СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И ПЛОТНОСТИ ЭЛЕКТРОНОВ ГАЗОРАЗРЯДНОЙ ПЛАЗМЫ Советский патент 1969 года по МПК G01N27/62 G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU240051A1

Изобретение относится к способам измерения параметров плазмы: диэлектрической проницаемости и концентрации электронов.

Известен способ измзрения параметров плазмы с помощью симметричного двухканального радиоинтерферо 1етра с генератором электромагнитных колеба:1НЙ СВЧ-диапазона.

Известный способ предназначен для измере- НИИ параметров нестацио:1арной плазмы, при этом на выходе -интерферс метра регистрируется интерферометрическик сигнал, по числу максимумов которого судят о плотности плазмы.

Предлагаемый способ позволяет производить измерения параметров стационарной плазмы. Для этого частоту генератора интерферометра модулируют ПС периодическому закону и определяют амплитуду относительной девИации фазы на выходе .интерферометра. Величина девиации фазы Аф связана с величиной частотной модуляции Ды и параметрами плазмы - протяженностью / и диэлектрической проницаемостью е - соотношением

Дсо/

.

Дг1 :

УЕ

По величине Аф можно определить концен трацию частиц в плазме.

При отсутствии плазмы интерферометр должен быть сбалансирован, и частотная модуляция не должна сопровождаться девиацией фазы. Путем выбора индекса частотной модуляции можно для данного диапазона измеряемых концентраций получить удобно измеряемую величину девиации фазы.

Предмет изобретения

Способ измерения диэлектрической проницаемости и плотности электронов газоразрядной плазмы с использованием симметричного двухканального радиоинтерферометра с генератором электромагнитных колебаний СВЧдиапазона, отличающийся тем, что, с целью

измерения параметров стационарной плазмы, частоту генератора модулируют по периодическому закону и на выходе интерферометра определяют амплитуду относительной девиации фазы, по которой судят о параметрах плазмы.

Похожие патенты SU240051A1

название год авторы номер документа
Способ частотно-модуляционной эллипсометрии 1982
  • Конев Владимир Афанасьевич
  • Пунько Николай Николаевич
  • Любецкий Николай Васильевич
  • Тиханович Сергей Александрович
SU1060955A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАНОПЕРЕМЕЩЕНИЙ 2017
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Скрипаль Анатолий Владимирович
  • Добдин Сергей Юрьевич
  • Астахов Елисей Игоревич
RU2658112C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АБСОЛЮТНОГО РАССТОЯНИЯ 2020
  • Скрипаль Анатолий Владимирович
  • Добдин Сергей Юрьевич
  • Джафаров Алексей Владимирович
RU2738876C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАССОВОГО РАСХОДА ЖИДКИХ СРЕД 2016
  • Хаблов Дмитрий Владиленович
RU2620774C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ 1990
  • Астайкин А.И.
  • Бикмухаметов Н.А.
  • Помазков А.П.
SU1817555A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ЗОНДИРУЕМОГО МАТЕРИАЛА И РАССТОЯНИЯ ДО НЕГО (ВАРИАНТЫ), УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ И СПОСОБ КАЛИБРОВКИ ЭТОГО УСТРОЙСТВА 2003
  • Атаянц Б.А.
  • Давыдочкин В.М.
  • Езерский В.В.
  • Пронин В.А.
RU2234688C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ЖИДКОСТИ В ЕМКОСТИ 2014
  • Хаблов Дмитрий Владиленович
RU2575767C1
Автогенераторный измеритель дисперсии диэлектрических свойств полимерных материалов 1983
  • Иванов Борис Александрович
  • Ручкин Валерий Иванович
  • Захаров Павел Томович
  • Федорина Игорь Алексеевич
  • Покалюхин Николай Алексеевич
  • Валова Светлана Сергеевна
SU1100580A1
СПОСОБ И СИСТЕМА ДЛЯ РАДИОЛОКАЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ СКОРОСТЕЙ И КООРДИНАТ ОБЪЕКТОВ (ВАРИАНТЫ) 2003
  • Кошуринов Е.И.
RU2255352C2
Способ определения параметров плазмы 1973
  • Скибенко Анатолий Иванович
  • Душин Леонид Алексеевич
  • Степанов Константин Николаевич
SU488124A1

Реферат патента 1969 года СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И ПЛОТНОСТИ ЭЛЕКТРОНОВ ГАЗОРАЗРЯДНОЙ ПЛАЗМЫ

Формула изобретения SU 240 051 A1

SU 240 051 A1

Даты

1969-01-01Публикация