Компаратор для аттестации линейных штриховых мер Советский патент 1974 года по МПК G01B11/02 

Описание патента на изобретение SU441444A1

1

Изобретение относится к области метрологии, а именно к средствам для аттестации штриховых мер длины.

Известны компараторы для линейных штриховых мер, содержаш,ие станину, перемеш.аемый вдоль станины стол, предназначенный для установки образцовой и поверяемой мер, два закрепленных на станине фотоэлектрических микроскопа, датчик линейных перемеш,ений стола, генератор высокочастотных импульсов, счетчик числа последних и логический блок, управляющий началом и концом счета но сигналам фотоэлектрических микроскопов.

Целью изобретения является повышение точности аттестации.

Это достигается тем, что компаратор снабжен блоком умножения результата счета на цену высокочастотных импульсов и блоком определения цены этих импульсов, входы которого соединены с выходами фотоэлектрические микроскопов, генератора высокочастотных и.мпульсов и датчика линейных перемеш,ений стола, а выход - с блоком умножения.

Кроме того, блок определения цены высокочастотных Нлшульсов может быть выполнен в виде логического элемента, определяющего моменты начала и конца одновременного счета высокочастотных импульсов и импульсов датчика линейных перемещений стола, двух счетчиков этих импульсов и ячейки деления.

сопоставляющей число импульсов датчика линейных перемещений с числом высокочастотных импульсов за некоторый временной интервал.

На фиг. 1 представлена конструктивная схема предлагаемого компаратора; на фиг. 2 - схема, иллюстрирующая работу компаратора. Компаратор (см. фиг. 1) содержит станину 1, установленный на станине стол 2, привод 3 перемещения стола вдоль станины, два фотоэлектрических микроскопа 4 и 5, предназначенных для считывания штрихов образцовой и поверяемой шкал, муаринтерференционный датчик 6 линейных перемещений стола, одна дифракционная решетка 7 которого закреплена на столе, а вторая дифракционная решетка 8 - на станине, стабилизированный генератор 9 высокочастотных импульсов, логический блок 10, вырабатывающий команды «Начало счета («не) и «Конец счета («КС), входы которого соединены с выходами фотоэлектрических микроскопов, счетчик 11 высокочастотных импульсов, входы которого соединены с выходом генератора 9 высокочастотных импульсов и выходами «не и «ко-логического блока 10, блок определения цены высокочастотного импульса (обведен на фиг. 1 штриховой линией), состоящий из логического элемента 12, формирующего команды «Начало счета («не) и «Конец счета («КС), входы которого соединены с выходами фотоэлектрических микроскопов 4 и 5, а также выходом датчика 6 линейных перемещений, двух счетчиков 13 и 14, управляемых логическим элементом 12, входы которых соединены соответственно с выходами генератора 9 высокочастотных импульсов и датчика 6 линейных перемещений, и ячейки 15 деления, сопоставляющей количество импульсов, накопленных в счетчнках 13 и 14 и определяющей тем самым цену высокочастотных импульсов. Компаратор включает также блок 16 умножения, определяющий ощибку поверяемой шкалы в лин ;йной мере, входы которого соединены с выходами счетчика 11 высокочастотных импульсов и блока определения цены высокочастотного импульса. Образцовую и поверяемую штриховые меры устанавливают на стол 2 компаратора так, что их нулевые отметки лежат близ оптических осей фотоэлектрических микроскопов 4 и 5. Включают привод 3 перемещения стола, который вызывает перемещение образцовой и поверяемой штриховых мер мимо фотоэлектрических микроскопов. В момент прохождения границы штриха одной из шкал через оптическую ось одного из фотоэлектрических микроскопов последний выдает сигнал, который преобразован логическим блоком 10 в команду «Начало счета. Этот момент соответствует точке А (см. фиг. 2), После поступления команды «Начало счета в счетчике 11 накопляется сумма высокочастотных импульсов. В зависимости от того, от какого из фотоэлектрических микроскопов приходит импульс, преобразованный в команду «Начало счета, накопленной сумме приписывается знак «плюс или «.минус. В момент прохождения границы второго щтриха (точка В на фиг. 2) через оптическую ось второго фотоэлектрического микроскопа вырабатывается сигнал, который логическим блоком 10 преобразуется в команду «Конец счета, и накопление импульсов в счетчике 11 прекращается. Полученная информация о расстоянии между границами штрихов содержит ощибку, вызванную неравномерностью движения стола 2. Для исключения этой ошибки результат счета умножают в блоке 16 на среднюю цену высокочастотного импульса за временной интервал, протекающий между моментами считывания границ щтрихов. Среднюю цену высокочастотного импульса определяют следующим образом: сигнал от фотоэлектрических микроскопов 4 и 5 подготавливает логический элемент 12 блока определения цены высокочастотных импульсов к выдаче команды «Начало счета, а очередной импульс датчика 6 линейных перемещений формирует эту команду. С этого момента счетчики 13 и 14 накапливают импульсы: первый- от генератора 9 высокочастотных импульсов; второй - от датчика 6 линейных перемещений. На фиг. 2 этот момент соответствует точке Б; верхняя периодическая кривая символически обозначает высокочастотные импульсы, нижняя - импульсы датчика линейных перемещений. Граница второго щтриха подготавливает логический элемент 12 к выдаче команды «Конец счета, а приход очередного импульса от датчика, линейных перемещений формирует эту команду (точка / на фиг. 2), после чего накопление импульсов в счетчиках 13 и 14 прекращается. Число высокочастотых импульсов, накопленных в счетчике 13, характеризует некоторый временной интервал, а число импульсов, накопленных в счетчике 14- путь стола, пройденный за этот временной интервал. Сопоставлением в ячейке 15 деления числа импульсов, накопленных счетчиками 14 и 13, находят среднюю цену высокочастотного импульса в линейных величинах. Полученный в результате умножения в блоке 16 числа высокочастотных импульсов на их среднюю цену отрезок S характеризует взаимное смещение границ соответствующих щтрихов образцовой и поверяемой шкал. Для нахождения расстояний между середина.ми штрихов аналогично определяют взаимное положение 52 вторых границ штрихов. За расстояние между серединами штрихов принима-S, 1- 52 ют величину Блоки для определения смещения вторых границ штрихов н для вычисления среднего на чертежах не нзооражены. Предмет изобретения 1.Компаратор для аттестации линейных штриховых мер, содержащий станину, пере.мещаемый вдоль станины стол, предназначенный для установки образцовой и поверяемой мер, два закрепленных на станине фотоэлектрических микроскопа, датчик линейных пере.мещений стола, генератор высокочастотных импульсов, счетчик числа последних и логический блок, управляющий началом и концом счета по сигналам фотоэлектрических микроскопов, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности аттестации, он снабжен блоком умножения результата счета на цену высокочастотных импульсов и блоком оиределения цены этих импульсов, входы которого соединены с выходами фотоэлектрических микроскопов, генератора высокочастотных и.мпульсов и датчика линейных перемещений стола, а выход - с блоком умножения. 2.Компаратор по п. 1, отличающийся тем, что блок определения цены высокочастотных импульсов выполнен в виде логического элемента, определяющего моменты начала и конца одновременного счета высокочастотных импульсов и имнульсов датчика линейных перемещений стола, двух счетчиков этих импульсов и ячейки деления, сопоставляющей число импульсов датчика линейных перемещений с числом высокочастотных импульсов за некоторый временной пнтервал.

it1 ч1|

wwvvwwwvwwww

,

В Г

WWWWVWW

Похожие патенты SU441444A1

название год авторы номер документа
Компаратор для поверки штриховых мер длины 1981
  • Анисонян Амаяк Сергеевич
  • Федоров Алексей Дмитриевич
SU943523A1
КОМПАРАТОР ДЛЯ АТТЕСТАЦИИ ШТРИХОВЫХ МЕР 1968
  • А. П. Владзиевский, Б. Д. Никитин, В. И. Карпов, Л. И. Залкинд, Б. Д. Нечецкий, А. Н. Авдулов, С. В. Кошлев Н. И. Махров
SU221311A1
Компаратор для поверки штриховых мер 1974
  • Мироненко Анатолий Васильевич
  • Коляда Юрий Борисович
  • Тузов Евгений Викторович
  • Янушкин Виктор Николаевич
SU838333A1
Устройство для аттестации штриховых мер 1978
  • Ежкин Виктор Евгеньевич
SU771463A1
УСТРОЙСТВО для КОМПАРИРОВАНИЯ ШТРИХОВЫХ МЕР 1971
SU315910A1
Компаратор для поверки штриховыхМЕР 1974
  • Мироненко Анатолий Васильевич
  • Коляда Юрий Борисович
  • Тузов Евгений Викторович
  • Янушкин Виктор Николаевич
SU847033A1
Устройство для автоматической поверки самопишущих приборов 1972
  • Федорова Татьяна Анатольевна
  • Бахтадзе Шалва Николаевич
SU475577A1
Способ измерения длин и углов и устройство для его осуществления 1990
  • Сихарулидзе Важа Михайлович
  • Биркадзе Шамиль Владимирович
  • Масловский Николай Владимирович
  • Гагнидзе Гульнара Васильевна
SU1820207A1
АВТОМАТИЧЕСКАЯ ДЕЛИТЕЛЬНАЯ Л1АШИНА ДЛЯ НАРЕЗАНИЯ 1965
  • А. П. Владзиевский, Б. Д. Никитин, А. И. Ров, В. И. Сал
  • Л. И. Залкинд А. Н. Авдулов
SU173427A1
Устройство для поверки штриховых мер 1980
  • Анисонян Амаяк Сергеевич
  • Федоров Алексей Дмитриевич
SU968600A1

Иллюстрации к изобретению SU 441 444 A1

Реферат патента 1974 года Компаратор для аттестации линейных штриховых мер

Формула изобретения SU 441 444 A1

SU 441 444 A1

Авторы

Боровков Владимир Александрович

Делюнов Николай Федорович

Маламед Евгений Рафаилович

Ольшевский Юрий Михайлович

Рукавицын Николай Николаевич

Скворцов Юрий Сергеевич

Даты

1974-08-30Публикация

1970-01-14Подача