СПОСОБ АНАЛИЗА ИОНОВ, БЛИЗКИХ ПО МАССЕ Советский патент 1965 года по МПК G01N27/62 H01J49/26 

Известны способы анализа ионов, близких ло массе, с применением масс-спектрометров с высоким разрешением.

Предложевный способ отличается от известного тем, что в .масс-Спектрометре применен ионный источник с отрицательной поверхностной ионизацией, позволяющий повысить точность анализа.

Сущность изобретения поясняется на примере анализа серы в присутствии кислорода. Здесь исключение влияния кислорода на результаты определепия серы достигается применением в масс-спектрометре ионного источника с отрицательной поверхностной ионизацией. При температуре катода 2500-2800°К образуются только атомные отрицательные ионы, т. е. ионы 0 на катоде не образуются. Ионы S образуются «а поверхности катода из молекул сернистых соединений.

Предмет изобретения

Способ анализа ионов, близких по массе, с применением масс-спектрометра, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, применяют ионный источник с отрицательной поверхностной ионизацией.