Способ обнаружения дефектов поверхностных слоев в изделиях из ферромагнитных материалов Советский патент 1975 года по МПК G01N27/82 

Известен способ обнаружения дефектов поверхностных слоев в изделиях из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что намагничивают поверхностный слой контролируемого изделия и считывают магнитограмму с последующей индикацией на электронно-лучевом индикаторе.

Известный способ не оценивает качества микроструктуры контролируемого ловерхностиого слоя и недостаточно регулирует толщ.ину этого слоя.

По предлагаемому способу на исследуемую поверхность наносят, -например, с помощью промежуточного носителя, непрерывный линейчатый магнитный растр, а для индикации формируют на экране электронно-лучевого Индикатора яркостное точечно-растровое изображение -контролируемого слоя.

Кроме того, изменяют частоту возбуждающего поля.

Способ заключается в следующем.

Вначале линейчатый магнитный растр наносят с помощью магнитной головки с шириной трека записи, определяемой размерами контролируемой поверхности, на первич-ный магнитный носитель. При этом первичному носителю придается форма, удобная для записи линейчатого растра. Затем производят перенос линейчатого магнитного растра с первичного магнитного носителя на поверхность изделия. Перенос ведут при воздействии возбуждающего магнитного переменного, спадающего ло амплитуде поля, направленного .вдоль контролируемой поверхности. Линейчатый растр, записанный на поверхность изделия, переносят на вторичный магнитный носитель. Контролируемая поверхность может иметь любую сложную форму, которая сопрягается с эластичными магнитными носителями. :

Образование сигналов точечного растра производят путем считывания линейчатого магнитного растра воспроизводящей головкой со вторичного магнитного носителя, приведенного к форме, удобной для считывания, в направлении, поперечном линиям растра. Полученные контрольные сигналы усиливают и подают на экран электронно-лучевого индикатора, на котором формируют яркостное точечно-растровое изображение контролируемого слоя, причем используется экран с долговременной памятью. Эти импульсы развертываются на экране в двумерный точечный растр.

Глубину контролируемого слоя изделия в зависимости от необходимости регулируют изменением частоты возбуждающего магнитного поля при переносе магнитного линейчатого растра на исследуемую поверхность.

двум&рное изображение поверхностного слоя дает существенную информацию о топографии дефектов, т. е. об их форме, размерах и расположении. Это позволяет HcnOvTbaoBaTb результаты контроля для исправления брака и корректировки технологии обработки изделий.

Считывание линейчатого магнитного растра с помощью магнитной головки ясляется не единственным и может производиться любым другим известным методом, позволяющим формировать точечно-растровое изображение на экране электронно-лучевого индикатора.

Предмет изобретения

1. Способ обнаружения дефектов поверхностных слоев в изделиях из ферромагнитных

материалов, заключающийся в том, что намагничивают поверхностный слой контролируемого изделия и считывают магнитограмму с последующей индикацией на элект|ронно-лучевом индикаторе, отличающийся тем, что, с целью оценки качества микроструктуры контролируемого поверхностного слоя, на исследуемую поверхность наносят, например, с .помощью промежуточного носителя непрерывный линейчатый магнитный растр, а для индикации формируют на экране электроннолучевого индикатора яркостное точечно-растровое изображение контролируемого слоя. 2. Способ по п. 1, отличающийся тем,

что, с целью регулирования толщины контролируемого слоя, изменяют частоту возбуждающего магнитного поля.