СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНКИ ЖИДКОСТИ Советский патент 1965 года по МПК G01B15/02 G01D5/26 

Описание патента на изобретение SU171592A1

В известных способах контроля процесса увлажнения, например по расходу увлажняющего раствора или липкости краски на печатных машинах, применяемых в полиграфической промышленности, измерение косвенных и контролируемых в них параметров (расход и липкость) зависит от целого ряда трудно учитываемых факторов.

Предлагаемый способ определения толщины пленки жидкости на поверхности негигроскопического твердого тела произвольной формы дает возможность измерять толи.щну слоя жидкости непосредственно на измеряемом объекте (например, толщину пленки воды на форме офсетной печатной машины). Способ заключается в том, что на исследуемую поверхность направляют пучок инфракрасного излучения и по изменению интенсивности отраженного от подложки пучка находят искомую толщину пленки.

Источник излучения с фильтром, пропускающим участок спектра в полосе поглощения жидкости, располагают над поверхностью, покрытой пленкой жидкости. Излучение источника проходит пленку жидкости, отражается от поверхности раздела, вторично проходит

пленку жидкости и регистрируется датчиком. Жидкости имеют полосы поглощения в инфракрасной области электромагнитного излучения. Так у воды, например, максимумы поглощения наблюдаются при длинах волн 1,5; 3; 6 мк и др. Изменение интенсивности излучения, отраженного границей раздела, ироисходит из-за поглощения в жидкости и является, при регистрации датчиком, мерой толщины слоя жидкости.

Предлагаемый способ можно использовать для бесконтактного, практически безынерционного контроля толщины пленки жидкости в условиях динамики технологического процесса.

Предмет изобретения

Способ определения толщины пленки жидкости на поверхности негигроскопического твердого тела, например на форме офсетной печатной машины, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, направляют на исследуемую поверхность пучок инфракрасного излучения и по изменению интенсивности отраженного от иодложки пучка находят ИСКОМУЮ толщину пленки.

Похожие патенты SU171592A1

название год авторы номер документа
Способ регистрации процессов осаждения на поверхность твердого тела с двумерной визуализацией и устройство для его осуществления 2017
  • Конопский Валерий Николаевич
RU2661454C1
СПОСОБ ПРИКРЕПЛЕНИЯ ЭТИКЕТОК К ПРЕДМЕТАМ 2010
  • Метсайоки Кати
  • Митчелл Ноэль
RU2555791C2
КАРТОЧКА ДЛЯ ФИНАНСОВЫХ ТРАНСАКЦИЙ 2000
  • Вебб Лайза
  • Виджилетти Джуди
  • Лаш Эллен
  • Фаенза Уильям Дж. Мл.
RU2265247C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ НА ПОГЛОЩЕНИЕ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ 2008
  • Вольпян Олег Дмитриевич
  • Курятов Владимир Николаевич
  • Обод Юрий Александрович
  • Яковлев Петр Петрович
RU2377543C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2009
  • Конопский Валерий Николаевич
RU2442142C2
Способ измерения толщины тонкопленочных покрытий на теплопроводных подложках 2017
  • Иванова Наталья Анатольевна
  • Зыков Александр Юрьевич
RU2664685C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОФИЛЯ МЕНИСКА ЖИДКОСТИ 1997
  • Никитин А.К.
RU2108563C1
СПОСОБЫ ДВУХЛУЧЕВОЙ ИК-ФУРЬЕ СПЕКТРОСКОПИИ И УСТРОЙСТВА ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ИССЛЕДУЕМОГО ВЕЩЕСТВА В ПРОБАХ С НИЗКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТЬЮ 2001
  • Дебречени Мартин П.(Us)
  • О`Нил Майкл П.
RU2265827C2
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ФЛЮИДА В СКВАЖИНЕ 2004
  • Дифоджио Рокко
  • Уолков Арнолд
  • Бергрен Пол
  • Перес Луис
RU2361192C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ЗАТУХАНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ ИНФРАКРАСНОГО ДИАПАЗОНА ЗА ВРЕМЯ ОДНОГО ИМПУЛЬСА ИЗЛУЧЕНИЯ 2018
  • Никитин Алексей Константинович
  • Князев Борис Александрович
  • Герасимов Василий Валерьевич
RU2681658C1

Реферат патента 1965 года СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНКИ ЖИДКОСТИ

Формула изобретения SU 171 592 A1

SU 171 592 A1

Даты

1965-01-01Публикация