СПОСОБ КОНТРОЛЯ И ДЕФЕКТОСКОПИИ ОДНОТИПНЫХИЗДЕЛИЙ Советский патент 1970 года по МПК G01N27/82 

Известные способы контроля и дефектоскопии однотипных изделий, имеющих скрытые дефекты изделий, например в виде пустот или инородных включений, основанные на использовании рентгеновских лучей, ультразвука, электромагнитных волн, сложны, так как требуют повторения операции для каждой детали.

С целью упрощения процесса контроля контролируемые изделия помещают в ванну с электропроводной жидкостью, пропускают через нее электрический ток, а затем воздействуют на жидкость магнитным полем, которое меняет ее кажущуюся плотность. Пзменяя величину магнитного поля и величину пропускаемого через жидкость тока, добиваются такой кажущейся илотности жидкости, при которой исправные изделия занимают безразличное положение. Валичие дефектов определяют

по изменению положения контролируемых изделий относительно дна ванны.

Предмет изобретения

Способ контроля и дефектоскопии однотипных изделий, имеющих скрытые дефекты, например в виде пустот или инородных включений, отличающийся тем, что, с целью упрощекия процесса контроля, изделие помещают в ванну с электропроводной жпдкостью, пропускают через нее электрический ток, а затем воздействуют на жидкость магннтиым полем для изменения ее кажущейся плотности до достижеиия безразличного положения в ней исправных изделий, и наличие дефектов определяют по изменению положения изделия относительио дна ванны.