Изобретение относится к способам рентгенографического анализа кристаллов, в частности к способу исследования реальной структуры кристаллов путем рентгеновской трансмиссионной топографии.
Известны способы съемки рентгеновских топограмм, основанные на том, что интенсивность дифрагированных рентгеновских лучей в области совершенного кристалла и вблизи его дефектов различна. В результате на фотопленке дифрагированный луч создает картину (топограмму), контраст которой определяется дефектностью образца.
Поскольку обычно используемое характеристическое излучение состоит из двух спектральных линий (так называемый Ка-дублет), то на топограмме можно получить раздвоенное изображение дефектов. Для устранения этого образец освещают узким пучком, расходимость которого меньше углового расхождения составляющих дублета, причем образец выводят в отражающее положение с помощью прецизионного поворотного устройства. В результате каждая составляющая дублета отражается раздельно.
При таком выведении образца в отрал ающее положение предъявляются высокие требования к точности поворотного устройства камеры и существенно усложняется эксперимент.
Целью изобретения является упрощение способа съемки топограмм и исключение прецизионного поворотного устройства для разделения Кз-дублета и, кроме того, обеспечение использования сиособа в камерах для съемки по методу аномального прохождения.
Обычно съемку по методу аномального прохождения проводят без разделения Кз -дублета, используя рентгеновскую трубку с линейным фокусом. Вследствие больщой горизонтальной расходимости первичного пучка выводить образец в отражающее положение нетрудно, и камера не 1меет устройств для прецизионного поворота образца вблизи брэгговского положения.
Для съемки с разделением Ki-дублета необходимо уменьшить горизонтальную расходимость первичного иучка до величины, меньшей углового расхождения составляющих дублета. Для осуществления такой съемки предлагается способ, при котором используется рентгеновская трубка с острым точечным фокусом. Способ отличается тем, что Кз,-компоненту дублета выделяют с помощью узкой
выходной щели коллиматора первичного пучка, который перемещают с помощью механизма возвратно-поступательного движения. Способ поясняется фиг. 1 и 2. Сначала (фиг. 1) съемка производится с
|)а. При этом вследствие большой горизонтальной расходимости первичного пучка отражение Kd -дублета характеристического излучения возможно в широком диапазоне углов, а именно в пределах всего угла расходимости первичного пучка. Благодаря этому можно зарегистрировать отражение без высокой точности поворотного устройства.
Далее, зафиксировав образец в отражающем положении, сужают выходную ш,ель коллиматора, так чтобы горизонтальная расходимость первичного пучка была достаточной для разделения Ка-дублета (фиг. 2). Путем возвратно-поступательного перемеш,ения шели добиваются отражения образцом только одного компонента К -дублета. После этого производят съемку при одновременном сканировании образца и пленки.
Предмет изобретения
Способ съемки рентгеновских топограмм путем выведения образца в положение отражения Кз -дублета характеристического излучения точечного источника рентгеновских лучей, огличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности, Ка,-компоненту дублета выделяют с помош,ью узкой выходной щели коллиматора первичного пучка, который перемещают с помощью механизма возвратно-поCTvnaтельного движения.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов на отражение | 1983 |
|
SU1138717A1 |
Рентгеновский спектрометр | 1980 |
|
SU920480A1 |
Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм | 1985 |
|
SU1317342A2 |
Способ рентгенографического исследования монокристаллов | 1981 |
|
SU994967A1 |
Способ кососимметричных съемок в широком рентгеновском пучке по методу аномального прохождения | 1983 |
|
SU1151873A1 |
Устройство для получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов | 1981 |
|
SU998928A2 |
Способ контроля распределения структурных неоднородностей по площади монокристалла и устройство для его осуществления | 1984 |
|
SU1225358A1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ диФг<АКционнь1хТОПОГРАММ | 1971 |
|
SU300817A1 |
Устройство для получения топограмм кристаллов | 1972 |
|
SU445364A1 |
Рентгеновский спектрометр | 1979 |
|
SU857816A1 |
«2
Даты
1972-01-01—Публикация