Способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей Советский патент 1992 года по МПК G01B11/24 

Описание патента на изобретение SU1747881A1

СУ1

С

Похожие патенты SU1747881A1

название год авторы номер документа
Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей 1990
  • Курибко Анатолий Александрович
  • Селезнев Николай Сысоевич
SU1830445A1
Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей 1990
  • Курибко Анатолий Александрович
  • Селезнев Николай Сысоевич
SU1810750A1
УСТРОЙСТВО ЮСТИРОВКИ ДВУХЗЕРКАЛЬНОЙ ЦЕНТРИРОВАННОЙ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ 2011
  • Балоев Виллен Арнольдович
  • Иванов Владимир Петрович
  • Ларионов Николай Петрович
  • Лукин Анатолий Васильевич
  • Мельников Андрей Николаевич
  • Скочилов Александр Фридрихович
  • Ураскин Андрей Михайлович
  • Чугунов Юрий Петрович
RU2467286C1
Устройство для контроля поверхностей 1990
  • Баран Олег Степанович
  • Маврин Сергей Васильевич
  • Рафиков Рафик Абдурахимович
SU1770738A1
ГОЛОГРАФИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РАДИУСОВ КРИВИЗНЫ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2020
  • Лукин Анатолий Васильевич
  • Мельников Андрей Николаевич
  • Курт Виктор Иванович
  • Садрутдинов Айнур Исламутдинович
RU2746940C1
СПОСОБ ЮСТИРОВКИ ДВУХЗЕРКАЛЬНЫХ ЦЕНТРИРОВАННЫХ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ 2007
  • Иванов Владимир Петрович
  • Ларионов Николай Петрович
  • Лукин Анатолий Васильевич
  • Нюшкин Александр Алексеевич
RU2375676C2
Способ контроля радиуса кривизны сферических поверхностей 1975
  • Казанкова В.В.
  • Ларионов Н.П.
  • Лукин А.В.
  • Мустафин К.С.
  • Рафиков Р.А.
SU557621A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЙ ДЕФЕКТОВ НА АСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКОЙ ДЕТАЛИ (ВАРИАНТЫ) 2015
  • Ларионов Николай Петрович
  • Агачев Анатолий Романович
RU2612918C9
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕЦЕНТРИРОВКИ ОПТИЧЕСКОЙ ОСИ АСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ 2021
  • Семенов Александр Павлович
  • Патрикеев Владимир Евгеньевич
  • Никонов Александр Борисович
  • Морозов Алексей Борисович
  • Насыров Руслан Камильевич
RU2758928C1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
  • Герловин Б.Я.
RU2263279C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 747 881 A1

Реферат патента 1992 года Способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей

Изобретение относится к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет уменьшения количества составляющих погрешности контроля и упрощения средств реализации. При освещении контролируемой поверхности преобразуют излучение от светящейся точки в коллимированный пучок и направляют его на объект через пропускающую осевую образцовую голограмму, формируют автоколлимационное изображение светящейся точки и путем последовательно,- го совмещения вершины и центра кривизны поверхности с изображениями светящейся точки в ненулевых порядках дифракции образцовой голограммы сравнивают радиус контролируемой поверхности с расчетным значением. 2 з п ф-лы, 3 ил

Формула изобретения SU 1 747 881 A1

Изобретение относится к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса - кривизны оптических сферических выпуклых и вогнутых поверхностей

Известен ар око71лимационный способ онтроля радиуса кривизны оптических Сферических поверхностей, основанный на формировании точечного источника на оси контролируемой поверхности, взаимном перемещении точечного источника и контролируемой поверхности вдоль этой оси до получения автоколлимационного изображения точечного источника в центре кривизны в вершине контролируемой поверхности.

Недостатком данного способа является необходимость измерения радиуса кривизны Р, т.е. значительных линейных расстояний, что снижает точность контроля а случае больших (выше нескольких метров)

значений Р, особенно при больших апертурах. - Известен способ контроля радиуса кривизны сферических поверхностей, основанный на получении автоколлимационного изображения светящейся точки от контролируемой поверхности и переносе его с помощью отражательнои образцовой осевой искусственной (синтезированной) голограммы.

Однако известный способ характеризуется невысокой точностью и также сложностью его реализации

Цель изобретения - повышение точности.

Согласно способу контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, заключающемуся в том, что освещают контролируемую поверхность, формируют автоколлимационное изображение светящейся точки от контролируемой

/

2

XI 00

оо

поверхности и сравнивают радиус контролируемой поверхности с расчетным рассто- янием на оси образцовой осевой голограммы, при освещении контролируемой поверхности преобразуют излучение от 5 светящейся точки в коллимированный пучок и направляют его на объект через осевую . образцовую голограмму, выполненную пропускающей, а сравнение радиуса контролируемой поверхности с расчетным 10 расстоянием осуществляют путем последовательного совмещения вершины и центра кривизны поверхности с автоколлимационными изображениями светящейся в ненулевых порядках дифракции образцовой 15 голограммы.

Кроме того, с целью повышения точности контроля вогнутых поверхностей вершину HI центр кривизны контролируемой поверхности совмещают с действительным 20 и мнимым изображениями светящейся точки в симметричных порядках дифракции голограммы соответственно.

Кроме того, с целью повышения точности контроля выпуклых поверхностей об- 25 разцовая осевая голограмма выполнена в виде двух соосно размещенных на одной подложке голограмм, а вершину и центр кривизны контролируемой поверхности совмещают соответственно с изображениями 30 светящейся точки от каждой из двух голограмм.

На фиг. 1-3 приведены схемы для реализации предлагаемого способа. На фиг. 1 приняты следующие обозначения: 1 -светя- 35 щаяся точка (точечный источник); 2 - контролируемая вогнутая оптическая поверхность с радиусом кривизны Р; 3 - Пропускающая образцовая осевая голо- - объектив; 5 - коллимированный 40 монохр 6матйческий пучок света, освещающий голограмму 3; 6 - мнимое изображение светящейся точки 1, сформированное голограммой 3 в -1-м порядке дифракции на расстоянии -Р от голограммы; 7-45 действительное изображение светящейся точки 1, сформированное голограммой 3 в + 1-м порядке дифракции на расстоянии + Р от голограммы; 8 и 9 - центр кривизны и вершина контролируемой поверхности 2 со- 50 ответственно; 10 - контрольный прибор (автоколлиматор, интерферометр); 11 - отсчетное устройство для измерения относительного перемещения поверхности 2 и голограммы 3.55

Способ осуществляют следующим образом.

Между светящейся точкой 1 и контролируемой поверхностью 2 устанавливают голограмму 3. С помощью объектива 4

преобразуют излучение светящейся точки 1 в коллимированный монохроматический пучок света 5, параллельный оси голограммы 3, и формируют из него в проходящем свете с помощью голограммы 3 в ее симметричных порядках дифракции (например, +1-м и -1-м, или +2-м и -2-м и т д) мнимое 6 и действительное 7 изображения светящейся точки на расчетном (т.е известном, фиксированном) расстоянии 2Р один от другого. Взаимным перемещением вдоль кол- лимированного пучка света 5 совмещают центр кривизны 8 поверхности 2 с мнимым изображением 6 светящейся точки 1 и в ненулевом порядке дифракции голограммы 3 получают с помощью контрольного прибора 10 автоколлимационное изображение светящейся точки 1 отражением лучей от поверхности 2.

В этом положении с помощью отсчетно- го устройства 11 производят первый отсчет взаимного расположения поверхности 2 и голограммы 3. Далее взаимным перемещением вдоль пучка света 5 поверхности 2 и голограммы 3 совмещают вершину поверхности 2 с действительным изображением 7 светящейся точки 1 и в ненулевом порядке дифракции голограммы получают с помощью прибора 10 автоколлимационное изображение светящейся-очки 1 и производят второй отсчет по шкале отсчетного устройства 11.

По разности двух отсчетов определяют величину и знак отступления контролируемого радиуса Р от расчетного расстояния 2Р между изображениями 6 и 7.

При контроле выпуклых поверхностей образцовую осевую голограмму 3 выполняют в виде двух соосно размещенных на одной подложке голограмм, а вершину и центр кривизны контролируемой поверхности совмещают соответственно с изображениями светящейся точки от каждой из двух голограмм.

Изобретение позволяет повысить точность контроля, исключить необходимость применения нерационального многообразия других методов и средств контроля за пределами диапазона использования автоколлимационного метода, а также реализовать единый воспроизводимый для любого оптического производства способ, контроля радиусов пробных стекол на базе использования синтезированных голограмм.

Формула изобретения

1. Способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, заключающийся в том, что освещают поверхность, формируют автоколлимационное изображение светящейся точки от контролируемой поверхности и сравнивают радиус контролируемой поверхности с расчетным расстоянием на оси образцовой осевой голограммы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, при освещении контролируемой поверхности преобразуют излучение от светящейся точки BI коллимйрованный пучок и направляют его на объект через осевую образцовую голограмму, выполненную пропускающей, а сравнение радиуса контролируемой поверхности с расчетным расстоянием осуществляют путем последовательного совмещения вершины и центра кривизны поверхности с изображениями светящейся точки в ненулевых порядках дифракции образцовой Голограммы.

0

5

2.Способ по п. 1,отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля вогнутых поверхностей, вершину и центр кривизны контролируемой поверхности совмещают с действительным и мнимым изображениями светящейся точки в симметричных порядках дифракции голограммы соответственно.3.Способ по п. 1,отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля выпуклых поверхностей, образцовая осевая голограмма выполнена в виде двух соосно размещенных на одной подложке голограмм, а вершину и центр кривизны контролируемой поверхности совмещают соответственно с изображениями светящейся точки от каждой из двух голограмм

Фив.1

фиг. 3

ПП

- x

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1992 года SU1747881A1

Способ контроля радиуса кривизны сферических поверхностей 1975
  • Казанкова В.В.
  • Ларионов Н.П.
  • Лукин А.В.
  • Мустафин К.С.
  • Рафиков Р.А.
SU557621A1
кл
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 747 881 A1

Авторы

Курибко Анатолий Александрович

Селезнев Николай Сысоевич

Даты

1992-07-15Публикация

1990-03-11Подача