Способ измерения толщины покрытия на поверхности пленочного материала Советский патент 1993 года по МПК G01B7/06 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в производстве полиимидной пленки с ф-то- ропластовым покрытием.

Известен способ измерения толщины покрытия на поверхности пленочного материала путем отделения покрытия от образца заданной площади, взвешивания его и расчета толщины покрытия по отношению веса отделенного покрытия к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия.

Недостатком известного технического решения является низкая точность применительно к полиимидной пленке с фтороп- ластовым покрытием, вызванная влиянием адгезии покрытия к поверхности пленочного материала,

Цель изобретения - повышение точности измерения.

Указанная цель достигается тем, что образец полиимидной пленки с фторопласто- вым покрытием, нанесенным в виде водной суспензии, предварительно сушат, спекают частицы фторопласта в термокамере, отделяют фторопластовое покрытие от полиимидной пленки путем растворения последней в растворителе, взвешивают отделенное покрытие и рассчитывают его толщину по отношению веса отделенного покрытия к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия.

На чертеже показана схема устройства для реализации способа.

Устройство содержит рулон 1 с полиимидной пленкой 2, ванну 3 с фторопласто- вой суспензией, вал 4, термокамеру 5, рулон пленки с покрытием 6, датчик толщины покрытия 7.

Способ реализуют следующим образом.

На полиимидную пленку 2 методом окунания в ванну 3 с водной суспензией фторопласта наносят слой суспензии. В термокамере 5 испаряют воду и спекают частицы фторопласта, в результате чего пол: учают полиимидную пленку с фторопласто- вым покрытием, которую принимают на рулон 6.

Для определения толщины покрытия вырезают образец пленки с покрытием за(Л

С

ч ю ел го о 1

данной площади, отделяют фторопласто- вое покрытие от пленки путем растворения пленки в соответствующем растворителе. Взвешивают образец фторопластового покрытия. А толщину покрытия рассчитывают по отношению веса образца покрытия к

произведению площади образца на удельный вес материала покрытия.

Погрешность измерения толщины покрытия по предлагаемому способу не превышает 0,5%.

Изобретение относится к измерительной технике и имеет целью повышение точности способа определения толщины фторопла- стового покрытия, наносимого в виде водной суспензии на полиимидную пленку за счет того, что отделение покрытия с поли- имидной пленки осуществляют путем растворения последней в кислоте или щелочи. Отделенное от образца пленки известной площади покрытие взвешивают, а толщину его определяют по отношению его веса к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия. 1 ил.

Формула изобретения Способ измерения толщины покрытия на поверхности пленочного материала, заключающийся в том, что отделяют покрытие от образца заданной площади, взвешивают отделенное покрытие и рассчитывают его толщину по отношению веса отделенного покрытия к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия, о т-

личающийся тем, что, с целью повышения точности определения толщины фторопластового покрытия, наносимого в виде водной суспензии на полиимидную пленку, образец предварительно высушивают, спекают частицы фторопласта в термокамере, а отделение фторопластового покрытия от по- лиимидной пленки осуществляют путем растворения пленки в растворителе.