УСТРОЙСТВО для КОНТРОЛЯ МИКРОСХЕМ Советский патент 1972 года по МПК H05K1/18 

Изобретение относится к средствам контроля параметров в электронике.

Известны устройства для контроля параметров полупро-водниковых приборов и .микросхем, состоящие из двух датчиков-щупов, каждый из которых может перемещаться с .помощью ручного манИПулятора или двухкоординатного стола с программным управлением. Известны также устройства группового 1контакта, состоящие из система автономно подпружиненных датчиков. В таких устройствах ненадежен контакт датч яков-щупов.

Целью изобретения является создание надеж1ного контакта между датчиком-щупом и контролируемой точкой микросхемы. Это достигается тем, что под основанием размещен электромагнит.

На чертеже доказано предлагаемое устройство, общий видУстройство состоит из датчиков-щупов 1 из магнитного материала, которые расположены

в направляющих отверстиях- диэлектрической пластины 2, основания 3 и электромагнита 4, размещенного под осно-ваинем. Для контроля параметров микросхемы 5 последняя укреплена на основании. -Положение микросхемы относительно датчиков-щупов регулируется перемещением основания.

При включении питания электромагнита датчик1и-щупы прижимаются своими контактами к контролируемым точкам микросхемы.

Предмет изобретения

Устройство для контроля микросхем, содержащее основание для установки микросхем, датчики-щупы, вьшолнен.ные из магнитного материала и расположенные в направляющих отверспиях диэле1ктрической пластины, отличающееся тем, что,.с целью создания надежного контакта между датчиком-щуиом и контролируемой точкой микросхемы, под (хноваиием размещен электромагнит.