СПОСОБ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА ОБРАЗЦОВ Советский патент 1973 года по МПК G01N23/222 G01V5/00 

1

Изобретение относится к нейтронному активационному анализу, в частиости, к его проведению на установках «Нейтрон-2, нейтронном размножителе (HP) и других, где используются представительные навески проб или отбитые массы.

При навесках до 100 г. и более, используемых при проведении нейтронного активационного анализа на установках «Нейтрон-2, HP и других, часто на результаты анализа влияет состав проб. В особенности это относится к анализу пород, в которых могут иметь место значительные вариации содержаний сильно поглощающих .нейтроны элементов, таких, как бор, кадмий, хлор. Вариации элементного состава приводят « разной степени возмущения нейтронного поля пробами в зоне облучения, причем эффект может достигать 50 отн. % по сравнению с эталонными пробами. В связи с этим невозможен подбор единых эталонов для анализа проб (кернов) даже в пределах одной скважины месторождения.

Известные способы проведения анализа на установках «Нейтрон-2, HP и других не предусматривают учета степени возмущения нейтронного поля. В результате этого обнаружены систематические ошибки в элементном определении.

Цель изобретения - устранение систематических ошибок, связанных с вариациями элементного состава, при проведении нейтронного активационного анализа представительных проб.

Это достигается тем, что исследуемый образец облучают одновременно с эталонным диском например, алюминиевым, обеспечивающим учет возмущения нейтронного поля образцом, и по результатам независимых измерений активности образца и диска судят о концентрации определяемого элемента в образце.

Для учета степени возмущения нейтронного поля вместе с анализируемой пробой облучают диски, располагаемые вне пробы или внутри нее, которые могут быть изготовлены из веществ, слабо поглощающих нейтроны независимо от хода сечения поглощения с энергией нейтронов, например, алюминия, ванадия, марганца. Толщину и форму дисков подбирают та:ким образом, чтобы наведенная активность диска обеспечивала требуемую статистическую точность измерений.

После облучения регистрируют раздельно наведенную активность пробы и диска. По на(Веденной активности диска вычисляют коэффициент возмущения нейгронного поля, равный отношению наведенной активности диска,

облученного с пробой к активности диска, об3лученного с эталоном. Исправленное значение наведенной активности пробы находят путем деления измеренной активности пробы на коэффициент возмущения нейтронного поля. Исправленное значение наведенной актив-5 ности пробы сравнивают затем со значением наведенной активности эталона и отсюда вычисляют содержание определяемого элемента. Эксперименты показали, что такой способ учета F позволяет получить точные результа-Ю ты анализа в различных по химическому соетаву пробах. 4 Предмет изобретения Способ элементного анализа образцов методом нейтронной активации, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности анализа, исследуемый образец облучают одновременно с эталонным диском например, алюминиевым, обеспечивающим учет возмущения нейтронного поля образцом, и по результатам независимых измерений активности образца и диска судят о концентрации определяемого элемента в образце.