СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПРОЗРАЧНОГО ПЛЕНОЧНОГО ПОКРЫТИЯ НА ИЗДЕЛИИ Советский патент 1974 года по МПК G01B11/06 

1

Изобретение относится к технике измерения, а именно к приборам, предназначенным для определения толщины лаковых и других прозрачных покрытий на древесине, полимерах и т. п.

Известен способ измерения толщины прозрачного пленочного токрытия на изделии, заключающийся в том, что устанавливают на изделИИ двойной микроскоп, основанный на методе cseTOiBoro сечения, и наводят на резкость линии отражения света от поверхностей покрытия.

Известный способ имеет следующие недостатки. Измерение является трудоемким из-за объема работ по совмещению сетки окуляра последовательно с двумя линиями отражения света и двойного отсчета положения сетки (по шкале окуляра и по лимбу насадки). Причем эта работа является очень утомительной, поскольку требует большого напряжения зрения. При наводке сетки на видимые линии и при отсчете показаний по шкале окуля-ра часто применяют вспомогательный прием дополнительного подсвечивания измеряемой поверхности объекта, что еще больше увеличивает затраты времени на .измерение. Низкая точность измерения из-за отсутствия контраста между сеткой и наблюдаемым фОНом, вследствие чего невозможно установить линии сетки микрометричеокой насадки на границе между переходом линии-фон.

С целью повышения производительности и точности измерения по предлагаемому способу закрывают двумя задвижными шторками зоиу, .находящую1ся за пределами лишний отражения света, пропускают через образовавшуюся шель между шторками калиброванный поток света, и по изменению тока в измерительиом приборе судят об измеряемой толщине.

На чертеже схематично изображено устройство, реализующее предлагаемый способ.

Устройство состоит из экрана /, задвижных шторок 2, калиброванного по мощности источнИка света 3, фотодатчика 4 с измерительным прибором 5, поворотного зеркальца 6.

Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.

На экране / устанавливают четкие линии отражения света от поверхностей прозрачного покрытия 7 объекта 8. Затем (вручную или автоматизированньвм способом) закрывают штор.ками 2 часть экрана, т. е. ту зону, которая находится за пределами линий отражения света. Этот прием выполняют значительно точнее известных перемещений сетки в микрометрической насадке, ибо непрозрачная шторка 2 выглядит контрастно и на неравномерно освещенном фоне экрана 1. После этого поворачивают зеркало 6 из положения I в положение II и через образовавшуюся щель между шторками 2 пропускают поток света калиброванного источника 3 на чувствительный элемент фотодатч,И(ка 4. То,к, возникший от освеш,ения фотодатчика 4, вызывает отклонение стрел.ки измерительного прибора 5, по положению которой относительно шкалы (шкал может быть несколько в зависи мости от характеристик материала прозрачного покрытия) отсчитывают толщину .пленочного покрытия 7 объекта 8 непосредственно в микронах.

Предмет изобретения Способ измерения толщины прозрачного

плеиочйого покрытия на .изделии, заключаю-щийся в том, что устанавливают на изделии двойной микроскоп, основанный на методе светового сечения, и наводят на рез1кость линии

отражения света от поверхностей покрытия, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности и точности измерения, закрывают двумя задвижными шторками зону,, находящуюся за пределами линий отражения

света, пропускают через образовавшуюся щель между шторками калиброванный поток света, и по изменению тока в измерительном приборе микроскопа судят об измеряемой толщине.