УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ЛИСТОВЫХ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1969 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU254593A1

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к методам измерения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь на сверхвысоких частотах.

Известны устройства для измерения Диэлектрической проницаемости листовых материалов, состоящие из генератора СВЧ, антенны, измеряемого образца и неотражающей стенки.

С целью упрощения измерения парамегров диэлектрика между облучаемой антенной и испытуемым диэлектриком введен импедансный трансформатор в виде плоскопараллельных пластин из диэлектрика с известной диэлектрической проницаемостью.

Предлагаемое устройство с достаточной точностью определяет диэлектрическую проницаемость листовых материалов произвольных размеров и толщин в сантиметровом и дециметровом диапазоне радиоволн путем экспериментального определения условий для минимального отражения от измеряемого образца с импедансным трансформатором в виде плоскопараллельных пластин из диэлектрика с известным е. Как показали экспериментальные исследования, применение данного метода измерений S обеспечивает погрещность измерений не более 1-5% от измеряемой величины, в том числе и материалов с малыми величинами диэлектрической проницаемости (пенопластов). На чертеже изобрал ено предлагаемое устройство.

Устройство содерл ит облучающую антенну 1, неотраЛСающую стенку 2. Между облучающей антенной и испытуемым диэлектриком 3 введен импедансный трансформатор в виде плоскопараллельных пластин 4 из диэлектрика с известной диэлектрической проницаемостью. Измерение свойств листовых диэлектриков состоит в экспериментальном определении условий отсутствия отражения плоской или сферической электромагнитной волны от системы, содержащей измеряемый образец и две плоские диэлектрические пластины с известной диэлектрической проницаемостью ввт , расположенные над ним. Пластины и образцы размещаются в параллельных плоскостях, и расстояния /i и /г между пластинами и образцом могут изменяться независимо друг от друга.

Если коэффициеит отражения от эталонных диэлектрических пластин, сложенных вместе, больше, чем коэффициент отражения от измеряемого образца, то, изменяя расстояния 1 и /2, всегда можно добиться нулевого коэффициента отражения от рассматриваемой системы. В этом случае можно определить комплексную

Диэлектрическую проницаемость образца по расстояниям /i и /гЕсли известно, что измеряемый диэлектрик имеет , то для определения е достаточно знать только величину (/i-/2), т. е. расстояние между эталонными пластинами.

Зная расстояние (/i-/2), соответствующее состоянию компенсации схемы, по расчетным графикам находят параметр р, после чего по параметру р и волновой толщине образца а/Л определяют е измеряемого образца.

Предлагаемое устройство измеряет параметры листовых диэлектриков произвольных размеров и толщин с высокой точностью величин, мало отличающихся от единицы.

Подобные устройства возможно применять для радиотехнического контроля промыщленных изделий без их разрущения.

Предмет изобретения

Устройство для измерения диэлектрической проницаемости листовых материалов, состоящее из генератора СВЧ, антенны, измеряемого образца и неотражающей стенки, отличающееся тем, что, с целью упрощения измерения параметров диэлектрика, между облучающей антенной и испытуемым диэлектриком введен импедансный трансформатор в виде плоскопараллельных пластин из диэлектрика с известной диэлектрической проницаемостью.

Похожие патенты SU254593A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения параметров листовых диэлектриков 1973
  • Алимин Борис Филиппович
SU445925A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ В ИЗДЕЛИЯХ ИЗ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ 1996
  • Орлов А.Б.
  • Кузнецов А.С.
  • Денисов А.С.
  • Зорин В.В.
  • Ведерников Б.И.
RU2103700C1
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ ПЛОСКИХ ПЛЕНОК ИЗ НЕМАГНИТНОГО ИМПЕДАНСНОГО ИЛИ ПРОВОДЯЩЕГО МАТЕРИАЛА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2005
  • Яковенко Николай Андреевич
  • Левченко Антон Сергеевич
RU2284533C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ БОЛЬШИХ ЗНАЧЕНИЙ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ИМПЕДАНСНЫХ МАТЕРИАЛОВ НА СВЧ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Дмитриенко Г.В.
  • Трефилов Н.А.
RU2231078C1
Способ измерения параметров плоскопараллельных диэлектриков 1983
  • Иванов Борис Петрович
  • Хаханин Владимир Николаевич
SU1166012A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ МАТЕРИАЛОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1992
  • Труфанов В.Н.
  • Поляков Б.С.
  • Гамов М.И.
  • Шамитько Г.И.
  • Славгородский Н.И.
  • Труфанов А.В.
  • Ярделевский И.Б.
RU2078335C1
Способ определения бикомплексных параметров материалов на СВЧ 1987
  • Калачев Александр Александрович
  • Матыцин Сергей Михайлович
  • Розанов Константин Николаевич
  • Сарычев Андрей Карлович
SU1483394A1
Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости материала в диапазоне СВЧ 2022
  • Чони Юрий Иванович
  • Лаврушев Владимир Никифорович
  • Авксентьев Александр Анатольевич
RU2797142C1
Способ определения сверхвысокочастотных параметров материала в полосе частот и устройство для его осуществления 2018
  • Крылов Виталий Петрович
  • Чирков Роман Александрович
  • Забежайлов Максим Олегович
RU2688588C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ БОЛЬШИХ ЗНАЧЕНИЙ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ИМПЕДАНСНЫХ МАТЕРИАЛОВ 2001
  • Дмитриенко Г.В.
  • Трефилов Н.А.
RU2194285C1

Иллюстрации к изобретению SU 254 593 A1

Реферат патента 1969 года УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ЛИСТОВЫХ МАТЕРИАЛОВ

Формула изобретения SU 254 593 A1

А44А44А4М4А

SU 254 593 A1

Даты

1969-01-01Публикация