СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЗАГРЯЗНЕННОСТИ СВЕКЛЫ Советский патент 1969 года по МПК G01N33/02 

Изобретение относится к сахарной промышленности.

Известен способ :0пределения загрязяенности Свеклы, заключающийся в том, что берут ее Пробу, взвешивают, чистят, .моют, вытирают насухо и вторично -взвешивают. Разни ца -в весе до и После мытья -пробы дает количество грязи, загрязненность выражают в процентах к весу чистой мытой свеклы.

Однако этот способ является трудоемким, длительным и не дает объективной оценки загрязненности свеклы.

Предложенный способ отличается От известного тем, что через слой свеклы определенной толщины пропускают ПОток у-луче, измеряют величину поглоп ения излучения этим слое-м и по этой -величине с помощью заранее пастороенного графика зависимости степени загрязненности от величины поглощения у-лучей определяют загрязненность свеклы в процентах.

Предлагаемый способ осуществляется при помощи установки, схематически изображенной на черте.же.

Она содержит источник 1 излучения и жесгко связанный с ними счетчик 2 излучения.

Расстояние И между источником излучения и счетчиком излучения является постоянным Н h + hi, где h - постоянное расстояние между источником излучения и дном кузова 3 автомащины и fti - постоянное расстояние от

счетчика излучения до дна кузова автомашины.

Через слой свеклы определенной толщины, находящийся в кузове автомашины, пропускают поток лучей -в течение, например, 10 сек, измеряют величину ноглощения излучения этим слоем и по этой велиичне с помощью заранее построенного графика зависимости степени загрязненности от величины поглощения v-лучей определяют загрязненность свеклы в процентах. Стенень загрязненности свеклы определяется таким образом в течение 2,5- 3 мин. Максимальная погрешность определений составляет + 0, от расчетной величины.

Описываемый способ определения загрязненности свеклы позволяет быстро и точно установить ее степень и тем самым значительно облегчить работу сырьевым лабораториям сахарных заводов.

Предмет изобретения

Способ определения загрязненности свеклы, отличающийся тем, что через слой свеклы определенной толщины пропускают поток -лучей, измеряют величину поглощения излучения этим слоем и по этой величине с помощью заранее построенного графика зависнмости стенени загрязненности от величины поглоще