УСТРОЙСТВО для ИЗЛ\ЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА МИКРОПРОВОДА Советский патент 1969 года по МПК G01B11/16 

Известны устройства для измерения диаметра микропровода, содержащие источник излучения, оптическую систему, модулятор, выполненный в виде диска с отверстиями, приемник излучения, электронный блок регистрации сигналов, блок питания и механизм протягивания микронровода. Однако эти устройства не позволяют одновременно с измерением диаметра выявлять дефекты в микропроводе.

Предлагаел10е устройство отличается от известных тем, что, с целью выявления дефектов в измеряемом микропроводе, механизм протягивания снабжен токоподводящими контактами, взаимодействующими с контролируемым микропроводом, являющимся источником излучения электро.магнитных волн в инфракрасной области спектра, а одна из поверхностей диска модулятора выполнена с высоким коэффициентом отражения излучения.

На фиг. 1 дана блок-схема описываемого устройства, на фиг. 2 - механизм протягивания микропровода.

Устройство содержит рабочий / и эталонный 2 источники излучения, оптические системы 3 и 4 рабочего и эталонного источников, модулятор 5, вращаемый от привода 6, установленный под углом 45° к направлению падающих потоков излучения, диафрагму 7, приемник 8 излучения, электронный блок регистрации сигналов, выполненный в виде предверительного усилителя Я избирательного усилителя 10 с детектором (на чертежах не показан), индикатора // и блока маркировки 12.

Устройство снабжено также блоком питания 13, механизмом протягивания микропровода, выполненным в виде барабанов 14 и 15, между которыми расположены токоподводящие контакты 16 и 17, и микрометрическим винтом 18.

Работает устройство следующим образом.

От блока 13 питания напряжение подается на токонодводящие контакты 16 и 17, взаимодействующие с контролируемыми микропроводом 19, и на контакты, взаимодействующие с эталонным отрезком микропровода (на чертежах не ноказаны).

Тепловое излучение от рабочего и эталонного источников, которыми являются участки контролируемого и эталонного микропроводов, соответственно через оптические системы 3 ii4 поступает на вращаемый от привода 6 модулятор 5, одна из поверхностей диска которого выполнена с высоким коэффициентом отражения излучения. Это обеспечивает сдвиг фаз между модулированным излучением от эталонного и рабочего источников, поступающим от модулятора 5 через диафрагму 7 на приемник 8.