ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОТВЕРДОСТИ МАТЕРИАЛОВ ПРИ ВЫСОКИХ ТЕМПЕРАТУРАХг...?г«;;^и-!1лНй-П:ОНАBHBJiHOTe-cA Советский патент 1972 года по МПК G01N3/54 

Прибор относится к области механических испытаний материалов при высоких температурах и может найти применение в точном машиностроении.

Известен прибор для определения микротвердости материалов при высоких температурах, содержащий вакуумную камеру, стол, установленный внутри вакуумной камеры, рычажный механизм нагружения с индентором, привод перемещения индентора, микроскоп и нагревательное устройство.

Предлагаемый прибор для повышения точности при измерении твердости в любой выбранной на образце точке снажен дополнительным микроскопом, установленным на камере с возможностью наблюдения за внедрением индентора, ползушкой с направляющими для стола, рейкой, закрепленной на столе, приводом перемещения стола, включающим два коаксиально установленных валика с лимбами, внутренний из которых жестко закреплен в ползушке и сопряжен с лимбом через резьбовое соединение, а внешний - жестко соединен с другим лимбом и через шестерню связан с рейкой стола.

На фиг. 1, 2 дан предлагаемый прибор, продольный и поперечный разрезы; на фиг. 3 - механизм координатного перемещения образца; на фиг. 4 - механизм нанесения отпечатков.

Прибор состоит из вакуумной камеры / с крышкой 2. В корпусе камеры размещены механизм координатного перемещения образца и механизм нанесения отпечатков. На крышке камеры крепятся микроскоп 3, служащий для выбора места испытания на поверхности образца и измерения отпечатков, и увеличивающее оптическое устройство 4, обеспечивающее контроль за работой механизма нанесения отпечатков.

Механизм перемещения образца во взаимноперпендикулярных направлениях состоит из стола 5 с рейкой в, ползушки 7 и основания 5.

На столе установлена стойка 9, к которой гайкой // крепится испытываемый образец 10. Нагрев образца осуществляется нагревателем 12. Управление перемещением координатного столика расположено вне вакуумной ка.меры и осуществляется лимбами 13 и 14. На валике 15 жестко закреплены лимб 13 и шестерня 16, находящаяся в зацеплении с рейкой 6. Валик 17 с одной стороны жестко закреплен в ползущке 7, а на другой его стороне на резьбе установлен лимб 14.

Механизм нанесения отпечатков состоит из индентора 18, закрепленного в направляющей 19. Направляющая шарнирно соединена с рычагом 20 один конец которого опирается на нож 2}, шарнирно соединенный с кронштей ном 21. а на другом конце рычага подвешивается груз 2/ Подъем и опускание индентора осуществляется штоком 24, опирающимся на кулачок 25 исполнительного механизма 26. .Микровыключатели 27 и 28 служат для включения и выключения исполнительного механизма. Прибор работает следующим оораз ом. Под микроскопом с помощью лимоов 16 и 14 находят интересующую точку на образце. При повороте лимба 13 стол перемещается перпендикулярно к оси валика 15. При повороте лимба //валик И перемещает ползушку с установленным на ней столом вдоль своей с устанивлсппоми ..с ..-. ртоп пе- ,-г..„ „,,T«Q /.Ч ня .ЯбО° СТОЛ пеоси. При повороте лимоа /5 на 3bU стол пе ремещается от микроскопа Включением кнопки «пуск (не показана к включением книипп v, .лачок 25, сидящий на выходном валу исполнительного механизма ПР-1, поворачивается и опускает шток 24. При этом рычаг 20 опускается, и индентор 18 вдавливается в образец. Скорость опускания индентора может ме--Ап, щр „../гР«- ланяться в пределах от 0,01 до 0,15 лш/сек. Даняться в пределах от 0,01 до 0,15 мм/сек Да лее микровыключатель 27 включает реле вре ОТ -птл пт(тт о ОТ ПАЯР Rnf мени РВЧ-2, и исполнительный механизм останавливается. Длительность вдавливания индентора может поддерживаться в пред елах 8-240 сек. После заданной выдержки ооразца под нагрузкой срабатывает реле времени и включает исполнительный механизм, котоый поднимает индентор в исходное положеие а микровыключатель 28 останавливает сполнительный механизм. Таким образом, процесс нанесения отпечатка индентора на образце автоматизирован. Далее при повороте лимба 13 на 360° отпечаток попадает в фокуС микроскопа, с помощью которого измеряют твердость и микротвердость образца. Предмет изобретения Прибор для определения микротвердости i 1 UriV-V-}-/ ..4.-,-,,,, тл-ж«-ГТОП Я Y fO ЯРПматериалов при высоких температурах, содержащий вакуумную камеру, стол, установленный внутри вакуумной камеры, рычажный нагружения с индентором, привод перемещения индентора, микроскоп и нагреваяльное устройство, отличающийся тем, что, с це1ью увеличения точности при измерении твердости в любой выбранной на образце точке, он снабжен увеличивающим оптическим устройством, установленным на камере с возможностью наблюдения за внедрением индентора, ползушкой с направляющими для Д Fзакрепленной на столе, привоперемещения стола, включающим два „а сиально установленных валика с лимбавнутренний из которых жестко закреплен ползуц1ке и сопряжен с лимбом через резьсоединение, а внешний жестко соединен лимбом и через шестерню связан с с Дру

Фи.1

Z2

if

21 ,

0.

Фиг