СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ ТЕЛ\ПЕРАТУРЫ И ТЕМПЕРАТУРНОЙ ЗАВИСИМОСТИ МЕЖПЛОСКОСТНОГО РАССТОЯНИЯ Советский патент 1970 года по МПК G01N23/207 

Изобретение относится к области приборостроения и автоматизации научных исследований.

Известные способы рентгеноструктурного анализа с автоматической регистрацией температурной зависимости межплоскостного расстояния лутем непрерывного слежения за максимумом интенсивности интерференционной линии сдвоенным счетчиком Гейгера - Мюллера, установленным на рентгеновском дифрактометре, трудоемки и не применимы для изучения быстропротекающих процессов. Кроме того, при изучении структур с более низкой сингонией, чем кубическая, или двухфазных систем, возникают дополнительные трудности, связанные с устройством двух или более следящих систем со счетчиками Гейгега-Мюллера.

Предлагаемый способ не и.меет этих недостатков и отличается от известных тем, что определяют положение максимума интенсивности интерференционной линии на временной оси, наетример, ino изменению знака производной моделирующего напряжения, измеряют и автоматически регистрируют смещение максимума интенсивности линии ьо времени относительно, например, реперного кмлульса под влиянием внещних параметров, пропорциональное, например, в случае кристаллической структуры с кубической симметрией периоду

решетки, и регистрируют одновременно изменения температуры и периода рещетки.

Кроме того, измерения производят по двум каналам и регистрируют одновременно на одном и том же регистрирующем устройстве смещение максимумов интенсивности нескольких интерференционных линий и изменения темпеоатуры. Это .позволяет упростить методику и ускорить анализ результатов измереНИИ.

Сущность предлагаемого способа заключается в определении положения .во времени максимума рентгеновской интерференционной линии, спектр которой получен сканированием

линии щелями, относительно неподвижного детектора излучения. Положение указанного максимума определяется путем моделирования спектра линии импульсо.м напряжения прл помощи интегрирующего устройства, дифференцирования этого импульса и определения положения максимума по изменению знака производной моделирующего напряжения.

В случае абсолютных измерений межплоскостное расстояние определяется измерением

временного интервала между фиксированным во времени контрольным импульсом, соответствующим определенному углу, и максимумом интерференционной линии. При определении изменений межплоскостного расстояния проинтервала меясду двумя соседними максимумами. Регистрируется зависимость а /(т).

В случае олределения зависимости межилоскостного расстояиия от внешних параметров, например температуры, давления и т. д., лента регистрирующего устройства перемещается синхронно с изменением влияющего параметра. Таким образом, непрерывное измерение временных интервалов с преобразованием в аналоговую форму моделирует изменение нараметра решетки в случае кристаллической структуры с кубической симметрией.

В случае более к ристаллических структур, например тетрагональной, гексагональной, а также двух- или многофазных систем, производят измерение по двум или более каналам с применением двух или нескольких детекторов излучения, установленных в местах нахоледения интерференционных линий, например различных фаз.

Предмет изобретения

1. Способ регистрации температуры и температурной зависимости межплоокостиого расстояния путем сканирования интерференционной рентгеновской линии щелями относктельно неподвил ного детектора излучения и измерения распределения интенсивностей и изменений температуры, отличающийся тем, что, с целью упрощения методики и ускорения анализа результатов измерений, определяют положение максимума интенсивности интерференционной линии на временной оси, например, по изменению знака производной моделирующего напряжения, измеряют и автоматически регистрируют смещение максимума интенсивности линии во времени относительно, например, реперного импульса под влиянием внешних параметров, пропорциональное, например, в случае кристаллической структуры с кубической симметрией периоду решетки, и регистрируют одновременно изменения температуры и периода решетки.

2. Споооб по 1П. 1, отличающийся тем,, что, с целью ускорения анализа в случае более кристаллических структур, например, тетрагональной, а та-кже двухфазных систем, производят измерения по двум каналам и регистрируют одновременно на одно.ч и том же регистрирующем устройстве смещение максимумов иитенсивности нескольких интерференционных линий и изменения температуры.