Способ определения рельефа и уровня поверхности Советский патент 1978 года по МПК G01F23/288 G01B15/04 

Изобретение относится к испопьзованию агомно-яцерных излучений, в частности, к испопьзованию атомно-яцерных изпучений дпя контроля некоторых параметров доменного процесса и может использоваться в черной металлургии. Из основного авт. св. № 237411 иэвестен способ определения координат репье фа поверхности вещества с использованием атомно-ядерных излучений. Однако при решении ряца задач необходимо контролировать распределение веществ по измеряемой, .поверхности. Например, при технологическом контроле и управлении цоменным процессом необходим контроль распределения ком понентов доменной шихты на колошнике печи. Изобретение позволяет решить эту задачу. Сущность предлагаемого способа зак- лючается в том, что выхоцной сигнал приемника отраженного изпучения при осуществлении измерения коораинат рельефа поверх ности по известному способу дополнительно подвергают спектрометрированию. По резупьтатам спектрометрирования определяют род вещества, лежащего в окрестности , в кагорую в данный момент времени ориентированы источники и приемник изиу- чения, что обеспечивает определение ее коораинат. Результат определения рода вв щества сопосгавояют с координатами измеряемой в данный момент точки поверхности, которые вычисляют по углам ориентации источника и приемника. Так как при намерении координат репьефа по известному способу облученную и приемную зоны пере мещают во взаимно-ориентироваЕШом состо янии через все точки контролируемого участка поверхности, в результате предлагаемым способом получают данные о распрецелении вещестр различного состава .по всей исследуемой поверхности. Формула изобретения

3I-3011034

веществ различного сосгава по измё(9- ставе вещества, полученные по резупьтамой поверхности, сигнап приемника отра-там спектрометрирования, сопоставп$потС

женного излучения допопнитепьно поцвер- одновременно измеренными коорцинатами гают спектрометрированию и цанные о со- репьефа поверхности.