ИКРОСТРУКТУРКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1972 года по МПК G01N1/32 

Известен способ микроструктурпого и.сслсдования пнзкоте.мчтературяой металлографии материалов При ниаких температурах. Однако oiH не позволяет осуществлять прялюе наблюдение за .кинетикой из меиения строения. .материалов.

Для получения тгрямых зконеримептальных данных о Кинетике изменения строения материал01В три дефор-мировании их пол1епдают в среду .сниженного газа и наблюдение за разви1вающимся «а (ИоверхностИ рельефом ведут непосредственно через прозрачный слой этого газа.

Способ позволяет изучать особенности лшханизма деформации/, фазовых и структурных превращений IB .металлах и сплавах при различных тем1пературах, определяемых выбором хладагента (сжиженного газа).

Иоследуе.цый образец с .приготовленным на тем металлографическим шлиф.ом укрепляют Оплифом вниз) в горизонтально расположеиных захватах нагружающего устройства, позволяющего, например, проводить одноосное растяжение, и погружают в низкотемлературную рабочую камеру типа сосуда Дьюара, содержащую сжиженный газ (азот, аргон, воздух и т. д.). После прекращения интенсивного кипения сжиженного газа (при выравнивании температур образца, деталей механизма нагру:-кен 1я и хладагента) производят механическое нагружение и через прозрачный слой жидкого газа и :мотр01вые стекла осуществляют непосредственное наблюдение (фотографирование или киносъемку полированной поверхности образца с помощью 1металлографического ми1кроскопа).

Предмет изобретения

Способ микроструктурного исследования материалов при «нэки х темпе ратурах, отлиia oti{uuc,4 тем, что, с целью получения прямых экспериментальных данных о кинетике изменения строеипя .материалов при деформировании, их помещают в среду сжиженного газа и наблюдение за разВИ1вающи гся на поверхности рельефом |Ведут непосредственно через прозрачный слой этого газа.