СПОСОБ СЪЕМКИ РЕНТГЕНОВСКИХ ТОПОГРА.ММ Советский патент 1972 года по МПК G01N23/207 

Описание патента на изобретение SU329453A1

Изобретение относится к способам рентгенографического анализа кристаллов, в частности к способу исследования реальной структуры кристаллов путем рентгеновской трансмиссионной топографии.

Известны способы съемки рентгеновских топограмм, основанные на том, что интенсивность дифрагированных рентгеновских лучей в области совершенного кристалла и вблизи его дефектов различна. В результате на фотопленке дифрагированный луч создает картину (топограмму), контраст которой определяется дефектностью образца.

Поскольку обычно используемое характеристическое излучение состоит из двух спектральных линий (так называемый Ка-дублет), то на топограмме можно получить раздвоенное изображение дефектов. Для устранения этого образец освещают узким пучком, расходимость которого меньше углового расхождения составляющих дублета, причем образец выводят в отражающее положение с помощью прецизионного поворотного устройства. В результате каждая составляющая дублета отражается раздельно.

При таком выведении образца в отрал ающее положение предъявляются высокие требования к точности поворотного устройства камеры и существенно усложняется эксперимент.

Целью изобретения является упрощение способа съемки топограмм и исключение прецизионного поворотного устройства для разделения Кз-дублета и, кроме того, обеспечение использования сиособа в камерах для съемки по методу аномального прохождения.

Обычно съемку по методу аномального прохождения проводят без разделения Кз -дублета, используя рентгеновскую трубку с линейным фокусом. Вследствие больщой горизонтальной расходимости первичного пучка выводить образец в отражающее положение нетрудно, и камера не 1меет устройств для прецизионного поворота образца вблизи брэгговского положения.

Для съемки с разделением Ki-дублета необходимо уменьшить горизонтальную расходимость первичного иучка до величины, меньшей углового расхождения составляющих дублета. Для осуществления такой съемки предлагается способ, при котором используется рентгеновская трубка с острым точечным фокусом. Способ отличается тем, что Кз,-компоненту дублета выделяют с помощью узкой

выходной щели коллиматора первичного пучка, который перемещают с помощью механизма возвратно-поступательного движения. Способ поясняется фиг. 1 и 2. Сначала (фиг. 1) съемка производится с

|)а. При этом вследствие большой горизонтальной расходимости первичного пучка отражение Kd -дублета характеристического излучения возможно в широком диапазоне углов, а именно в пределах всего угла расходимости первичного пучка. Благодаря этому можно зарегистрировать отражение без высокой точности поворотного устройства.

Далее, зафиксировав образец в отражающем положении, сужают выходную ш,ель коллиматора, так чтобы горизонтальная расходимость первичного пучка была достаточной для разделения Ка-дублета (фиг. 2). Путем возвратно-поступательного перемеш,ения шели добиваются отражения образцом только одного компонента К -дублета. После этого производят съемку при одновременном сканировании образца и пленки.

Предмет изобретения

Способ съемки рентгеновских топограмм путем выведения образца в положение отражения Кз -дублета характеристического излучения точечного источника рентгеновских лучей, огличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности, Ка,-компоненту дублета выделяют с помош,ью узкой выходной щели коллиматора первичного пучка, который перемещают с помощью механизма возвратно-поCTvnaтельного движения.

Похожие патенты SU329453A1

название год авторы номер документа
Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов на отражение 1983
  • Чернов Михаил Александрович
  • Петрашень Павел Васильевич
  • Левчук Богдан Иосифович
  • Комяк Николай Иванович
  • Дорожкин Сергей Иванович
  • Гусев Константин Александрович
SU1138717A1
Рентгеновский спектрометр 1980
  • Петряев Владимир Васильевич
  • Скупов Владимир Дмитриевич
SU920480A1
Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм 1985
  • Чернов Михаил Александрович
  • Дегтярев Юрий Львович
  • Разумовский Александр Юрьевич
  • Никольский Иван Александрович
SU1317342A2
Способ рентгенографического исследования монокристаллов 1981
  • Ингал Виктор Натанович
  • Минина Людмила Викторовна
  • Мотора Нина Семеновна
  • Мясников Юрий Гиларьевич
  • Соловейчик Мира Борисовна
  • Утенкова Ольга Владимировна
  • Финкельштейн Юрий Наумович
SU994967A1
Способ кососимметричных съемок в широком рентгеновском пучке по методу аномального прохождения 1983
  • Белоцкая Алла Алексеевна
  • Тихонов Леонид Владимирович
  • Харькова Галина Васильевна
SU1151873A1
Устройство для получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов 1981
  • Ведерников Юрий Николаевич
  • Гаврилова Людмила Леонидовна
  • Мотора Нина Семеновна
  • Смирнова Зинаида Федоровна
  • Соловьева Елена Васильевна
  • Мясников Юрий Гелларьевич
  • Есин Владимир Олегович
  • Гундырев Вячеслав Михайлович
SU998928A2
Способ контроля распределения структурных неоднородностей по площади монокристалла и устройство для его осуществления 1984
  • Мингазин Т.А.
  • Бондарец Н.В.
  • Зеленов В.И.
  • Лейкин В.Н.
SU1225358A1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ диФг<АКционнь1хТОПОГРАММ 1971
SU300817A1
Устройство для получения топограмм кристаллов 1972
  • Ефанов В.П.
  • Комяк Н.И.
  • Лютцау В.Г.
  • Рабодзей Н.В.
SU445364A1
Рентгеновский спектрометр 1979
  • Скупов Владимир Дмитриевич
SU857816A1

Иллюстрации к изобретению SU 329 453 A1

Реферат патента 1972 года СПОСОБ СЪЕМКИ РЕНТГЕНОВСКИХ ТОПОГРА.ММ

Формула изобретения SU 329 453 A1

«2

SU 329 453 A1

Даты

1972-01-01Публикация