Уже известны способы повышения пробивных напряжений полупроводниковых приборов, например германиевых конверсионных транзисторов, путем создания структуры типа п - i - р на протяжении всего коллекторного перехода (приборы П607-П609А и 1Т321).
С этой целью на кристаллы германия, обработанные в парах сурьмы в присутствии меди, со стороны эмиттера методом вакуумного испарения при вакууме - льч рт. ст. и комнатной температуре подложки наносят пленку олова.
При вплавлеиии эмиттера медь под эмиттерным электродом экстрагируется в расплав, а вне эмиттера - в пленку олова. Полученный таким образом слой повышенного сопротивления обеспечивает достаточно высокие пробивные напрял ения коллектор - база - к-б .
Описанный способ имеет сушественный недостаток, заключающийся в длительном рассасывании импульса тока коллектора Тр, так как при экстракции меди увеличивается «время жизни неравновесных носителей в пассивной области базы. Геометрические размеры приборов П607-П609А и 1Т321 обеспечивают довольно низкое значение Тр, соответствующее требованиям ТУ. Применение же данного способа в производстве приборов П605-П606А приводит к увеличению Тр в 1,5 - 2 раза, чго выходит за пределы требований ТУ.
Предлагаемый способ позволяет получить высокие пробивные 4 aпpяжeиия и улучшить импульсные свойства прибора. Согласно этому способу на поверхность германия одновременно с оловом наносят до 10% никеля.
С целью создания структуры, близкой к п - i - р, на протяжении всего коллекторного перехода на поверхность кристаллов германия, обработанных в парах сурьмы в присутсгвин меди, с эмиттерной стороиы иаиосят пленку сплава олово-никель (Ni до 10%).
Технология нанесеиия пленки соответствует описанной выше.
Толщииа пленки 200-1000 А.
Эмиттерный электрод вплавляют на печи дискретного хода при 740 - 800°С в течение 8-15 мин в атмосфере водорода. Коллекторный сплав вплавляют при 500°С в течение 2 - 3 MU.H. Существенного влияния на нолученную ранее структуру эта операция не оказывает.
Па чертеже изображен разрез кристалла германия после вплавлеиия эмиттерного электрода.
При вплавлении эмиттерного электрода 1 ироисходт1Т экстракция меди эмиттериым сплавом и илеикой олова, г. е. удаляется нрнмесь высокой растворимости и под п слоем 2 образуется слой 3 повышенного сопротивления.
Таким образом на протяжении всего коллекторного перехода образуется структура, близкая к п - i - р.
При удалении из германия меди увеличивается «время жизни носителей тока, что приводит к ухудшению имиульсных свойств транзистора- увеличивается Тр. Но одновременно с экстракцией Jмeди происходит диффузия никеля из сплава SnNi. Обладая меньшей растворимостью в германии, но сравнению с медью, никель не вносит существениого вклада в электропроводность слоя повышенного соиротивления, однако, создавая доиолнительные уровни рекомбинации уменьшает «время жкзни носителей тока.
При применении предлагаемого способа з производстве траизисторов П605-П606А зиачеиия пробивных напряжений коллектор-база f/K.6 повышаются в средием с 50 - 55 до 70 - 95 в при достаточно низких значениях Тр, с большим занасом удовлетворяющих требования ТУ. Кроме того, значительно повышается
нанряжение на коллекторе, при котором коэффициент усиления но току меньше единицы (), уменьшаются емкость коллектора С и постоянная времени а также значимощность рассеиваувеличивается
тельно ния Р
расеПредмет изобретения
Способ изготовления полупроводникового прибора, например германиевого конверсионного транзистора, путем создания структуры типа п - i - р на протяжении всего коллекторного нерехода нанесением на кристаллы
германия, обработанные в парах сурьмы в присутствии меди, со стороны эмиттера пленки олова с последующим вилавлением эмиттерного электрода, отличающиЛся тем, что, с целью получения высоких иробивных напряжений и улучшения имнульсных свойств, одновременно с оловом на поверхность германия наносят никель в количестве до 10%.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ГЕРМАНИЕВЫХ ПЛАНАРНЫХ р_„_р-ТРАНЗИСТОРОВ | 1971 |
|
SU293533A1 |
Способ изготовления диффузионных кристаллических триодов | 1956 |
|
SU149153A1 |
ГЕРМАНИЕВЫЙ р—п—р ПЛАНАРНО-ЭПИТАКСИАЛЬНЫЙТРАНЗИСТОР | 1972 |
|
SU333877A1 |
ТРАНЗИСТОР С ЗАЩИТОЙ ОТ ПЕРЕНАПРЯЖЕНИЙ | 1991 |
|
RU2037237C1 |
САМОСОВМЕЩЕННЫЙ ВЫСОКОВОЛЬТНЫЙ ИНТЕГРАЛЬНЫЙ ТРАНЗИСТОР | 2012 |
|
RU2492551C1 |
Способ изготовления ВЧ транзисторных структур | 1979 |
|
SU766423A1 |
ИНТЕГРАЛЬНЫЙ ТРАНЗИСТОР, УСТОЙЧИВЫЙ К ОБРАТНОМУ ВТОРИЧНОМУ ПРОБОЮ | 1991 |
|
RU2024995C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МОЩНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ | 1992 |
|
RU2022399C1 |
ИНТЕГРАЛЬНАЯ СХЕМА | 1991 |
|
SU1819072A1 |
ВЫСОКОВОЛЬТНЫЙ САМОСОВМЕЩЕННЫЙ ИНТЕГРАЛЬНЫЙ ДИОД | 2012 |
|
RU2492552C1 |
Даты
1969-01-01—Публикация