СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ ДИФРАКЦИОННОЙ КАРТИНЫ Советский патент 1973 года по МПК H01J37/26 

1

Изобретение относится к технике электронно-структурного исследования твердых тел методом медленных электронов.

Известен способ регистрации дифракционной картины, состоящий из качественного визуального наблюдения дифракционной картины и количественного измерения интенсивности дифракционных рефлексов и фона.

Однако известный способ не обеспечивав г непрерывное наблюдение электронограммы и одновременное измерение в любой анализируемой точке дифракционного .поля.

Целью изобретения является обеспечение непрерывного наблюдения электронограммы н одновременного измерения интенсивности в любой анализируемой точке дифракционного поля.

Для этого вращают полусферический флуоресцирующий экран вокруг оси пушки медленных электронов, а коллектор электронов, например цилиндр Фарадея, -перемещают вдоль оси, проходящей от середины к краю экрана, до совмещения с анализируемой точкой дифракционного поля.

На чертеже приведена схема устройства, позволяющего реализовать предложенный способ.

Устройство содержит поворотный сферический флуоресцирующий экран 1 со щелью, против которой помещен коллектор 2. Коллектор, электрически изолированный от экрана 1, поворачивается вместе с экраном и, кроме того, перемещается вдоль щели. Исследуемый кристалл 3 бомбардируется пучком медленных электронов, формируемых пущкой 4. Стрелками показаны направления вращения экрана и перемещения коллектора 2.

Для абсолютного измерения интенсивности анализируемой области наблюдаемой дифракционной картины флуоресцирующий экран 1 поворачивают вокруг оси пушки 4 медленных электронов до совмещения этой области со щелью в экране 1, а затем в эту область помещают коллектор 2.

Предмет изобретения

Способ регистрации дифракционной картины, например в электронографе медленных электронов, включающий визуальное наблюдение дифракционной картины на флуоресцирующем экране и количественное измерение

интенсивности дифракционного лоля, отличающийся тем, ЧТО, с целью обеспечения непрерывного наблюдения электронограммы и одновременного пз epeния интенсивности в любой анализируемой точке дифракционного поля, вращают полусферический флуоресцирую3

щий экран вокруг оси пушки медленных электронов, а коллектор электронов, например цилиндр Фарадея, перемещают вдоль оси, проходящей от середины к краю экрана, до совмещения с анализируемой точкой дифракционного поля.