Устройство для измерения поверхностных деформаций Советский патент 1992 года по МПК G01N27/82 

Г Т г гЧ-J

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение производительности и информативности. В процессе сканирования магнитных головок 23 и 14 группы носителей 20 исследуемой (Н.И.) и эталонного объектов (Н.Э.) с обмоток МГ 23 и на входы импульсного усилителя 35 поступают последовательность импульсных ЭДС. В зависи15 1720 НУ 23 5 15 мости от интенсивности и характера (знака) деформации частота импульсных ЭДС, поступающих на вход ИУ 35, изменяется, а частота импульсных ЭДС, поступающих с обмотки МГ 14, сохраняется постоянной, равной частоте записи магнитных меток на НЭ, когда на НИ и Н.Э. синхронно наносились серии меток. В соответствии с различием частот импульсов с выходов триггеров 36 на узлы линейных интеграторов 37 поступают меандры, период каждого из которых отвечает деформированному состоянию соответствующих участков 19 объектов. После сравнения сигналов, поступающих с PC-ячеек 46, 47, и сигналов, поступающих с общих PC-ячеек 58, 59, на входы Т-образных ПУС поступает группа сигналов постоянного тока, уровни которых соответствуют .збсолют- ным значениям локальных деформаций на различных участках объекта, а полярность сигналов - знаку локальных деформаций. 3 ил. сл с

. 2

ojty/mmw/////mmr/// t

о

t

И

0

®

Фг/а.З

t

sr-W

н i + t