Способ контроля толщины фторопластового покрытия Советский патент 1993 года по МПК G01B7/08 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины фторопластового покрытия на полиимидной пленке в процессе нанесения этого покрытия на ее поверхность.

Известен способ контроля толщины покрытия емкостным методом путем размещения пленки с покрытием между, металлической подложкой (первая обкладка конденсатора) и датчиком (вторая обкладка конденсатора) измерения емкости полученного конденсатора и вычислении толщины покрытия по известной формуле емкости плоскопараллельного конденсатора.

Известный способ имеет низкую точность из-за влияния влажности.

Известен способ контроля толщины покрытия путем размещения пленки с нанесенным слоем водной суспензии фторопласта в поле измерительного конденсатора и измерении отклонения емкости конденсатора от этого размещения..

Известный способ имеет низкую точность контроля при изменении проводимости водной фторопластовой суспензии, преимущественно имеющей место при смене ее партий.

Целью изобретения является повышение точности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что участок пленки с нанесенным на него путем окунания в водную суспензию фторопласта покрытием помещают в электрическое поле измерительного конденсатора, измеряют электрический параметр конденсатора и по изменению этого параметра судят о толщине покрытия, при этом перед измерением

XI

ю

о

00 00 XJ

электрического параметра экранируют электрическое поле конденсатора водной суспензией фторопласта на площади, эквивалентной наминальной толщине фторопла- стового покрытия, и при отклонении электрического параметра конденсатора от номинальной величины осуществляют его корректировку.

На фиг. 1 приведена блок-схема процесса нанесения фторопластового покрытия на полиимидную пленку; на фиг. 2 и 3 - в двух сечениях взаимное расположение емкостного измерительного преобразователя и кюветы с суспензией фторопласта для экранирования электрического поля.

Установка для нанесения фторопластового покрытия включает рулон 1 с поли- имидной пленкой 2, ванну с водной фторопластовой суспензией 3. Пленка 2 охватывает вращающийся вал 4, окунаемый во фторопластовую суспензию в ванне 3. Пленка 2 проходит через термокамеру 5 и принимается на рулон 6. Между ванной 3 и термокамерой 5 установлен емкостный измерительный преобразователь 7.

Емкостный измерительный преобразователь 7 (фиг. 2,3) представляет собой П-об-, разный корпус 8, в котором закреплены электроды 9 (обкладки конденсатора). Емко- стный измерительный преобразователь 7 электрически соединен с блоком измерения 10, в котором имеется элемент регулирования 11 (переменный резистор). В плоскости симметрии емкостного измерительного преобразователя 7 помещается пленка с нанесенным покрытием, либо кювета 12 с водной суспензией фторопласта. Кювета изготовлена из органического прозрачного полимера.

Полиимидная пленка с рулона 1 поступает в ванну 3, в которой происходит нанесение на ее поверхность слоя водной фторопластовой суспензии толщиной 15-60 мкм, В термокамере 5 происходит испарение влаги из суспензии и спекание частиц фторрпласта,в результате чего на прлиимид- ной пленке образуется одно или двустороннее покрытие С номинальной толщиной 5-10 мкм.

Способ контроля толщины фторопластового покрытия осуществляют следующим образом.

Предварительно для перерабатываемой партии суспензии осуществляют градуировку емкостного измерительного преобразователя 8 следующим образом. Смоченную водной суспензией фторопласта полиимидную пленку помещают в электрическое поле преобразователя, устанавливают соответствие показаний преобразователя от действия покрытия толщине этого покрытия, измеренной контрольным методом, например, по разности толщин пленки до и после нанесения покрытия.

Затем осуществляют экранирование электрического поля конденсатора водной суспензии фторопласта на площади, эквивалентной номинальной толщине фторопластового покрытия.

Для этого вместо пленки в конденсатор помещают дополненную фторопластовой суспензией из этой же партии кювету 12,

площадь которой подбирают эксперимен- тадьно таким образом, чтобы показания конденсатора при этом были равны или близки (не менее 0,9) к его показаниям при номинальной толщине покрытия. Данная

величина показания конденсатора принимается за номинальную величину. Далее процесс измерения толщины покрытия пленки осуществляют путем помещения пленки, выходящей из ванны 3, в электрическое поле измерительного конденсатора 7, измеряют электрический параметр конденсатора и по изменению этого параметра су- . дят о толщине покрытия.

При смене партии суспензии кювету заполняют новой партией суспензии, помещают в конденсатор, и при отклонении электрического параметра от номинальной величины осуществляют его корректировку. Данный способ контроля толщины покрытия позволяет снизить погрешность измерения по сравнению с прототипом в 4 раза.

Формула изобретения Способ контроля толщины фторопластового покрытия, наносимого на полиимидную пленку путем ее окунания в водную эмульсию фторопласта, заключающийся в том, что участок пленки с нанесенным на него покрытием помещают в

электрическое поле измерительного конденсатора, измеряют электрический параметр конденсатора и по изменению этого параметра судят о толщине покрытия, о т - л и ч а ю щи и с я тем, что, с целью повышенйя точности контроля, перед измерением электрического параметра экранируют электрическое поле конденсатора водной суспензией фторопласта на площади, эквивалентной номинальной толщине фторопластового покрытия, и при отклонении электрического параметра конденсатора от номинальной величины осуществляют его корректировку.

.1

А

Изобретение относится к измерительной технике и имеет целью повышение точности спос.оба контроля толщины фторопластрвого покрытия на полиимидной пленке в процессе нанесения этого покрытия на ее поверхность путем окунания в водную эмульсию фторопласта. Способ заключается в том, что полиимидную пленку, смоченную эмульсией фторопласта, помещают в электрическое поле измерительного конденсатора, измеряют емкость конденсатора и оценив.аюттолщину фторопластового покрытия по величине изменения емкости. Дополнительно перед началом измерения экранируют электрическое поле конденсатора водной суспензией фторопласта на площади, эквивалентной номинальной толщине фторопластового покрытия на полиимидной пленке, корректируют показания измерительного конденсатора относительно номинальной толщины покрытия и после прекращения экранирования конденсатора выполняют контроль толщины фторопластового покрытия. 3 ил.

Риг.З