Способ контроля толщины покрытия Советский патент 1990 года по МПК G01B7/06 

Изобретение относится к измерительной технике и имеет целью повышение точности контроля толщины диэлектрического покрытия на полиимидной пленке за счет контроля его толщины в виде слоя водной эмульсии этого покрытия до его отверждения. Полиимидная пленка 2 с паковки 1 через вал 4 протягивается через ванну 3 с водной эмульсией фторопласта и поступает в камеру 5 сушки и спекания, где происходит отверждение покрытия, и далее наматывается на паковку 6. Водная эмульсия фторопластового покрытия на участке после ванны постепенно стекает с поверхности пленки, образуя слой эмульсии постоянной толщины. На участке со стабилизированной толщиной слоя эмульсии размещают измерительный конденсатор 7, по изменению емкости которого судят о толщине слоя эмульсии. Для определения положения участка стабилизированного слоя эмульсии измерительный конденсатор перемещают вдоль пленки до положения, в котором его емкость становится постоянной. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

К) 30 40 50 60 70 %,( Фю.5