УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК Советский патент 1972 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU329483A1

Изобретенне относится к радноэлектроинои технике и может быть использовано в отраслях нромышленностн, выпускающих и исиользующих диэлектрические пленки.

Известные устройства для измерения параметров тонких диэлектрических пленок, например диэлектрической проницаемости и Iaiirenca потерь, содержащие два электрода с расноложенной между иимн ) пленкой, имеют невысокую точность измерения.

Целью изобретения является устранение этого недостатка.

Поставленная цель достигается тем, что рабочая поверхность одного нз электродов нокрыта слоем токопроводящей резины, а рабочая поверхпость другого выполнена в фор.ме выпуклого щарового сегмента.

Па чертеже представлена схема предлагаемого устройства.

Пзмеряе.мый образец пленки / помеол,ен между нижним электродом, представляющим собой пластину 2 из токопроводяще резины, закреплеппую на металлической подложке 3,

и верхни.м металлическим электродом 4, рабочая новерхность которого имеет сферическую форму. Подложка иомещается в паз изоляционной прокладки 5, а верхний металлический электрод 4 закреилен на щтоке 6, на i5epxi:eN конце которого установлена ручка 7. Калиброванная пружина 8 обесиечивает 1;с(;Г) давленне между электродами. П-С детали усгроПстна c iOHTHpoi a;ii)i на (-)о11и1 пннн 9.

П р е д м е т и з о б р е т е и и я

Устройство для измерен 1я иараметров тоикнх диэлектрнческнх нленок, наирнмер диэлектрнческоГ ироипцаемости и тангенса угла потерь, содержаи1,ее два электрода с расположенной между ними измеряемой нлеикой, о --1ичаю1цссся тем, что, с целью иовьииення точностн измерения, рабочая поверхность одного из электродов иокрыта слоем токоироводящей резины, а рабочая поверхность другого выполнена в форме выпуклого шарового сегмента.

Похожие патенты SU329483A1

название год авторы номер документа
ТОПЛИВНЫЙ ЭЛЕМЕНТ С МЕМБРАНОЙ, АРМИРОВАННОЙ ВОЛОКНОМ 1996
  • Хокадэй Роберт Г.
RU2146406C1
ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ ПЛЕНОК СЛОЖНЫХ ОКСИДОВ 2005
  • Сухова Галина Ивановна
  • Патрушева Тамара Николаевна
  • Чудинов Евгений Алексеевич
  • Меньшиков Виктор Васильевич
  • Патрушев Валерий Васильевич
RU2282203C1
Способ измерения напряжения на фотополупроводниковом слое 1982
  • Макарычев Вадим Александрович
SU1046737A1
Накладной емкостный датчик для контроля толщины полимерных пленок 1980
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Свиридов Николай Михайлович
  • Иванов Борис Александрович
  • Свиридов Анатолий Михайлович
SU953445A1
Первичный преобразователь гигрометра точки росы 1989
  • Небосенко Анатолий Николаевич
  • Небосенко Юрий Анатольевич
  • Репа Федор Михайлович
  • Мироненко Виктор Павлович
  • Харченко Иван Иванович
SU1711057A1
Датчик влажности и температуры 1979
  • Воронин Сергей Тимофеевич
  • Ларичева Галина Васильевна
SU989422A1
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ДАТЧИК МЕТАНА 2016
  • Каминский Владимир Васильевич
  • Соловьев Сергей Михайлович
  • Казаков Сергей Алексеевич
  • Шаренкова Наталия Викторовна
RU2623658C1
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ ПОЛЕВОГО КМОП ТРАНЗИСТОРА, СОЗДАННОГО С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ДИЭЛЕКТРИКОВ НА ОСНОВЕ ОКСИДОВ МЕТАЛЛОВ С ВЫСОКИМ КОЭФФИЦИЕНТОМ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ЗАТВОРОВ, И СТРУКТУРА ПОЛЕВОГО КМОП ТРАНЗИСТОРА 2008
  • Зенкевич Андрей Владимирович
  • Лебединский Юрий Юрьевич
  • Матвеев Юрий Александрович
  • Неволин Владимир Николаевич
RU2393587C2
ЧАСТОТНЫЙ ФИЛЬТР СВЧ СИГНАЛА НА МАГНИТОСТАТИЧЕСКИХ ВОЛНАХ 2017
  • Садовников Александр Владимирович
  • Грачев Андрей Андреевич
  • Бегинин Евгений Николаевич
  • Шешукова Светлана Евгеньевна
  • Шараевский Юрий Павлович
  • Никитов Сергей Аполлонович
RU2666968C1
ЯЧЕЙКА МАТРИЦЫ ПАМЯТИ 2004
  • Мордвинцев В.М.
  • Кудрявцев С.Е.
  • Левин В.Л.
RU2263373C1

Иллюстрации к изобретению SU 329 483 A1

Реферат патента 1972 года УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК

Формула изобретения SU 329 483 A1

SU 329 483 A1

Даты

1972-01-01Публикация