Способ измерения отражательных характеристик безэховой камеры и устройство для его осуществления Советский патент 1993 года по МПК G01R27/06 

Изобретение относится к технике СВЧ, а именно к способам измерения бтражатель- ных характеристик участков стенок безэхо- вой камеры (БЭК).

Целью изобретения является измерение ЭХО-коэффициента выбранного участка стенки БЭК..

Эта цель достигается благодаря тому, что излучают сигнал в БЭК, рассеивают его эталонным рассеивателем, принимают сигнал, рассеянный стенкой БЭК и эталонным рассеивателем, изменяют фазы рассеянных сигналов в пределах 0 - 2 я. измеряют минимальное Рмии и максимальное Рмэкс значения мощности принятого сигнала и

определяют отражательные характеристики - ЭХО-коэффициент выбранного участка стенки БЭК. Для этого переотражают излученный сигнал в направлении выбранного участка стенки БЭК, переотражают рассеянный этим участком стенки сигнал в направлении точки приема, изменяют его фазу и вычисляют ЭХО-коэффициент выбранного участка БЭК по формуле

00

о

00 СА 00

V

1

a cos а/2

/Рк

макс г мин

Рмакс/Ps

4-1

О)

где а - длина эталонного полуцилиндрического рассеивателя;

а- угол между направлением излучения и направлением на выбранный участок стенки БЭК;

г - радиус эталонного полуцилиндрического рассеивателя;

А-рабочая длина волны.

На фиг,1 изображена БЭК(в плане), приемопередающая антенна 2 и устройство 3 для осуществления способа; на фиг.2 - эскиз устройства для осуществления способа.

Устройство для осуществления способа выполнено в виде двух параллельных прямоугольников размером а х b и расстоянием между ними 2г, а эталонный отражатель выполнен в виде двух полуцилиндров, каждый из которых прикреплен к сторонка каждого из прямоугольников, причем поверхности полуцилиндров и прямоугольников сопряжены на линии соединения, при этом размеры a, b и г удовлетворяют соотношению а b г А. Во время измерений устройство устанавливается на оси антенны с возможностью изменения угла между осью антенны и нормали к плоскости прямоугольника и линейного перемещения в любом из на- правлений.

Для измерения ЭХО-коэффициента БЭК передающую и приемную антенны устанавливают в БЭК и ориентируют для измерения диаграмм ЭПР объектов. В рабочий объем БЭК устанавливают устройство для осуществления способа. Излучаючарадйоволны в направлении рабочего объема БЭК. Из рабочего объема БЭК с-помощью устройства для осуществления способа часть энергии волн переизлучают в исследуемом направлении стены (пола, потолка), отраженные от стены волны в рабочий объем БЭК с помощью устройства переотражают в направлении приемной антенны. Изменяют фазу волн ереотраженных в направлении стеньц не менее чем на 2 л путем перемещения в направлении стены устройства для осуществления способа. На выходе приемной антенны измеряют максимальное и мини- мальное значения интерферирующих сигна- лов, отраженных от стены камеры и устройства для осуществления способа. По измеренным значениям интерферирующих сигналов определяют ЭХО-коэффициент выбранного участка стены БЭК по формуле 1.

Формула изобретения 1. Способ измерения отражательных ха- рактеристик безэховой камеры, включающий излучение сигнала в безэховую камеру,

рассеивание его эталонным рассеивателем. прием сигнала, рассеянного стенкой беэ- эховой камеры и эталонным рассеивателем, изменение фазы рассеянных сигналов в пределах не менее 0 - 2 л, измерение минимального Рмин и максимального Рмакс значений мощности принятого сигнала и определение отражательных характеристик безэховой камеры по результатам измерений, отличающийся тем, что, с целью измерения эхо-коэффициента выбранного участка стенки безэховой камеры,-переот- ражают излученный сигнал в направлении выбранного участка стенки безэховой камеры, переотражают рассеянный этим участком стенки безэховой камеры сигнал в направлении точки приема, изменения фазы выполняют для сигнала, рассеянного стенкой камеры, и вычитают эхо-коэффициент выбранного участка стенки безэховой камеры по формуле

1

a cos а/2

макс

/Р

-1

Рмэкс/Р

+ 1

где а - длина эталонного полуцилиндрического рассеивателя;

.а-угол между направлением излучения и направлением на выбранный участок безэховой камеры от точки отражения отражателя;

г- радиус эталонного полуцилиндрического рассеивателя;

А - рабочая длина волны. . 2, Устройство для измерения отражательных характеристик безэховой камеры, включающее соединенные приемопередатчик и антенну, ориентированную на эталонный рассеиватель, размещенный внутри исследуемой безэховой камеры, отличающее с я тем, что введен отражатель, выполненный в виде двух параллельных прямо угольников размером а х b и расстоянием между ними 2гч установленных на оси антенны с возможностью изменения угла между осью антенны и нормали к плоскости прямоугольника и линейного перемещения в любом из направлений, а этало нный отражатель выполнен в виде двух полуцилиндров длиной ах Ь, каждый из которых прикреплен к стороне каждого из прямоугольников, причем поверхности полуцилиндров и прямоугольников сопряжены на линии соединения, при этом размеры а..Ь и г удовлетворяют соотношению а b г А.

/

Использование; техника СВЧ, а именно методы измерения отражательных характеристик безэховых камер (БЭК). Целью изобретения является определение отражательной способности БЭК в исследуемом направлении. Сущность изобретения: излучают радиоволны в направлении рабочего объема камеры с помощью антенны. Из4 рабочего объема часть энергии волн переизлучают в исследуемом направлении стенки БЭК, отраженные от стены волны обратно в рабочий объем перёотражают в направлении приемной антенны. Часть энергии волн из рабочего объема БЭК переотражают также в сторону антенны. Изменяют фазу волн рассеянных участком стенки БЭК в пределах как минимум ОГП. На выходе антенны измеряют максимальное и минимальное значения мощности принятых сигналов и определяют эхо-коэффициент или отражательную способность БЭК в исследуемом направлении по приведенной формуле. При этом отражатель выполнен в виде двух параллельных прямоугольников размерами а х х b и расстоянием между ними 2г, а эталонный рассеиватель выполнен в виде двух полуцилиндров радиусом г и дли ной „а , каждый из которых присоединен к стороне.Хкаждо- го прямоугольника, а поверхности полуцилиндров сопряжены с плоскостями прямоугольников по линии соединения. 2 ил.

«s Фиг.I