СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА И ТОЛЩИНЫ СТЕНКИ В ПРОЦЕССЕ ЕЕ ИЗГОТОВЛЕНИЯ Советский патент 2005 года по МПК G01B11/08 

Похожие патенты SU1736245A1

название год авторы номер документа
Способ измерения толщины стенки прозрачных труб и устройство для его осуществления 1988
  • Никонов Михаил Павлович
  • Хейфец Матильда Моисеевна
SU1585670A1
Двухлучевой интерферометр 2018
  • Угожаев Владимир Дмитриевич
RU2697892C1
Способ измерения геометрических параметров колец 1989
  • Куликов Владимир Николаевич
SU1668857A1
Способ измерения геометрических параметровСТЕКляННыХ ТРуб или СТЕКлОВОлОКНА ВпРОцЕССЕ ВыТяжКи 1979
  • Цедик Александр Владимирович
  • Тикунов Юрий Борисович
  • Фирсов Виталий Михайлович
  • Шемчук Анатолий Алексеевич
  • Юров Павел Степанович
  • Аникиев Ювеналий Григорьевич
  • Петров Валентин Алексеевич
  • Госьков Павел Иннокентьевич
  • Галиулин Равиль Масгутович
SU836518A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВОГО СТЕКЛА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1998
  • Артюх Е.В.
  • Буреев Ю.К.
  • Карпов А.И.
  • Румянцев В.Н.
RU2146355C1
Эллипсометр 2016
  • Гуревич Алексей Сергеевич
RU2638092C1
ОПТИЧЕСКИЙ КОЛЛИМАТОР ДЛЯ СВЕТОДИОДНЫХ ИСТОЧНИКОВ СВЕТА 2012
  • Сунь Ли Вэй
  • Юн Ли
  • Чэн Ли
  • Сунь Янг Мэн
RU2670177C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СТЕНОК ДЕТАЛЕЙ 1998
  • Парнасов В.С.
  • Маклашевский В.Я.
RU2158900C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ПРОПУСКАНИЯ ОБЪЕКТИВА 1991
  • Ковальский Э.И.
  • Васильев И.А.
RU2006809C1
ЛАЗЕРНЫЙ АВТОКОЛЛИМАЦИОННЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ 2002
  • Кеткович А.А.
  • Маклашевский В.Я.
RU2224243C1

Реферат патента 2005 года СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА И ТОЛЩИНЫ СТЕНКИ В ПРОЦЕССЕ ЕЕ ИЗГОТОВЛЕНИЯ

Способ измерения диаметра и толщины стенки прозрачных трубок в процессе ее изготовления, заключающийся в том, что формируют первый коллимированный световой пучок, направляют его на измеряемый объект под углом β=45-75° к его оси, регистрируют пучки, отраженные от наружной и внутренней поверхностей измеряемого объекта, измеряют расстояние между отраженными пучками и определяют диаметр и толщину стенки объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, формируют второй коллимированный световой пучок, направляют его на измеряемый объект симметрично относительно оси объекта со смещением S вдоль этой оси, определяемым из выражения

S=D1/(2 sinβ),

определяют расстояние между отраженными пучками второго пучка, а диаметр D и толщину В стенки измеряемого объекта определяют по выражениям

D=(D1+D2)2; B=(B1+B2) 2,

где В1 и В2 - расстояния между отраженными пучками от наружной и внутренней поверхностей первого и второго световых пучков соответственно;

D1 и D2 - расстояния между отраженными пучками от наружной поверхности объекта первого и второго световых пучков соответственно.

SU 1 736 245 A1

Авторы

Хасанов З.М.

Надыров Р.Г.

Гиниятуллин Н.И.

Воронин Е.С.

Даты

2005-06-27Публикация

1989-09-21Подача