СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ Советский патент 1974 года по МПК G01K7/04 

Изобретение может быть использовано для измерения температуры, например, в плазменных устройствах. Известен способ измерения распределения температуры, включающий определение температуры по электрическому сопротивлению образца путем пропускания по нему электрического тока. Этот способ недостаточно точен. С целью повышения точности измерения распределения температуры изменяют последовательно во времени частоту пропуснаемого по образцу электрического тока, определяют в каждый из выбранных моментов распределение потенциалов по длине образца и по этим данным и толщине скнн-слоя судят о распределении температуры в образце. Способ осуществляется следующим образом. По исследуемому образцу пропускают электрический ток частотой fi от независимого источника, электрически развязанного от сиетемы электрического питания образца. Измеряют силу тока /, пропускаемого через исследуемый образец, н потенциалы V в ряде точек ii, /2, ..., In по длине образца. По данным измерений строят кривую распределения потенциалов по длине, т. е. (I) и вычисляют ироизводные -. Удельные электрические соdlпротивления участков образца li-/2, , -, In-i-In определяют на глубине 6i по зависимости 5, dV Т rff где S - плонл,адь кольцевого поперечного сечения образца, соответствующая глубине проникновения 6i в толщу образца электрического тока частотой /i. При этом глубину нроннкновения определяют по известным зависи/„6,62-10 мостям ианример, для меди о - Для определення распределения температуры на другой глубине 62 проводят те же операции в указанной последовательности при другой величине частоты электрического тока /2, соответствующей величине fioПредмет изобретения Способ измерения распределения температуры, включающий определение темнературы но электрическому сопротивлению образца путем пропускания по нему электрического тока, о тл и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью повыщения точности, ток изменяют по частоте последовательно во времени, ,в каждый из выбранных моментов определяют раснределение потенциалов по длине образца н по этим данным и толщине скнп-слоя судят о распределении температуры в образце.