестация меры сводится к <5прелелению параметров 6Н, If, и h, где АН - отклонение размерэ концевой меры длины, входящей в комплект концевых MepjOT размера основной концевой меры, обеспечивающей наименьшее, отклонение формы; 1п "" расстояние между геометрической • осью вала и выбранным сечением; h - расстояние между геометрической осью вала и линией контакта цилиндрической поверхности пластины с концевой мерой длины, 1 ил.\S(Л

Формула изобретения SU 1 715 018 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1993 года SU1715018A1

Образцовая мера для аттестации и поверки приборов для измерения параметров неровностей профилей и поверхностей 1984
  • Коловский Юрий Васильевич
  • Чихалов Валерий Сергеевич
  • Птичкина Наталья Дмитриевна
  • Сачков Виктор Михайлович
  • Скоробогатов Игорь Яковлевич
SU1562672A1

SU 1 715 018 A1

Авторы

Коловский Ю.В.

Даты

1993-06-23Публикация

1984-04-25Подача