СПОСОБ ОТБРАКОВКИ РЕЗИСТОРОВ ПО ВЕЛИЧИНЕ ТЕМПЕРАТУРНОГО КОЭФФИЦИЕНТА СОПРОТИВЛЕНИЯ Советский патент 1972 года по МПК H01C17/00 G01R27/02 

Изобретение относится к области электроизмерительной техники.

Известен спосвб отбраковки резисторов по температурному коэффициенту сопротивления (ТКС) путем нагрева их в термостате с последующим сравнением сопротивления при двух температурах: в нормальных условиях /окруж и при температуре окруш + 80°С.

Нагрев в термостате обусловливает длительность этого процесса, необходимость применения сложной терморегулирующей и измерительной аппаратуры, блока сопровождающей памяти и не обеспечивает 100%-ной отбраковки резисторов, так как при таком способе возможно осуществить только выборочный контроль.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что вместо термостата используется импульс электрического тока заранее определенной длительности и мощности, которым нагревают слой резистивной пленки, а не все тела резистора, как в известном способе.

Количество Тепла, выделенное на резисторе при прохождении через него импульса электрического тока, равно

Q 0,24-I-U-t

Из формулы видно, что для обеспечения выделения на резисторе одного и того же количества тепла необходимо в зависимости от величины тока, протекающего через резистор и определяемого номиналами резистора, обеспечить определенное время протекания импульса тока.

Предмет изобретения

Способ отбраковки резисторов ло величине .температурного коэффициента сопротивления резистивного слоя при разных температурах, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности и точности измерения, слой резистивной пленки нагревают импульсом электрического тока, длительность которого пропорциональна величине активного сопротивления контролируемого резистора, и по отклонению величины сопротивления контролируемого резистора от номинала судят о его годности.